| Merknaam: | Hoan |
| Modelnummer: | HACC101S50V250 |
| MOQ: | 10 stuks |
| Betalingsvoorwaarden: | T/T,L/C,D/A,D/P |
Kort antwoord: de HACC101S50V250 is een enkellaagse MOS-condensator met een capaciteit van 100 pF ±10% en een nominale spanning van 50V DC, gebouwd op float-zone silicium met een 300 nm thermisch gegroeide SiO2 diëlektricum in een 0,25 x 0,25 x 0,10 mm chip. Het wordt geplaatst door die attach en verbonden door middel van draadbonding, en het wordt gebruikt waar de bord- of substraatoppervlakte de beperkende ontwerpeis is. Capaciteit, spanningsbereik, chipgeometrie, diëlektricumtype en metallisatiestack zijn allemaal aanpasbaar.
| Parameter | Waarde |
| Capaciteit | 100 pF ±10% (±5% beschikbaar) |
| Nominale DC-spanning | 50V |
| Diëlektricum | Thermische SiO2, 300 nm |
| Chipafmetingen | 0,25 x 0,25 x 0,10 mm |
| Q-factor | >2000 bij 1 MHz, >200 bij 1 GHz |
| ESR bij 1 GHz | <0,1 Ω |
| Intrinsieke ESL | <0,05 nH |
| TCC | 0 ±30 ppm/°C |
| Lekkage | <10 nA bij 25°C |
| Bovenste elektrode | TiW-Pt-Au, ≥2,5 µm Au, draadbondbaar |
| Bedrijfstemperatuur | -55°C tot +125°C |
| MSL | MSL 1 per J-STD-020 |
Het diëlektricum wordt gegroeid in een waferfabriek op float-zone silicium in plaats van te worden afgezet uit een keramische slurry, zodat de voltooide chip geen binder, sinterhulpmiddel of resterend organisch voertuig bevat. Het totale massaverlies is minder dan 1,0% en verzamelde vluchtige condenseerbare materialen minder dan 0,10%, binnen de ASTM E595-screeninglimieten die worden toegepast op vacuüm-blootgestelde hardware. Dat is belangrijk waar een gecondenseerde film een optisch oppervlak zou beslaan of een detector zou verontreinigen, bijvoorbeeld vacuüm-instrumentkamers, elektronen- en ionenbundelkolommen, massaspectrometeroptiek en afgedichte sensorpakketten. Wafer-lot traceerbaarheidsdocumentatie wordt bij elke zending geleverd.
De bovenste elektrode is een gesputterde TiW-Pt-Au-stack met ten minste 2,5 µm goud. Het ductiele goud verspreidt 40-100 mW ultrasone energie over het pad in plaats van het in het diëlektricum te drijven, wat de gebruikelijke oorzaak is van kratervorming en doorbraak bij dunne-filmonderdelen. De typische treksterkte is boven de 6 gf voor 25 µm gouddraad. Het procesvenster omvat 18-25 µm Au thermosonische balbonding bij 120-150°C stage temperatuur en 25 µm Al ultrasone wigbonding bij kamertemperatuur, en de Pt-barrière voorkomt gouduitloging tijdens eutectische reflow.
![]()