| Nazwa marki: | Hoan |
| Numer modelu: | HACC102S80V750KGD |
| MOQ: | 10 sztuk |
| Warunki płatności: | T/T, L/C, D/A, D/P |
HACC102S80V750KGD - Kondensator MOS o niemal zerowym dryfie termicznym 1000 pF, 80V, KGD z sondowaniem na płytce, jednowarstwowy chip
W skrócie: HACC102S80V750KGD to jednowarstwowy kondensator MOS z możliwością połączenia drutowego, o pojemności znamionowej 1000 pF ±10% przy 80V DC z dielektrykiem COG/NPO o niemal zerowym dryfie termicznym. Każdy chip jest w 100% sprawdzany na płytce i dostarczany jako znany dobry chip (KGD) dla wysokiej wydajności montażu w wysokotemperaturowych obwodach RF, telekomunikacyjnych i przemysłowych.
1. Niemal zerowy dryf termiczny i wysokie współczynniki temperaturowe
2. Jakość 100% sondowania na płytce i KGD (Known Good Die)
| Parametr | Wartość | Warunek testu |
| Pojemność nominalna | 1000 pF ±10% | 1 MHz, 1.0 Vrms, 25°C |
| Napięcie znamionowe DC | 80V | Ciągłe, -55°C do +125°C |
| Napięcie przebicia dielektryka | >200V (>2.5× znamionowe) | 5 s przytrzymania, testowane w 100% |
| TCC | 0 ±30 ppm/°C | COG/NPO, -55°C do +125°C |
| Prąd upływu | <10 nA @ 25°C; <100 nA @ 125°C | 80V DC |
| Współczynnik Q | >2000 @ 1 MHz | Typowy |
| ESR @ 1 GHz | <0.1 Ohm | Zde-embedded |
| Wewnętrzne ESL chipa | <0.05 nH | Zde-embedded S-parametrów |
| Wymiary chipa | 0.75 × 0.75 × 0.20 mm | ±25 µm |
| Temperatura pracy | -55°C do +125°C | Pełne parametryczne |
| Jakość | 100% sondowanie na płytce, KGD | Przesiewanie na poziomie płytki |
![]()