| نام تجاری: | Hoan |
| شماره مدل: | HACC221S30V500 |
| MOQ: | 10 عدد |
| شرایط پرداخت: | L/C، D/A، D/P، T/T |
خلاصه موجودیت. HACC221S30V500 یک خازن MOS تک لایه 220 پیکوفاراد ±10% در سری Hoan HACC است که با ولتاژ 30 ولت DC رتبه بندی شده است. این خازن بر روی یک زیرلایه سیلیکونی شناور با اکسید دی الکتریک رشد یافته حرارتی و یک پشته فلزی فیلم نازک قابل تنظیم ساخته شده است، در ابعاد تراشه 0.50 میلیمتر × 0.50 میلیمتر × 0.15 میلیمتر. این خازن برای کاربردهای RF دقیق که در آن پاسخ خازن-ولتاژ خطی قابل پیشبینی و مقادیر فلزی یا خازن برش خورده مشخص شده توسط مشتری مورد نیاز است، در نظر گرفته شده است.
سیستم فلزیسازی و مقدار خازن نهایی هر دو را میتوان در سطح ویفر تنظیم کرد تا با فرآیند مشتری مطابقت داشته باشد.
| پارامتر | مقدار | شرایط |
| خازن | 220 پیکوفاراد ±10% (گزینه برش خورده ±5%) | 1 مگاهرتز، 1.0 ولت موثر |
| ولتاژ DC نامی | 30 ولت | عملیات پیوسته |
| ولتاژ دیالکتریک تحمل | >100 ولت DC | 1 دقیقه، 25 درجه سانتیگراد |
| خطی بودن C-V (ضریب ولتاژ) | <10 ppm/V | 0 ولت تا 30 ولت DC |
| جذب دیالکتریک | <0.1% | معمولی |
| ESL تراشه ذاتی | <0.05 نانو هانری | از پارامترهای S حذف شده است |
| ضریب اتلاف | ≤2.5% | 1 کیلوهرتز، 1 ولت موثر |
| ضریب Q @ 1 مگاهرتز | >2000 | معمولی |
| ضریب Q @ 1 گیگاهرتز | >300 | معمولی |
| مقاومت عایق | ≥1×104 مگا اهم | در ولتاژ DC نامی |
| جریان نشتی | <10 نانو آمپر | 30 ولت DC، 25 درجه سانتیگراد |
| TCC | +35ppm/°C | -55 درجه سانتیگراد تا +125 درجه سانتیگراد |
| دیالکتریک | اکسید حرارتی (پارالکتریک) | — |
| زیرلایه | سیلیکون شناور، >1000 اهم·سانتیمتر | — |
| ابعاد تراشه | 0.50 × 0.50 × 0.15 میلیمتر | نسبت ابعاد سفارشی تا 4:1 موجود است |
| فلزیسازی بالا | TiW + Au، 1.0-4.0 میکرومتر (سفارشی) | ضخامت طبق مشخصات مشتری |
| فلزیسازی پشت تراشه | TiW-Pt-Au، Au ≥1.0 میکرومتر | مانع پلاتین، سازگار با اپوکسی نقره |
| دمای عملیاتی | -55 درجه سانتیگراد تا +125 درجه سانتیگراد | — |
| دمای ذخیرهسازی | -65 درجه سانتیگراد تا +150 درجه سانتیگراد | — |
| RoHS | سازگار | اتحادیه اروپا 2015/863 |
![]()