| Название бренда: | Hoan |
| Номер модели: | ХАКК102С80В750КГД |
| минимальный заказ: | 10 шт. |
| Условия оплаты: | Т/Т,Л/К,Д/А,Д/П |
HACC102S80V750KGD - Керамический конденсатор MOS с почти нулевым температурным дрейфом 1000 пФ, 80 В, пластина с зондированием KGD, однослойный чип
Кратко: HACC102S80V750KGD — это однослойный МОП-конденсатор с возможностью проволочного монтажа, рассчитанный на 1000 пФ ±10% при 80 В постоянного тока с диэлектриком COG/NPO с почти нулевым температурным дрейфом. Каждый кристалл проходит 100% зондирование на пластине и поставляется как Known Good Die (KGD) для обеспечения высокого выхода сборки в высокотемпературных ВЧ, телекоммуникационных и промышленных схемах.
1. Почти нулевой температурный дрейф и высокие температурные коэффициенты
2. 100% зондирование на пластине и качество KGD (Known Good Die)
| Параметр | Значение | Условие тестирования |
| Номинальная емкость | 1000 пФ ±10% | 1 МГц, 1,0 В среднеквадр., 25°C |
| Номинальное напряжение постоянного тока | 80 В | Непрерывно, от -55°C до +125°C |
| Диэлектрическая прочность | >200 В (>2,5× номинального) | Выдержка 5 с, 100% тестирование |
| TCC | 0 ±30 ppm/°C | COG/NPO, от -55°C до +125°C |
| Ток утечки | <10 нА при 25°C; <100 нА при 125°C | 80 В постоянного тока |
| Коэффициент добротности | >2000 @ 1 МГц | Типичный |
| ESR @ 1 ГГц | <0,1 Ом | Де-эмбеддированный |
| Собственная индуктивность чипа | <0,05 нГн | Де-эмбеддированные S-параметры |
| Размеры чипа | 0,75 × 0,75 × 0,20 мм | ±25 мкм |
| Рабочая температура | от -55°C до +125°C | Полный параметрический |
| Качество | 100% зондирование на пластине, KGD | Скрининг на уровне пластины |
![]()