| ชื่อแบรนด์: | Hoan |
| หมายเลขรุ่น: | HNM221S30V500 |
| ขั้นต่ำ: | 10 ชิ้น |
| เงื่อนไขการชำระเงิน: | T/T,L/C,D/A,D/P |
สรุป: HNM221S30V500 เป็นตัวเก็บประจุแบบชิป MOS (metal-oxide-semiconductor) ชั้นเดียวที่ให้ค่า 220 pF / 30 V DC สร้างขึ้นบนซิลิคอนแบบ float-zone พร้อมฉนวน SiO&sub2; ที่เกิดจากความร้อน และระบบขั้วไฟฟ้าทองคำทั้งหมด (TiW-Au) ไม่เป็นแม่เหล็ก มีเสถียรภาพต่ออุณหภูมิ และมีค่าความเหนี่ยวนำภายในต่ำกว่า 0.05 nH ทำให้เป็นตัวเลือกตัวเก็บประจุ MOS แบบชั้นเดียวสำหรับบายพาสและดีคัปปลิ้ง RF แบนด์วิดท์ที่ต้องการลดการรบกวนจากสนามแม่เหล็ก การเปลี่ยนแปลงค่า และ ESL ค่าความจุ รูปทรงชิป และการเคลือบโลหะสามารถปรับแต่งได้
| พารามิเตอร์ | ค่า | เงื่อนไขการทดสอบ |
| ความจุ | 220 pF ±10% | 1 MHz, 1.0 Vrms |
| ตัวเลือกความคลาดเคลื่อน | ±10% (K), ±5% (J) | — |
| แรงดันไฟฟ้า DC ที่กำหนด | 30 V | ต่อเนื่อง |
| ความแข็งแรงของฉนวน | >100 V DC | 1 นาที, 25 °C |
| ESL ของชิปภายใน | <0.05 nH | แยกออกจาก S-parameters |
| ปัจจัย Q @ 1 MHz / 1 GHz | >2000 / >200 | ทั่วไป |
| ESR @ 1 GHz | <0.1 Ω | ทั่วไป |
| TCC | +35 ppm/°C | −55 °C ถึง +125 °C |
| สัมประสิทธิ์แรงดัน DC | <10 ppm/V | 0 V ถึงที่กำหนด |
| กระแสรั่วไหล | <10 nA | 30 V DC, 25 °C |
| ฉนวน / ซับสเตรต | Thermal SiO&sub2; 300 nm / float-zone Si >1000 Ω·cm | — |
| การทำงาน / การจัดเก็บ | −55 ถึง +125 °C / −65 ถึง +150 °C | — |
| RoHS | สอดคล้อง | EU 2015/863 |
![]()