| Marchio: | Hoan |
| Numero di modello: | HACC221S50V300 |
| MOQ: | 10 pezzi |
| Termini di pagamento: | T/T,L/C,D/A,D/P |
Visualizzazione del prodotto:Il condensatore HACC221S50V300 è un condensatore a metallo-ossido-semiconduttore (MOS) a strato singolo con una capacità nominale di 220 pF ± 10% e una tensione di lavoro di 50 V di corrente continua.È costruito su un substrato di silicio ad alta conduttività a zona galleggiante con un biossido di silicio termico (SiO) di 300 nm2La sua caratteristica distintiva è il controllo della dispersione dei fononi.e le interfacce metalliche sono progettate in modo che il calore generato dalla perdita di RF sia condotto via in modo efficiente invece di accumularsi in un punto caldoQuesto è adatto a livelli RF ad alta potenza dove la stabilità termica limita le prestazioni.
In un solido, il calore è trasportato dai fononi, che sono vibrazioni di reticolo quantizzate.e le interfacce grezze o mescolate chimicamente, lo disperde e riduce la conduttività termicaIl controllo della diffusione dei fononi significa progettare le interfacce dielettriche, del substrato e della metallizzazione per mantenere efficiente il trasporto dei fononi:il silicio a zona galleggiante a singolo cristallo ha un percorso medio lungo dei fononi (la distanza media percorsa da un fonone prima di essere disperso), il dielettrico è un ossido termico denso con una densità di difetto minima, e la metallizzazione dell'oro spessa fornisce un percorso termico a bassa resistenza alla superficie di montaggio.
| Parametro | Valore | Condizione |
| Capacità | 220pF ±10% | 1MHz, 1,0Vrms |
| Voltaggio nominale di corrente continua | 50 V | Continuo |
| Resistenza dielettrica | > 125 V di corrente continua | 1 minuto, 25°C |
| ESR a 1 GHz | < 0,08 Ω | Tipico |
| Fattore Q a 1MHz | > 2000 | Tipico |
| ESL a chip intrinseco | < 0,05nH | Disintegrato dai parametri S |
| Substrato | Zona di galleggiamento Si, > 1000 Ω·cm | Monocristallo, elevata conduttività termica |
| diossido di carbonio | SiO termico2, 300 nm | Bassa densità di difetti |
| TCC | +35 ppm/°C | -55°C a +125°C |
| Corrente di perdita | < 10nA | 50 V di corrente continua, 25°C |
| Dimensioni del chip | 00,50 × 0,50 × 0,15 mm | ± 0,025 mm |
| Metalizzazione superiore | TiW + Au, 2,5 μm min. | Filtri legati, conduttivi termicamente |
| Metalizzazione posteriore | TiW-Pt-Au, Au 1,0 μm min | Percorso termico su tutta la superficie |
| Temperatura di funzionamento | -55°C a +125°C | ️ |
| RoHS | Conformità | Codice di riferimento |
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