| نام تجاری: | Hoan |
| شماره مدل: | HACC102S80V750KGD |
| MOQ: | 10 عدد |
| شرایط پرداخت: | T/T، L/C، D/A، D/P |
HACC102S80V750KGD - خازن MOS با رانش حرارتی نزدیک به صفر 1000 پیکوفاراد، 80 ولت، KGD کاوش شده روی ویفر تک لایه
به طور خلاصه: HACC102S80V750KGD یک خازن MOS تک لایه قابل سیمبندی است که با ظرفیت 1000 پیکوفاراد ±10% در ولتاژ 80 ولت DC و دیالکتریک COG/NPO با رانش حرارتی نزدیک به صفر رتبهبندی شده است. هر تراشه 100% روی ویفر کاوش شده و به عنوان Known Good Die (KGD) برای بازده مونتاژ بالا در مدارهای RF، مخابراتی و صنعتی با دمای بالا عرضه میشود.
1. رانش حرارتی نزدیک به صفر و ضرایب دمایی بالا
2. کیفیت 100% کاوش شده روی ویفر و KGD (Known Good Die)
| پارامتر | مقدار | شرایط تست |
| ظرفیت نامی | 1000 پیکوفاراد ±10% | 1 مگاهرتز، 1.0 ولت RMS، 25 درجه سانتیگراد |
| ولتاژ DC نامی | 80 ولت | مداوم، 55- تا 125+ درجه سانتیگراد |
| ولتاژ تحمل دیالکتریک | >200 ولت (>2.5 برابر ولتاژ نامی) | 5 ثانیه ماندگاری، 100% تست شده |
| TCC | 0 ±30 ppm/°C | COG/NPO، 55- تا 125+ درجه سانتیگراد |
| جریان نشتی | <10 نانوآمپر در 25 درجه سانتیگراد؛ <100 نانوآمپر در 125 درجه سانتیگراد | 80 ولت DC |
| ضریب Q | >2000 @ 1 مگاهرتز | معمولی |
| ESR @ 1 گیگاهرتز | <0.1 اهم | حذف شده |
| ESL داخلی تراشه | <0.05 نانو هانری | حذف شده S-parameter |
| ابعاد تراشه | 0.75 × 0.75 × 0.20 میلیمتر | ±25 میکرومتر |
| دمای عملیاتی | 55- تا 125+ درجه سانتیگراد | پارامتری کامل |
| کیفیت | 100% کاوش شده روی ویفر، KGD | غربالگری در سطح ویفر |
![]()