| Nombre De La Marca: | Hoan |
| Número De Modelo: | HACC221S50V300 |
| Cantidad Mínima De Pedido: | 10 piezas |
| Condiciones De Pago: | T/T, L/C, D/A, D/P |
Descripción general del producto: El HACC221S50V300 es un condensador de semiconductor de óxido metálico (MOS) de capa única con una capacitancia nominal de 220pF ±10% y una tensión de trabajo de CC de 50V. Está construido sobre un sustrato de silicio de zona flotante de alta conductividad con un dieléctrico de dióxido de silicio térmico (SiO2) de 300nm y una pila de metalización TiW-Au. Su característica definitoria es el control de dispersión de fonones — el dieléctrico, el sustrato y las interfaces metálicas están diseñados para que el calor generado por la pérdida de RF se conduzca eficientemente en lugar de acumularse en un punto caliente. Esto es adecuado para etapas de RF de alta potencia donde la estabilidad térmica limita el rendimiento.
En un sólido, el calor es transportado por fonones, que son vibraciones de red cuantificadas. Cualquier característica que interrumpa el viaje de un fonón — límites de grano, defectos cristalinos e interfaces rugosas o químicamente mezcladas — lo dispersa y reduce la conductividad térmica, por lo que el calor permanece donde se generó. El control de dispersión de fonones significa diseñar las interfaces dieléctricas, de sustrato y de metalización para mantener un transporte de fonones eficiente: el silicio de zona flotante monocristalino tiene una larga trayectoria libre media de fonones (la distancia promedio que recorre un fonón antes de ser dispersado), el dieléctrico es un óxido térmico denso con una densidad mínima de defectos, y la gruesa metalización de oro proporciona una ruta térmica de baja resistencia a la superficie de montaje.
| Parámetro | Valor | Condición |
| Capacitancia | 220pF ±10% | 1MHz, 1.0Vrms |
| Tensión nominal de CC | 50V | Continua |
| Rigidez dieléctrica | >125V CC | 1 minuto, 25°C |
| ESR a 1GHz | <0.08 Ω | Típico |
| Factor Q a 1MHz | >2000 | Típico |
| ESL intrínseca del chip | <0.05nH | Desvinculado de parámetros S |
| Sustrato | Si de zona flotante, >1000 Ω·cm | Monocristalino, alta conductividad térmica |
| Dieléctrico | SiO térmico2, 300nm | Baja densidad de defectos |
| TCC | +35ppm/°C | -55°C a +125°C |
| Corriente de fuga | <10nA | 50V CC, 25°C |
| Dimensiones del chip | 0.50 × 0.50 × 0.15mm | ±0.025mm |
| Metalización superior | TiW + Au, 2.5µm min | Soldable por hilo, térmicamente conductor |
| Metalización posterior | TiW-Pt-Au, Au 1.0µm min | Ruta térmica de área completa |
| Temperatura de funcionamiento | -55°C a +125°C | — |
| RoHS | Cumple | EU 2015/863 |
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