| Merknaam: | Hoan |
| Modelnummer: | HACC102S30V500 |
| MOQ: | 10 stuks |
| Betalingsvoorwaarden: | L/C, D/A, D/P, T/T, Western Union |
De HACC102S30V500 is een enkellaagse metaal-oxide-halfgeleider (MOS) condensator gefabriceerd op een siliciumsubstraat met hoge weerstand met thermisch gegroeid siliciumdioxide (SiO—) als diëlektrische laag. Nominale capaciteit is 1000pF (1nF) bij een nominale werkspanning van 30V DC. De chip meet 0,50 mm * 0,50 mm * 0,15 mm, met een minimale gouden toplaag van 2,5 µm en een minimale gouden achterlaag van 1,0 µm. Hij is ontworpen voor RF- en microgolfcircuits waar compact formaat, laag invoegverlies en voorspelbaar thermisch gedrag belangrijke ontwerpoverwegingen zijn.
Bij vergelijkbare capaciteitswaarden bieden enkellaagse MOS-condensatoren duidelijke prestatievoordelen ten opzichte van meerlaagse keramische condensatoren (MLCC's) in hoogfrequente toepassingen:
Impedantieaanpassingsnetwerken:DC-blokkering: Nominaal op 30V DC met lekkage onder 10 nA bij 25°C, biedt de condensator effectieve DC-isolatie in bias injectiecircuits van versterkers. Diëlektrische sterkte overschrijdt 100V DC (1-minuut test bij 25°C), wat voldoende marge biedt voor de meeste RF-signaalketen spanningen.
Bypass en Ontkoppeling: Voor effectieve supply decoupling boven 1 GHz, monteer de condensator zo dicht mogelijk bij het actieve apparaatpad, met behulp van de minimale bonddraadlengte of een korte microstrip trace om het laag-impedantie pad naar aarde te behouden.
VCO en Filter Ontwerp: De +35 ppm/°C TCC kan worden gecompenseerd met een inductor-element met negatieve TCC om een netto temperatuurdrift te bereiken die bijna nul is over het bereik van -55°C tot +125°C.
Elektrische Specificaties (T = 25°C tenzij anders vermeld)Parameter
| Testconditie | Capaciteit | 1000pF ±10% |
| 1MHz, 1.0Vrms | Capaciteit Tolerantie Opties | ±10% (K), ±5% (J) |
| — | Nominale DC Spanning | Ja |
| Continue werking | Diëlektrische Sterkte | >100V DC |
| 1 minuut, 25°C | Capaciteitsdichtheid | 500nF/mm² |
| Typisch | TCC (Temperatuurcoëfficiënt) | >6GHz |
| -55°C tot +125°C | Q Factor @ 1MHz | Opslagtemperatuurbereik |
| Typisch | Q Factor @ 1GHz | >6GHz |
| Typisch | ESR @ 1GHz | >6GHz |
| Typisch | SRF (Zelfresonantiefrequentie) | >6GHz |
| Typisch, 500µm chip | Lekkage Stroom | <10nA |
| 30V DC, 25°C | Lekkage @ 125°C | <100nA |
| 30V DC | Diëlektrisch Type | Thermische SiO |
| 2 | , 300nm—Substraat Weerstand | Ja |
| Float-zone silicium | Chip Afmetingen (L*B*H) | 0.50 * 0.50 * 0.15mm |
| ±0.025mm tolerantie | Top Metallisatie | Au, 2.5µm minimum |
| — | Achterkant Metallisatie | Ja |
| Die attach compatibel | Bedrijfstemperatuurbereik | -55°C tot +125°C |
| — | Opslagtemperatuurbereik | Ja |
| — | RoHS Conformiteit | Ja |
| EU 2015/863 | Typische Toepassingen | RF power amplifier impedantieaanpassing en DC-blokkering |