| Επωνυμία: | Hoan |
| Αριθμός μοντέλου: | HACC151S20V101 |
| MOQ: | 10 τεμάχια |
| Όροι πληρωμής: | L/C,D/A,D/P,T/T,Western Union |
Ο HACC151S20V101 είναι ένας μονόστρωμα MOS πυκνωτής 150pF ± 10% με ονομαστική ισχύ 20V DC, που μοιράζεται υπόστρωμα πυριτίου ζώνης πλεύσης, θερμικό SiO 300nm2Η διάσταση του τσιπ είναι 0,50 mm * 0,50 mm * 0,15 mm. Αυτή η παραλλαγή έχει σχεδιαστεί για πελάτες που απαιτούν τεκμηριωμένη συμμόρφωση με τους κανονισμούς,ιχνηλασιμότητα των μετρήσεων σύμφωνα με τα εθνικά πρότυπα, και πλήρη στοιχεία προέλευσης υλικών ως μέρος της διαδικασίας αξιολόγησης των συστατικών τους.
Η HACC151S20V101 έχει σχεδιαστεί και τεκμηριωθεί για να ικανοποιεί τα βασικά πλαίσια που ισχύουν για τα παθητικά εξαρτήματα:
Τα δεδομένα S-παραμέτρων που παρέχονται με κάθε παρτίδα δεν είναι απλώς αντιπροσωπευτικές μετρήσεις· είναι τα αποτελέσματα μιας καθορισμένης μετρολογικής διαδικασίας που ανιχνεύεται σύμφωνα με τα εθνικά πρότυπα βαθμονόμησης:
Πέρα από τη συμμόρφωση με τις κανονιστικές διατάξεις, το HACC151S20V101 υποστηρίζει τις ευρύτερες δεσμεύσεις των πελατών για υπεύθυνη προμήθεια:
| Παράμετρος | Αξία | Υπόθεση |
| Δυνατότητα | 150pF ± 10% | 1MHz, 1,0Vrms |
| Διαθέσιμες ανοχές | ±10% (K), ±5% (J) | Επικεφαλής |
| Διορισμένη τάση συνεχούς ρεύματος | 20V | Συνεχή |
| Δυνατότητα διηλεκτρικής | > 100V DC | 1 λεπτό, 25°C |
| Εσωτερική ESL | < 0,05nH | Αποενσωματωμένο |
| ΣΧΕ (0,5 mm σύρμα δέσμης) | > 5GHz | Τυπικό |
| Q @ 1 MHz / @ 1 GHz | > 2000 / > 250 | Τυπικό |
| Διαρροή @ 25°C / @ 125°C | < 10nA / < 100nA | 20V συνεχής |
| ΤΣΚ | +35 ppm/°C | -55°C έως +125°C |
| θJC(Συμπληρώματα) | < 30 K/W | 0Τσιπ.50mm |
| Περιεκτικότητα σε αλογόνες (Cl, Br, συνολικά) | < 50 ppm το καθένα, < 100 ppm συνολικά | CIC, IEC 61249-2-21 |
| Αβεβαιότητα παραμέτρου S (S)21(Γέλια) | ±0,05 dB < 10 GHz, ±0,15 dB @ 20 GHz | k=2 συντελεστής κάλυψης |
| Δηλεκτρικό | Θερμικό SiO2, 300nm | Επικεφαλής |
| Υπόστρωμα | Ζώνη πλεύσης Si, > 1000Ω·cm | IATF 16949 προμηθευτής |
| Μέγεθος τσιπ | 00,50 * 0,50 * 0,15 mm | ±0,025 mm |
| Επάνω / πίσω μεταλλικοποίηση | TiW+Au 2,5μm / TiW-Pt-Au 1,0μm | Προμήθεια χρυσού RMAP |
| Θερμοκρασία λειτουργίας / αποθήκευσης | -55 έως +125°C / -65 έως +150°C | Επικεφαλής |
| RoHS / REACH / Χωρίς αλογόντα | Συμμόρφωση, δηλώσεις ανά παρτίδα | ΕΕ 2015/863, ΕΚ 1907/2006, ΔΕΠ 61249-2-21 |
| Έγγραφο | Πρότυπο/Φόρμα | Σύνοψη περιεχομένου | Συμπεριλαμβάνεται |
| Σύνοψη της δοκιμής παρτίδας | Εσωτερική μορφή | Ιστογράφημα C, Iδιαρροήκατανομή, στατιστικά στοιχεία BV, αντιπροσωπευτικά S-parameter plots | Τυπικό σε κάθε αποστολή |
| Δεδομένα παραμέτρου S | Πυρήνας.s2p v1.1 | Αποενσωματωμένες δύο θύρες S-params, 100MHz-20GHz, 100pts/decade, με επικεφαλίδα μεταδεδομένων | Τυπικό σε κάθε αποστολή |
| Διακήρυξη RoHS | EN 50581:2012 | Επιβεβαίωση συμμόρφωσης με την ΕΕ 2011/65/ΕΕ + 2015/863 | Τυπικό σε κάθε αποστολή |
| Διακήρυξη REACH SVHC | Για κάθε υποψήφιο κατάλογο του ECHA | Επιβεβαίωση της απουσίας SVHC άνω του ορίου 0,1% μ/μ | Τυπικό σε κάθε αποστολή |
| Πιστοποιητικό απαλλαγής από αλογένια | IEC 61249-2-21 | Cl, Br και συνολική περιεκτικότητα σε αλογόνες κατά CIC | Τυπικό σε κάθε αποστολή |
| Ολοκληρωμένη αποκάλυψη υλικού | IPC-1752A Τάξη D | Όλες οι σκόπιμα προστιθέμενες ουσίες με ομοιογενές υλικό, με αριθμό CAS | Κατόπιν αιτήματος, απαιτείται NDA |
| Έκθεση για τα ορυκτά των συγκρούσεων | CMRT 6.4 | 3TG ταυτοποίηση χυτήριας/αναλυτής και χώρας προέλευσης | Κατόπιν αιτήματος |
| Πληροφορία PPAP | Κατά το εγχειρίδιο AIAG PPAP | Διαδικασία έγκρισης κατασκευαστικού μέρους επιπέδου 3 πακέτο | Κατόπιν αιτήματος, ισχύει η MOQ |
| Πρώτο άρθρο Ελέγχος | AS9102 ή ισοδύναμο ISO | Έκθεση FAI για τις διαστάσεις, το ηλεκτρικό και το οπτικό | Κατόπιν αιτήματος |
Οι τυποποιημένες αποστολές περιλαμβάνουν την περίληψη δοκιμής παρτίδας, τα δεδομένα S-παραμέτρων, τη δήλωση RoHS, τη δήλωση REACH SVHC και το πιστοποιητικό απαλλαγής από αλογένια.ή πλήρης γνωστοποίηση του υλικούΗ ομάδα ποιότητας μας μπορεί να παρέχει δείγματα πακέτων τεκμηρίωσης για αξιολόγηση πριν από την τοποθέτηση της παραγγελίας.
Επικοινωνήστε μαζί μας για να συζητήσετε τις απαιτήσεις σας σχετικά με τη συμμόρφωση, την μετρολογία ή την ιχνηλασιμότητα των υλικών.