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Capacitores MOS
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Capacitores MOS de Supressão Microfônica HACC471S50V500 470 pF 50V Chip de Camada Única para Amplificadores de Potência RF

Capacitores MOS de Supressão Microfônica HACC471S50V500 470 pF 50V Chip de Camada Única para Amplificadores de Potência RF

Marca: Hoan
Número do modelo: HACC471S50V500
Quantidade mínima: 10 peças
Condições de pagamento: L/C,D/A,D/P,T/T
Informações pormenorizadas
Lugar de origem:
Shanxi, China
Certificação:
ISO 9001:2015, RoHS
Fator Q @ 1 GHz:
>300
Dimensões do chip:
0,50 × 0,50 × 0,15 mm
Metalização Superior:
TiW (100 nm) + Au (2,5 µm min)
Metalização traseira:
TiW-Pt-Au, Au 1,0 µm min
Tipo de montagem:
Fixação de matriz eutética/fio ligável
Temperatura operacional:
-55°C a +125°C
Personalização:
10pF-1000pF, matriz retangular, eletrodo com borda, parte traseira flutuante
Destacar:

Condensador MOS 470 pF 50V

,

amplificador RF de chip de camada única

,

HACC471S50V500 condensador de supressão de microfones

Descrição do produto

Controle de Modulação de Fase Microfônica Capacitor MOS — HACC471S50V500


Definição: O HACC471S50V500 é um capacitor MOS de camada única de 470 pF ±10%, 50 V DC, construído em um substrato de silício float-zone (>1000 Ω·cm) com um SiO 2 dielétrico crescido termicamente de 300 nm. Ele é projetado para redes de polarização de amplificadores de potência RF, bloqueio DC e casamento de impedância onde a modulação de fase induzida por vibração e o ruído microfônico devem ser controlados.Fator Q @ 1 GHzO que é:


capacitor MOS de camada única, 470 pF, 50 V, die metalizável para wire-bonding.


  • Função principal: controla a modulação de fase microfônica e suprime a modulação microfônica em cadeias de sinal de PA RF.
  • Por que funciona: o dielétrico de SiO 2 térmico amorfo não possui coeficiente piezoelétrico nem domínios ferroelétricos.
  • Saída microfônica verificada: abaixo do piso de ruído de medição sob vibração de 10 g, 20 Hz–2 kHz (MIL-STD-202 Método 204).Fator Q @ 1 GHz coeficiente de polarização DC <10 ppm/V; +35 ppm/°C de −55 °C a +125 °C; sem envelhecimento.
  • Chip:
  • Principais características Resposta piezoelétrica zero — sem conversão vibração-para-modulação de fase.
  • ESL intrínseco do chip <0,05 nH; SRF acima de 1 GHz para 470 pF (ajustável pelo comprimento do fio de bond).Q >2000 a 1 MHz e >300 a 1 GHz para baixa perda de inserção.Metalização superior TiW (100 nm) + Au (≥2,5 µm) para wire-bonding de ouro termossônico (>6 gf de força de tração típica).Fundo TiW-Pt-Au com barreira de difusão de platina para fixação de die eutético AuSn e epóxi de prata.


Compatível com RoHS (EU 2015/863); manuseio Classe 0 ESD (HBM) conforme JESD22-A114.


  • Especificações (T = 25 °C, a menos que observado)
  • ParâmetroValor
  • Condição de teste
  • Capacitância
  • 470 pF ±10% (±5% opção)
  • 1 MHz, 1,0 Vrms


Tensão DC nominal


50 V Operação contínua Tensão de suportabilidade dielétrica
>125 V DC Rampa de 1 minuto, 25 °C Dielétrico
SiO 2 térmico, 300 nm Oxidação seca Substrato
Si float-zone, >1000 Ω·cm — ESL intrínseco do chip
<0,05 nH Desempenhado a partir de S-parâmetroFator Q @ 1 GHz>300 Típico
Coeficiente de polarização DC <10 ppm/V Aquecimento RF industrial, excitação de plasma e instrumentos de teste e medição.
TCC +35 ppm/°C −55 °C a +125 °C
Saída microfônica Abaixo do piso de ruído Varredura de 10 g, 20 Hz–2 kHz
Temperatura de operação / armazenamento −55 °C a +125 °C / −65 °C a +150 °C —
Dimensões do chip 0,50 × 0,50 × 0,15 mm ±0,025 mm
Aplicações típicas Tees de polarização de amplificador de potência RF e bloqueio DC de alimentação de dreno. Redes de tanque e filtro de malha de VCO / PLL sensíveis à vibração.
Casamento de entrada e bypass de LNA na presença de excitação mecânica. Front-ends de estação base celular e unidade de rádio remota (RRU). Aquecimento RF industrial, excitação de plasma e instrumentos de teste e medição.
Módulos de sensor sem fio e RF automotivos sob vibração contínua.




Capacitores MOS de Supressão Microfônica HACC471S50V500 470 pF 50V Chip de Camada Única para Amplificadores de Potência RF