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Capacitores MOS
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Tempo de Relaxamento Dielétrico Otimizado Capacitor MOS 470pF 50V Chip de Camada Única Para Circuitos de Pulso

Tempo de Relaxamento Dielétrico Otimizado Capacitor MOS 470pF 50V Chip de Camada Única Para Circuitos de Pulso

Marca: Hoan
Número do modelo: HACC471S50V200
Quantidade mínima: 10 peças
Condições de pagamento: T/T,L/C,D/A,D/P
Informações pormenorizadas
Lugar de origem:
Shanxi, China
Certificação:
ISO 9001:2015, RoHS
Capacitância:
470pF ±10%
Metalização Superior:
TiW + Au, 2,5 µm min
Tipo de montagem:
Fixação de matriz eutética/fio ligável
Temperatura operacional:
-55°C a +125°C
RoHS:
Em conformidade (UE 2015/863)
Personalização:
Capacitância 10pF-1000pF, geometria até 4:1, eletrodo com bordas, parte traseira flutuante
Destacar:

Capacitor MOS 470pF circuitos de pulso

,

Capacitor MOS chip de camada única 50V

,

Tempo de relaxamento dielétrico capacitor MOS

Descrição do produto

HACC471S50V200 Tempo de relaxamento dielétrico otimizado MOS condensador

Resumo do produto:O HACC471S50V200 é um condensador de metal-óxido-semicondutor (MOS) de camada única com uma capacitância nominal de 470pF ± 10% e uma tensão de trabalho de 50V DC. Ele usa um dióxido de silício térmico de 300nm (SiO)2O processo de transformação de um dieléctrico em um substrato de silício de zona flutuante com uma pilha de metalização TiW-Au.um tempo de relaxamento dielétrico otimizado e relaxamento de polarização ultra-rápidoIsso o torna adequado para circuitos de pulso e comutação onde a queda, o tempo de estabilização e a repetibilidade de pulso a pulso são importantes.


Qual é o tempo de relaxamento dielétrico?


Após um condensador carregar, o material dielétrico precisa de um tempo finito para retornar ao seu estado de polarização de equilíbrio.,A carga residual de um pulso anterior pode afetar o próximo pulso, produzindo queda de amplitude ou erro de sincronização em um trem de pulso.tempo de relaxamento bem controlado e baixa absorção dielétrica inicia cada pulso a partir de um estado de carga limpa, o que melhora a repetibilidade em circuitos de formação de pulso, de amostragem e retenção e de modulação.


Principais especificações (T = 25°C, salvo indicação em contrário)


Parâmetro Valor Condição
Capacidade 470pF ± 10% 1MHz, 1,0Vrms
Tensão nominal de CC 50 V Contínuo
Força dielétrica > 125 V CC 1 minuto, 25°C
Absorção dielétrica < 0,1% Tipico
Tempo de relaxamento dielétrico Optimizado (constante de tempo curto) Recuperação pós-pulso
ESL de chip intrínseco < 0,05nH Desintegrado dos parâmetros S
Fator Q a 1 MHz > 2000 Tipico
TCC +35 ppm/°C -55°C a +125°C
Corrente de fuga < 10nA 50 V de corrente contínua, 25°C
Dieléctricos SiO térmico2, 300 nm - Não.
Substrato Zona de flutuação Si, > 1000 Ω·cm - Não.
Dimensões do chip 0.50 × 0,50 × 0,15 mm ± 0,025 mm
Metalização superior TiW + Au, 2,5 μm min. Fios ligáveis
Metalização posterior TiW-Pt-Au, Au 1,0 μm min Acerte
Temperatura de funcionamento -55°C a +125°C - Não.
RoHS Conformidade A partir de 1 de janeiro de 2015


Aplicações típicas


  • Redes pulsadoras e pulsadores
  • Fases de amostragem rápida e de retenção e de detecção de pico
  • Moduladores de pulso de radar e LIDAR
  • Nodes de fixação do conversor de potência e dV/dt
  • Front-ends de aquisição analógica de alta velocidade
  • Outros aparelhos de transmissão


Tempo de Relaxamento Dielétrico Otimizado Capacitor MOS 470pF 50V Chip de Camada Única Para Circuitos de Pulso