| Tên thương hiệu: | Hoan |
| Số mô hình: | HACC102S80V750KGD |
| MOQ: | 10 miếng |
| Điều khoản thanh toán: | T/T,L/C,D/A,D/P |
HACC102S80V750KGD - Tụ MOS có độ trôi nhiệt gần bằng không 1000 pF, 80V, KGD đã dò trên tấm wafer, Chip Lớp đơn
Nói tóm lại: HACC102S80V750KGD là tụ MOS lớp đơn có thể hàn dây, định mức 1000 pF ±10% ở 80V DC với điện môi COG/NPO có độ trôi nhiệt gần bằng không. Mỗi chip đều được dò trên tấm wafer 100% và được vận chuyển dưới dạng Known Good Die (KGD) để đạt năng suất lắp ráp cao trong các mạch RF, viễn thông và công nghiệp nhiệt độ cao.
1. Độ trôi nhiệt gần bằng không & Hệ số nhiệt độ cao
2. Chất lượng 100% dò trên tấm wafer & KGD (Known Good Die)
| Thông số | Giá trị | Điều kiện kiểm tra |
| Điện dung danh định | 1000 pF ±10% | 1 MHz, 1.0 Vrms, 25°C |
| Điện áp DC định mức | 80V | Liên tục, -55°C đến +125°C |
| Điện áp chịu đựng điện môi | >200V (>2.5× định mức) | Giữ 5 giây, kiểm tra 100% |
| TCC | 0 ±30 ppm/°C | COG/NPO, -55°C đến +125°C |
| Dòng rò | <10 nA @ 25°C; <100 nA @ 125°C | 80V DC |
| Hệ số Q | >2000 @ 1 MHz | Điển hình |
| ESR @ 1 GHz | <0.1 Ohm | Đã loại bỏ |
| ESL chip nội tại | <0.05 nH | Đã loại bỏ S-parameter |
| Kích thước chip | 0.75 × 0.75 × 0.20 mm | ±25 µm |
| Nhiệt độ hoạt động | -55°C đến +125°C | Toàn bộ tham số |
| Chất lượng | 100% dò trên tấm wafer, KGD | Sàng lọc cấp độ tấm wafer |
![]()