| Επωνυμία: | Hoan |
| Αριθμός μοντέλου: | HACC101S50V250 |
| MOQ: | 10 τεμάχια |
| Όροι πληρωμής: | T/T,L/C,D/A,D/P |
Σύντομη απάντηση: το HACC101S50V250 είναι ένας μονοστρωματικός πυκνωτής MOS με χωρητικότητα 100 pF ±10% και ονομαστική τάση 50V DC, κατασκευασμένος σε πυρίτιο float-zone με θερμικά αναπτυγμένο SiO 300 nm2 διηλεκτρικό σε chip 0,25 x 0,25 x 0,10 mm. Τοποθετείται με die attach και συνδέεται με wire bonding, και χρησιμοποιείται όπου η επιφάνεια της πλακέτας ή του υποστρώματος είναι ο περιοριστικός σχεδιαστικός παράγοντας. Η χωρητικότητα, η ονομαστική τάση, η γεωμετρία του chip, ο τύπος του διηλεκτρικού και η στοίβα μεταλλώσεων είναι όλα προσαρμόσιμα.
| Παράμετρος | Τιμή |
| Χωρητικότητα | 100 pF ±10% (διαθέσιμο ±5%) |
| Ονομαστική τάση DC | 50V |
| Διηλεκτρικό | Θερμικό SiO2, 300 nm |
| Μέγεθος chip | 0,25 x 0,25 x 0,10 mm |
| Συντελεστής Q | >2000 στα 1 MHz, >200 στα 1 GHz |
| ESR στα 1 GHz | <0,1 Ω |
| Εγγενές ESL | <0,05 nH |
| TCC | 0 ±30 ppm/°C |
| Διαρροή | <10 nA στους 25°C |
| Άνω ηλεκτρόδιο | TiW-Pt-Au, ≥2,5 μm Au, συμβατό με wire bond |
| Θερμοκρασία λειτουργίας | -55°C έως +125°C |
| MSL | MSL 1 ανά J-STD-020 |
Το διηλεκτρικό αναπτύσσεται σε ένα wafer fab σε πυρίτιο float-zone αντί να εναποτίθεται από κεραμική λάσπη, έτσι ώστε το τελικό chip να μην περιέχει συνδετικό υλικό, ενισχυτικό πυροσυσσωμάτωσης ή υπολειμματικό οργανικό όχημα. Η συνολική απώλεια μάζας είναι κάτω από 1,0% και τα συλλεγόμενα πτητικά συμπυκνώσιμα υλικά κάτω από 0,10%, εντός των ορίων ελέγχου ASTM E595 που εφαρμόζονται σε υλικό εκτεθειμένο σε κενό. Αυτό έχει σημασία όπου μια συμπυκνωμένη μεμβράνη θα μπορούσε να θαμπώσει μια οπτική επιφάνεια ή να μολύνει έναν ανιχνευτή, για παράδειγμα θαλάμους οργάνων κενού, στήλες δέσμης ηλεκτρονίων και ιόντων, οπτικά φασματομέτρου μάζας και σφραγισμένες συσκευασίες αισθητήρων. Παρέχεται τεκμηρίωση ιχνηλασιμότητας παρτίδας Wafer με κάθε αποστολή.
Το άνω ηλεκτρόδιο είναι μια στοίβα TiW-Pt-Au με ψεκασμό με τουλάχιστον 2,5 μm χρυσού. Ο εύκαμπτος χρυσός διαχέει 40-100 mW υπερηχητικής ενέργειας σε όλη την επιφάνεια αντί να την οδηγεί στο διηλεκτρικό, που είναι η συνήθης αιτία δημιουργίας κρατήρων και διάτρησης σε λεπτά φιλμ. Η τυπική αντοχή έλξης είναι πάνω από 6 gf για χρυσό σύρμα 25 μm. Το παράθυρο διεργασίας καλύπτει θερμοσονική συγκόλληση με μπάλα Au 18-25 μm σε θερμοκρασία σταδίου 120-150°C και συγκόλληση με σφήνα Al 25 μm με υπερήχους σε θερμοκρασία δωματίου, και το φράγμα Pt αποτρέπει την έκπλυση χρυσού κατά την ευτηκτική αναρροή.
![]()