Détails des produits

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Condensateur à couche unique
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Condensateur MOS de 20 V à 150 pF Condensateur à puce en céramique sans halogène avec données de paramètres S

Condensateur MOS de 20 V à 150 pF Condensateur à puce en céramique sans halogène avec données de paramètres S

Nom De La Marque: Hoan
Numéro De Modèle: HACC151S20V101
Quantité Minimale De Commande: 10 pièces
Conditions De Paiement: LC, D/A, D/P, T/T, Western Union
Informations détaillées
Lieu d'origine:
Shannxi, Chine
Certification:
ISO 9001:2015, RoHS, REACH, Halogen-Free
Capacitance:
150pF ±10%
Tension nominale:
20 V de courant continu
Diélectrique:
SiO₂ thermique, 300 nm
Dimensions des puces:
0,50 x 0,50 x 0,15 mm
Métallisation arrière:
TiW-Pt-Au, Au 1,0 µm min
Température de fonctionnement:
-55°C à +125°C
Type de montage:
Fixation de matrice à liaison filaire/eutectique
Mettre en évidence:

Condensateur MOS de 150 pF

,

Condensateur MOS de 20 V

,

Condensateur à puces en céramique sans halogène

Description de produit

Condensateur MOS HACC151S20V101 certifié conforme : sans halogène 150pF avec traçabilité métrologique complète

Le HACC151S20V101 est un condensateur MOS monocouche de 150pF ±10% nominal à 20V DC, utilisant le substrat de silicium float-zone, un diélectrique thermique SiO2 de 300nm, et une plateforme de métallisation TiW-Au. Les dimensions de la puce sont de 0,50mm * 0,50mm * 0,15mm. Cette variante est conçue pour les clients nécessitant une conformité réglementaire documentée, une traçabilité des mesures aux normes nationales et des données complètes sur la provenance des matériaux dans le cadre de leur processus de qualification de composants.

1. Cadre de conformité réglementaire pour les composants passifs électroniques

Les chaînes d'approvisionnement électroniques modernes doivent naviguer dans un paysage réglementaire à plusieurs niveaux. Le HACC151S20V101 est conçu et documenté pour satisfaire les cadres clés applicables aux composants passifs :

  • Directive européenne RoHS 2011/65/UE (refonte 2015/863) : Restreint le plomb, le mercure, le cadmium, le chrome hexavalent, les PBB, les PBDE, le DEHP, le BBP, le DBP et le DIBP à des concentrations maximales de 0,1% en poids dans les matériaux homogènes (0,01% pour le cadmium). Le HACC151S20V101 est intrinsèquement conforme RoHS au niveau des matériaux : le substrat de silicium, le diélectrique SiO2, la barrière TiW, les électrodes Au et la barrière Pt ne contiennent aucune des substances restreintes par conception. Le pré-dépôt optionnel AuSn utilise une eutectique or-étain, et non étain-plomb, préservant la conformité RoHS.
  • Sans halogène selon la norme IEC 61249-2-21 : Définit sans halogène comme le chlore <900ppm, le brome <900ppm, et le total chlore+brome <1500ppm. La vérification est effectuée par chromatographie ionique par combustion (CIC) sur des échantillons de puces homogénéisés de chaque lot de matériaux, avec des limites de détection inférieures à 50ppm pour chaque halogène. L'ensemble de matériaux entièrement inorganiques : silicium, SiO2, TiW, Au, Pt, AuSn, ne contient aucun halogène par composition, éliminant le besoin de criblage continu lot par lot pour ces éléments.
  • Règlement européen REACH (CE) 1907/2006 : La liste des substances extrêmement préoccupantes (SVHC) est mise à jour par l'ECHA deux fois par an (généralement en janvier et juillet). Chaque lot de production est criblé par rapport à la liste candidate alors en vigueur. Une déclaration de conformité confirmant l'absence de SVHC listées au-dessus de 0,1% p/p par article est disponible. Pour les clients intégrant le condensateur dans des produits vendus dans l'UE, cette déclaration soutient leurs propres obligations de communication de l'article 33 du REACH.
  • Directive européenne DEEE 2012/19/UE : Bien que la DEEE cible principalement les équipements électroniques finis, l'absence de retardateurs de flamme halogénés et l'utilisation de matériaux facilement séparables et non toxiques dans le HACC151S20V101 soutiennent les objectifs de recyclage et de valorisation en fin de vie fixés par la Directive.

2. Métrologie des paramètres S : science de la mesure et traçabilité

Les données de paramètres S fournies avec chaque lot ne sont pas simplement une mesure représentative : elles sont le résultat d'un processus métrologique défini et traçable aux étalons de calibration nationaux :

  • Chaîne de calibration VNA : Les mesures sont effectuées sur un analyseur de réseau vectoriel calibré (Keysight PNA-X ou équivalent) à l'aide d'une station de sondage de plaquettes ground-signal-ground (GSG). La séquence de calibration utilise un substrat d'étalons d'impédance (ISS) avec des étalons Thru-Reflect-Line (TRL) ou Short-Open-Load-Thru (SOLT). Les étalons ISS sont caractérisés par le fabricant avec une traçabilité au NIST (National Institute of Standards and Technology) via une cascade de normes de transfert mécaniques et électriques.
  • Méthodologie de désenchevêtrement : Les mesures brutes des paramètres S incluent les effets des pastilles de sonde et de l'interconnexion entre le plan de référence du VNA et le dispositif sous test (DUT). Un processus de désenchevêtrement en deux étapes est appliqué : premièrement, les capacités parasites des pastilles et les inductances sont supprimées à l'aide de structures de désenchevêtrement open-short fabriquées sur la même plaquette. Deuxièmement, toute résistance de contact résiduelle sonde-pastille est calibrée à l'aide de structures thru. Les paramètres S désenchevêtrés résultants représentent le comportement intrinsèque de la puce au niveau du plan des électrodes.
  • Budget d'incertitude de mesure : L'incertitude standard combinée pour l'amplitude de S21 (configuration série) est typiquement de ±0,05 dB en dessous de 10 GHz, augmentant à ±0,15 dB à 20 GHz. La capacité dérivée des paramètres S (C = -1/(2πf·Im(Z11))) concorde généralement avec la mesure C-V à 1 MHz dans ±2% à basses fréquences, confirmant la cohérence entre les méthodes de caractérisation DC et RF.
  • Format et livraison des données : Les données de paramètres S sont fournies sous forme de fichiers Touchstone version 1.1 (.s2p) avec des points de fréquence espacés logarithmiquement (100 points par décennie) de 100 MHz à 20 GHz. Les en-têtes de fichiers incluent la date de mesure, le modèle de l'instrument, la méthode de calibration, le type de sonde, les conditions de polarisation et la température. Les fichiers sont compatibles avec toutes les principales plateformes de simulation RF, y compris Keysight ADS, Ansys HFSS, Cadence AWR Microwave Office, et les outils open-source tels que scikit-rf.

3. Provenance des matériaux et intégrité de la chaîne d'approvisionnement

Au-delà de la conformité réglementaire, le HACC151S20V101 soutient les engagements plus larges des clients en matière d'approvisionnement responsable :

  • Minerais de conflit (Section 1502 du Dodd-Frank / Règlement UE 2017/821) : L'or utilisé dans la métallisation supérieure et inférieure est exclusivement sourcé auprès de raffineurs de la liste Good Delivery de la London Bullion Market Association (LBMA) qui sont également certifiés selon le Responsible Minerals Assurance Process (RMAP). Le CMRT (Conflict Minerals Reporting Template, actuellement version 6.4) est rempli annuellement et disponible sur demande. Le modèle couvre l'étain, le tantale, le tungstène et l'or (3TG) provenant de la République Démocratique du Congo et des pays limitrophes.
  • Divulgation complète des matériaux (FMD) : Pour les clients nécessitant des données complètes sur la composition des matériaux, par exemple pour remplir leur propre évaluation du cycle de vie (ACV) au niveau du produit ou pour vérifier la compatibilité avec des environnements d'exposition chimique spécifiques, des déclarations IPC-1752A Classe D sont disponibles sous accord de non-divulgation. Ces déclarations listent chaque substance intentionnellement ajoutée dans le composant, avec les numéros CAS et les plages de masse, au niveau du matériau homogène.
  • Provenance des plaquettes de silicium : Les plaquettes de silicium float-zone sont sourcées auprès de fournisseurs qualifiés avec des certifications ISO 9001:2015 et IATF 16949. La traçabilité des lots de plaquettes est maintenue tout au long de la fabrication, chaque puce finie étant traçable à l'ingot, au cycle de croissance du cristal et à la position de la plaquette via le système de traveller de lot sérialisé.

Caractéristiques principales

  • 100% sans halogène et conforme RoHS/REACH : Teneur en halogène vérifiée <50ppm chacun par CIC. Déclarations de conformité complètes RoHS 2015/863 et REACH SVHC par lot de production. FMD IPC-1752A Classe D disponible sous NDA.
  • Ensemble complet de métrologie des paramètres S : Caractérisation VNA 100MHz-20GHz avec calibration TRL/SOLT traçable au NIST. Fichiers Touchstone .s2p avec données désenchevêtrées open-short. Budget d'incertitude de mesure documenté. Compatible avec Keysight ADS, Ansys HFSS, Cadence AWR et scikit-rf.
  • Chaîne d'approvisionnement des matériaux vérifiée : Approvisionnement en or certifié RMAP. Rapport sur les minerais de conflit CMRT 6.4. Traçabilité des lots de plaquettes de silicium float-zone jusqu'au niveau de l'ingot. Fournisseurs de plaquettes qualifiés ISO 9001:2015 et IATF 16949.
  • Performances thermiques supérieures : Substrat de silicium de 148 W/m·K, θJC <30 K/W avec montage AuSn. Augmentation de la température de jonction inférieure à 1,5°C à puissance de fonctionnement typique.
  • Conservation des données : Données de test spécifiques au lot, paramètres S et déclarations de matériaux conservés pendant au moins 5 ans, soutenant les programmes d'infrastructure et industriels à cycle de vie long.

Spécifications électriques (T = 25°C sauf indication contraire)

Paramètre Valeur Condition
Capacité 150pF ±10% 1MHz, 1.0Vrms
Tolérances disponibles ±10% (K), ±5% (J)
Tension DC nominale 20V Continue
Rigidité diélectrique >100V DC 1 min, 25°C
ESL intrinsèque <0.05nH Désenchevêtré
SRF (fil de liaison 0,5mm) >5GHz Typique
Q @ 1MHz / @ 1GHz >2000 / >250 Typique
Fuite @ 25°C / @ 125°C <10nA > 20V DC
TCC +35ppm/°C -55°C à +125°C
θJC(montage AuSn) <30 K/W Puce 0,50mm
Teneur en halogène (Cl, Br, total) <50ppm chacun, <100ppm total CIC, IEC 61249-2-21
Incertitude des paramètres S (|S21|) ±0.05dB <10GHz, ±0.15dB @ 20GHz facteur de couverture k=2
Diélectrique SiO thermique2, 300nm
Substrat Si float-zone, >1000Ω·cm Fournisseur IATF 16949
Dimensions de la puce 0,50 * 0,50 * 0,15mm ±0.025mm
Métallisation supérieure / inférieure TiW+Au 2.5µm / TiW-Pt-Au 1.0µm Approvisionnement en or RMAP
Temp. de fonctionnement / stockage -55 à +125°C / -65 à +150°C
RoHS / REACH / Sans halogène Conforme, déclarations par lot EU 2015/863, EC 1907/2006, IEC 61249-2-21

Matrice des livrables de documentation

Document Norme/Format Résumé du contenu Inclus
Résumé des tests de lot Format interne Histogramme C, Ifuite distribution, statistiques BV, tracés représentatifs des paramètres S Standard avec chaque expédition
Données de paramètres S Touchstone .s2p v1.1 Paramètres S 2 ports désenchevêtrés, 100MHz-20GHz, 100pts/décade, avec en-tête de métadonnées Standard avec chaque expédition
Déclaration RoHS EN 50581:2012 Confirmation de conformité à EU 2011/65/EU + 2015/863 Standard avec chaque expédition
Déclaration REACH SVHC Selon la liste candidate de l'ECHA Confirmation de l'absence de SVHC au-dessus du seuil de 0,1% p/p Standard avec chaque expédition
Certificat sans halogène IEC 61249-2-21 Teneur en Cl, Br et halogènes totaux par CIC Standard avec chaque expédition
Divulgation complète des matériaux IPC-1752A Classe D Toutes les substances intentionnellement ajoutées par matériau homogène, avec numéros CAS Sur demande, NDA requis
Rapport sur les minerais de conflit CMRT 6.4 Identification des fonderies/raffineries 3TG et pays d'origine Sur demande
Documentation PPAP Selon le manuel PPAP AIAG Ensemble de niveau 3 du processus d'approbation des pièces de production Sur demande, MOQ applicable
Inspection de premier article AS9102 ou équivalent ISO Rapport FAI dimensionnel, électrique et visuel Sur demande

Applications typiques

  • Électronique de dispositifs médicaux (programmes de conformité IEC 60601) nécessitant une divulgation complète des matériaux pour l'évaluation des risques de biocompatibilité et les dossiers de soumission réglementaire
  • Infrastructure de télécommunications (NEBS Niveau 3, normes environnementales ETSI) où les politiques d'approvisionnement sans halogène sont appliquées par les opérateurs réseau
  • Unités de contrôle électroniques automobiles nécessitant une documentation PPAP Niveau 3 dans le cadre du processus de qualification des pièces de production
  • Instrumentation scientifique et de qualité métrologique où la traçabilité des paramètres S des composants soutient l'analyse de l'incertitude de mesure au niveau du système
  • Contrôles industriels à haute fiabilité avec une durée de vie de 10 à 15 ans nécessitant une disponibilité garantie de la documentation à long terme
  • Lignes de produits axées sur la durabilité où le rapport sur les minerais de conflit et le statut sans halogène sont des exigences marketing et de conformité

Support de commande et de qualification

Les expéditions standard comprennent le résumé des tests de lot, les données des paramètres S, la déclaration RoHS, la déclaration REACH SVHC et le certificat sans halogène. Pour les programmes nécessitant PPAP, FAI ou divulgation complète des matériaux, spécifiez les exigences de documentation au stade de la demande de devis. Notre équipe qualité peut fournir des exemples de packages de documentation pour évaluation avant la passation de commande.

Contactez-nous pour discuter de vos exigences en matière de documentation de conformité, de métrologie ou de traçabilité des matériaux.