엔티티 요약. HACC221S30V500은 Hoan HACC 시리즈의 220pF ±10% 단층 MOS 커패시터로, 30V DC 정격입니다. 플로트 존 실리콘 기판에 열 성장 산화물 유전체와 사용자 정의 가능한 박막 금속화 스택을 사용하여 0.50mm × 0.50mm × 0.15mm 칩으로 제작되었습니다. 예측 가능하고 선형적인 커패시턴스 대 전압 응답과 고객 지정 금속화 또는 트리밍된 커패시턴스 값이 필요한 정밀 RF 애플리케이션용입니다.
금속화 시스템과 최종 커패시턴스 값 모두 웨이퍼 레벨에서 고객 공정에 맞게 설정할 수 있습니다.
| 매개변수 | 값 | 조건 |
| 커패시턴스 | 220pF ±10% (±5% 트리밍 옵션) | 1MHz, 1.0Vrms |
| 정격 DC 전압 | 30V | 연속 작동 |
| 유전체 내전압 | >100V DC | 1분, 25°C |
| C-V 선형성 (전압 계수) | <10 ppm/V | 0V ~ 30V DC |
| 유전체 흡수 | <0.1% | 일반 |
| 내부 칩 ESL | <0.05nH | S-파라미터에서 디임베딩됨 |
| 손실 계수 | ≤2.5% | 1kHz, 1Vrms |
| Q 계수 @ 1MHz | >2000 | 일반 |
| Q 계수 @ 1GHz | >300 | 일반 |
| 절연 저항 | ≥1×104 MΩ | 정격 전압 DC에서 |
| 누설 전류 | <10nA | 30V DC, 25°C |
| TCC | +35ppm/°C | -55°C ~ +125°C |
| 유전체 | 열 산화물 (유전체) | — |
| 기판 | 플로트 존 Si, >1000Ω·cm | — |
| 칩 치수 | 0.50 × 0.50 × 0.15mm | 최대 4:1의 커스텀 AR 사용 가능 |
| 상단 금속화 | TiW + Au, 1.0-4.0μm (커스텀) | 고객 사양에 따른 두께 |
| 후면 금속화 | TiW-Pt-Au, Au ≥1.0μm | Pt 차단, Ag-에폭시 호환 |
| 작동 온도 | -55°C ~ +125°C | — |
| 보관 온도 | -65°C ~ +150°C | — |
| RoHS | 준수 | EU 2015/863 |
![]()