details van de producten

Created with Pixso. Huis Created with Pixso. Producten Created with Pixso.
MOS-condensatoren
Created with Pixso.

MOS-condensator met lage kwantumcapaciteit 100pF 200V Ultra-High Dielectric Breakdown Field Single-Layer Chip voor HV RF

MOS-condensator met lage kwantumcapaciteit 100pF 200V Ultra-High Dielectric Breakdown Field Single-Layer Chip voor HV RF

Merknaam: Hoan
Modelnummer: HACC101S200V801
MOQ: 10 stuks
Betalingsvoorwaarden: L/C, D/A, D/P, T/T
Gedetailleerde informatie
Plaats van herkomst:
Shannxi, China
Certificering:
ISO 9001:2015, RoHS
Capaciteit:
100 pF ±10% (±5% beschikbaar)
Nominale spanning:
200 V gelijkstroom
Lekstroom @ 25°C:
<10 nA bij 200 V DC
Lekstroom @ 125°C:
<100 nA bij 200 V DC
Het werken/Opslagtemperatuur:
-55°C tot +125°C / -65°C tot +150°C
RoHS:
Conform (EU 2015/863)
Markeren:

MOS-capacitor met lage kwantumcapaciteit 100 pF

,

MOS-capacitor met een ultrahoge dielectrische breuk van 200 V

,

Eenlaagchip HV RF MOS condensator

Productomschrijving

HACC101S200V801 Lage Kwantum Capaciteit MOS Condensator 100pF 200V Enkellaags Draadlasbare RF Chip


Productdefinitie: De HACC101S200V801 is een enkellaagse metaal-oxide-halfgeleider (MOS) condensator gebouwd op een silicium substraat met hoge weerstand, float-zone, met een dichte, thermisch gegroeide siliciumdioxide (SiO2) diëlektricum. Hij levert 100 pF (±10%) bij een werkspanning van 200 V DC in een 0,50 mm × 0,50 mm × 0,15 mm draadlasbare chip. Dezelfde apparaatfamilie wordt ook beschreven als een enkellaagse condensator (SLC) chip, een RF chipcondensator, een draadlasbare condensator, of een MOS chipcondensator.

Zijn twee bepalende kenmerken zijn een laag kwantum capaciteitseffect en een ultrahoge diëlektrische doorslagveld (>10 MV/cm). Samen ondersteunen ze een vlakke, ultralineaire C-V respons en een hoge 200 V rating in een compacte chip.


Belangrijkste Kenmerken


Laag Kwantum Capaciteitseffect

In elke MOS-structuur is de gemeten capaciteit een serieschakeling van de oxidecapaciteit (Cox) en de halfgeleidercapaciteit, die de kwantumcapaciteit (Cq) omvat die geassocieerd is met de eindige dichtheid van toestanden aan het siliciumoppervlak. Wanneer Cq vergelijkbaar is met Cox, wordt de totale capaciteit afhankelijk van de spanning en frequentie en daalt deze onder de verwachte oxidewaarde. De HACC101S200V801 is ontworpen met een zwaar gedoteerde float-zone silicium elektrode en een geoptimaliseerde interface zodat Cq meer dan 10x groter blijft dan Cox. Het kwantum capaciteitseffect is daarom verwaarloosbaar en het apparaat gedraagt zich als een bijna ideale oxidecondensator: de gemeten waarde is gelijk aan de geometrische oxidecapaciteit, vlak over het gehele spanningsbereik en stabiel met de frequentie.

Ultrahoge Diëlektrische Doorslagveld (>10 MV/cm)

Het diëlektricum is een hoogwaardige thermische SiO2 met een lage defectdichtheid en een intrinsiek doorslagveld van meer dan 10 MV/cm. Deze diëlektrische robuustheid ondersteunt een continue 200 V DC rating en een diëlektrische weerstandsspanning van meer dan 500 V DC (250% van nominaal) in een compacte 20 mil draadlasbare chip, wat royale marge biedt voor hoogspannings RF-signaalketens, biasinjectie en transiënte gebeurtenissen. De diëlektrische weerstandsspanning wordt geverifieerd op 100% van de productie-eenheden.

Stabiele Prestaties met Lage Verliezen

Temperatuurcoëfficiënt van capaciteit is ongeveer +35 ppm/°C, bijna lineair van -55°C tot +125°C, met een lage DC-spanningscoëfficiënt (<10 ppmV). Q exceeds 2000 bij 1 MHz, ESL is lager dan 0,05 nH, en lekstroom blijft onder 10 nA bij 200 V, waardoor het apparaat geschikt is voor precisie RF-bypass, DC-blokkering en aanpassingsnetwerken.


Elektrische Specificaties (T = 25°C tenzij anders vermeld)


Parameter Waarde Testconditie
Capaciteit 100 pF ±10% 1 MHz, 1,0 Vrms
Nominale DC-spanning 200 V Continu
Diëlektrische Doorslagveld >10 MV/cm Intrinsiek, thermische SiO2
Diëlektrische Weerstandsspanning >500 V DC 1 minuut, 25°C, 100% getest
Kwantum Capaciteitseffect Verwaarloosbaar (Cq >10x Cox)
TCC +35 ppm/°C -55°C tot +125°C
DC Spanningscoëfficiënt <10 ppm/V 0 V tot nominale spanning
Q Factor >2000 @ 1 MHz Typisch
Dissipatiefactor ≤0,15% 1 kHz, 1 Vrms
ESL <0,05 nH Gede-embedded
SRF >8 GHz Chipniveau, typisch
Lekstroom <10 nA 200 V DC, 25°C
Chipafmetingen 0,50 × 0,50 × 0,15 mm ±25 µm
Bedrijfstemperatuur -55°C tot +125°C
RoHS Conform EU 2015/863


Betrouwbaarheid en Kwalificatie (typische waarden)


Test Conditie Resultaat
Draadlas Treksterkte 25 µm Au draad, destructief >6 gf
Vochtgevoeligheid J-STD-020 MSL 1
TDDB (tijd-afhankelijke diëlektrische doorslag) 125°C, nominale spanning >10 jaar levensduur
Temperatuurbereik -55°C tot +125°C Volledige parametrische naleving


Typische Toepassingen


  • Hoogspannings RF DC-blokkering en biasinjectienetwerken
  • Impedantieaanpassing in eindversterkers en antenne front-ends die werken boven 100 V
  • Precisie bypass en ontkoppeling waarbij vlakke C-V en lage frequentieafhankelijkheid cruciaal zijn
  • Test- en meetinstrumentatie en VNA-kalibratiestandaarden
  • Medische RF-subsystemen en industriële RF-generatieapparatuur

MOS-condensator met lage kwantumcapaciteit 100pF 200V Ultra-High Dielectric Breakdown Field Single-Layer Chip voor HV RF

+8618740357801