| Nom De La Marque: | Hoan |
| Numéro De Modèle: | HACC102S50V300 |
| Quantité Minimale De Commande: | 10 pièces |
| Conditions De Paiement: | T/T, L/C, D/A, D/P |
Résumé du produit:Le HACC102S50V300 est un condensateur à semi-conducteurs en oxyde de métal (MOS) à couche unique avec une capacité nominale de 1000 pF (1nF) ± 10% et une tension de travail de 50 V CC.Il utilise un dioxyde de silicium thermique de 300 nm (SiO)2La fonction de détection de l'infrarouge de l'électrode de protection à l'échelle nanométrique est la détection de l'infrarouge de protection à l'échelle nanométrique.qui allonge la trajectoire de fuite de surface et limite le champ électrique de sorte que le courant de fuite reste dans la plage pico-ampèreIl convient aux circuits RF et analogiques de haute impédance où les fuites limitent directement la précision.
Un anneau de protection est une structure conductive ou isolante placée autour de l'électrode active pour intercepter le courant de fuite de surface et le garder à l'écart du chemin du signal.Un anneau de protection échelonné utilise plusieurs anneaux à l'échelle nanométrique étroitement espacés plutôt qu'un seul grandCela augmente la longueur effective du chemin de surface et répand le champ électrique à travers plusieurs étapes,donc le champ à n'importe quel point est inférieur et la fuite de surface qui coulerait autrement entre les bornes est fortement réduiteLe résultat est une fuite dans la gamme pico-amp, ce qui est important dans les circuits à haute impédance où même une fuite de nanoamp chargerait ou compenserait le signal.
| Paramètre | Valeur | Condition |
| Capacité | 1000pF (1nF) ±10% | 1 MHz, 1,0 Vrms |
| Voltage nominal en courant continu | 50 V | Continuité |
| Résistance diélectrique | > 125 V en courant continu | 1 minute, 25°C |
| Courant de fuite | Pour les appareils à combustion | 50 V de courant continu, à 25°C, typique |
| Conception de l'anneau de protection | Multi-anneaux échelonnés à l'échelle nanométrique | Suppression des fuites de surface |
| Puce interne ESL | Le taux de dépistage | Décomposé des paramètres S |
| Facteur Q à 1 MHz | > 2000 | Typique |
| Absorption diélectrique | < 0,1% | Typique |
| Le TCC | +35 ppm/°C | -55°C à +125°C |
| Diélectrique | SiO thermique2, 300 nm | Faible densité de défauts |
| Substrate | Zone flottante Si, > 1000 Ω·cm | Résistance élevée |
| Dimensions de la puce | 0.50 × 0,50 × 0,15 mm | ±0,025 mm |
| Métallisation supérieure | TiW + Au, 2,5 μm min | Des fils de fer |
| Métallisation à l'arrière | TiW-Pt-Au, Au 1,0 μm min | - Je vais vous attacher. |
| Température de fonctionnement | -55°C à +125°C | Je ne sais pas. |
| RoHS | Conformité | Les États membres doivent: |
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