| Nom De La Marque: | Hoan |
| Numéro De Modèle: | HACC102S30V500 |
| Quantité Minimale De Commande: | 10 pièces |
| Conditions De Paiement: | LC, D/A, D/P, T/T, Western Union |
Le HACC102S30V500 est un condensateur MOS (métal-oxyde-semiconducteur) monocouche fabriqué sur un substrat de silicium à haute résistivité avec du dioxyde de silicium (SiO—) obtenu par croissance thermique comme couche diélectrique. La capacitance nominale est de 1000pF (1nF) à une tension de fonctionnement nominale de 30V DC. La puce mesure 0,50 mm * 0,50 mm * 0,15 mm, avec une métallisation supérieure en or de 2,5 µm minimum et une métallisation arrière en or de 1,0 µm minimum. Il est conçu pour les circuits RF et micro-ondes où la taille compacte, la faible perte d'insertion et le comportement thermique prévisible sont des considérations de conception primordiales.
À des valeurs de capacitance comparables, les condensateurs MOS monocouches offrent des avantages de performance distincts par rapport aux condensateurs céramiques multicouches (MLCC) dans les applications à haute fréquence :
Réseaux d'adaptation d'impédance :Blocage DC : Classé à 30 V DC avec une fuite inférieure à 10 nA à 25 °C, le condensateur assure une isolation DC efficace dans les circuits d'injection de polarisation d'amplificateur. La rigidité diélectrique dépasse 100 V DC (test de 1 minute à 25 °C), offrant une marge suffisante pour la plupart des tensions de la chaîne de signaux RF.
Découplage et dérivation : Pour un découplage de l'alimentation efficace au-dessus de 1 GHz, montez le condensateur aussi près que possible de la pastille du composant actif, en utilisant la longueur de fil de liaison minimale ou une courte trace microstrip pour préserver le chemin à faible impédance vers la masse.
Conception de VCO et de filtre : Le TCC de +35 ppm/°C peut être compensé par un élément inductif à TCC négatif pour obtenir une dérive de température nette approchant zéro sur la plage de -55 °C à +125 °C.
Spécifications électriques (T = 25 °C sauf indication contraire)Paramètre
| Condition de test | Capacitance | 1000pF ±10% |
| 1MHz, 1.0Vrms | Options de tolérance de capacitance | ±10% (K), ±5% (J) |
| — | Tension DC nominale | Oui |
| Fonctionnement continu | Rigidité diélectrique | >100V DC |
| 1 minute, 25°C | Densité de capacitance | 500nF/mm² |
| Typique | TCC (Coefficient de température) | >6GHz |
| -55°C à +125°C | Facteur Q @ 1MHz | Plage de température de stockage |
| Typique | Facteur Q @ 1GHz | >6GHz |
| Typique | ESR @ 1GHz | >6GHz |
| Typique | SRF (Fréquence d'auto-résonance) | >6GHz |
| Typique, puce de 500µm | Courant de fuite | <10nA |
| 30V DC, 25°C | Fuite @ 125°C | <100nA |
| 30V DC | Type de diélectrique | SiO thermique |
| 2 | , 300nm—Résistivité du substrat | Oui |
| Silicium flottant | Dimensions de la puce (L*l*h) | 0.50 * 0.50 * 0.15mm |
| Tolérance ±0.025mm | Métallisation supérieure | Au, 2.5µm minimum |
| — | Métallisation arrière | Oui |
| Compatible fixation de puce | Plage de température de fonctionnement | -55°C à +125°C |
| — | Plage de température de stockage | Oui |
| — | Conformité RoHS | Oui |
| UE 2015/863 | Applications typiques | Adaptation d'impédance et blocage DC d'amplificateurs de puissance RF |