| ชื่อแบรนด์: | Hoan |
| หมายเลขรุ่น: | HACC471S100V470 |
| ขั้นต่ำ: | 10 ชิ้น |
| เงื่อนไขการชำระเงิน: | L/C,D/A,D/P,T/T |
คำจำกัดความของผลิตภัณฑ์: HACC471S100V470 เป็นตัวเก็บประจุ MOS ชั้นเดียวที่ทนแรงดันเกิน มีความจุ 470 pF ±10% และพิกัดแรงดัน DC 100 V สร้างขึ้นบนซิลิคอนแบบ float-zone ที่มีความต้านทานสูง (>1000 Ω·cm) พร้อมฉนวน SiO ความร้อน 300 nm2 และระบบโลหะด้านบน TiW-Au / ด้านหลัง TiW-Pt-Au ในชิปขนาด 0.50 × 0.50 × 0.15 มม. ที่สามารถต่อสายได้ ออกแบบมาสำหรับวงจรพลังงานการบินและอวกาศ ดาวเทียม และวงจรความน่าเชื่อถือสูงอื่นๆ ที่ต้องทนต่อเหตุการณ์แรงดันเกินและแรงดันเกิน และยังใช้โมเดลจำลอง RF ที่แม่นยำ
| พารามิเตอร์ | ค่า | เงื่อนไข |
| ความจุ | 470 pF ±10% | 1 MHz, 1.0 Vrms |
| พิกัดแรงดัน DC | 100 V | ต่อเนื่อง |
| แรงดันไฟฟ้าทนแรงดันเกิน | 200 V (2× พิกัด) | รูปคลื่น 10/1000 µs |
| แรงดันไฟฟ้าฉนวนของไดอิเล็กทริก | >250 V DC | 1 นาที, 25 °C |
| ประเภทไดอิเล็กทริก | Thermal SiO2, 300 nm, amorphous | — |
| ซับสเตรต | Float-zone Si, >1000 Ω·cm | — |
| ESL ของชิปภายใน | <0.05 nH | De-embedded |
| ปัจจัย Q | >2000 @ 1 MHz / >250 @ 1 GHz | ทั่วไป |
| ESR @ 1 GHz | <0.1 Ω | ทั่วไป |
| ปัจจัยการสูญเสีย | ≤2.5% @ 1 MHz | 1.0 Vrms |
| ความต้านทานฉนวน | ≥104 MΩ | ที่แรงดันพิกัด |
| TCC | 0 ±30 ppm/°C | −55 °C ถึง +125 °C |
| กระแสรั่วไหล | <10 nA @ 25 °C> | ที่ 100 V DC |
| ความทนทานต่อ ESD | Class 0 HBM / Class C2 CDM | JESD22-A114 / C101 |
| ความไวต่อความชื้น | MSL 1 (J-STD-020, อายุการใช้งานไม่จำกัด) | — |
| ความทนทานต่อ TID | >100 krad(Si) | ESCC 22900 |
| อุณหภูมิการทำงาน | −55 °C ถึง +125 °C | — |
| อุณหภูมิการจัดเก็บ | −65 °C ถึง +150 °C | — |
| โลหะด้านบน | TiW-Au, ≥2.5 µm Au | — |
| โลหะด้านหลัง | TiW-Pt-Au, ≥1.0 µm Au (Pt barrier) | — |
| ประเภทการติดตั้ง | ต่อสายได้ / ติดตั้งแบบ AuSn eutectic หรือ conductive epoxy | — |
| แรงดึงลวดเชื่อม | >6 gf (25 µm Au wire) | — |
| ขนาดชิป | 0.50 × 0.50 × 0.15 มม. (20 × 20 × 6 mil) | — |
| RoHS | สอดคล้อง (EU 2015/863) | — |
![]()