Detalles de los productos

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Condensadores MOS
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Capacitores MOS resistentes a la humedad Perfil personalizado 30V 150 pF Capacitor Chip de capa única para inalámbricos al aire libre

Capacitores MOS resistentes a la humedad Perfil personalizado 30V 150 pF Capacitor Chip de capa única para inalámbricos al aire libre

Nombre De La Marca: Hoan
Número De Modelo: HACC151S30V101
Cantidad Mínima De Pedido: 10 piezas
Condiciones De Pago: LC, D/A, D/P, T/T, Unión Occidental
Información detallada
Lugar de origen:
Shannxi, China
Certificación:
ISO 9001:2015, RoHS
Capacidad:
150pF ±10%
Clasificación de voltaje:
30V DC
ESL con chip intrínseco:
<0,05 nH
SRF:
>5GHz (con cable de conexión de 0,5 mm)
Tipo de montaje:
Fijación de matriz eutéctica / adherible con alambre
Resaltar:

Condensadores MOS resistentes a la humedad

,

Capacitador personalizado de 150 pF

,

Capacitador resistente a la humedad de 150 pF

Descripción de producto

Capacitor MOS de Perfil Personalizado HACC151S30V101 150pF 30V Resistente a la Humedad de Capa Única para Inalámbricos Exteriores


Capacitor MOS HACC151S30V101 Robusto al Medio Ambiente: Geometrías Personalizadas e Inmune a la Humedad 150pF

El HACC151S30V101 es un capacitor MOS de capa única de 150pF ±10% con una clasificación de 30V CC, que comparte el mismo sustrato de silicio de zona flotante, dieléctrico de SiOTiW (100 nm) + Au (mínimo 2.5 µm) térmico y plataforma de metalización TiW-Au que la serie HACC. Las dimensiones del chip son 0.50 mm * 0.50 mm * 0.15 mm en la configuración estándar, con relaciones de aspecto rectangulares personalizadas disponibles hasta 4:1. El dispositivo se caracteriza para su uso en entornos donde la exposición a la humedad, el ciclo térmico y la flexibilidad del proceso de ensamblaje son consideraciones de diseño primarias.

1. Geometrías de Chip Personalizadas: Adaptando el Capacitor al Diseño del Sustrato

En microcircuitos híbridos y módulos multichip, la colocación de componentes en chip a menudo está limitada por el área de unión de troquel disponible entre dispositivos activos, líneas de transmisión y características del sustrato. Los chips de capacitor cuadrados estándar pueden no encajar de manera óptima en estos espacios, lo que obliga a realizar compromisos en el diseño. La plataforma HACC aborda esto a través de una geometría configurable:

  • Factores de forma rectangulares: Ajustando la máscara de fotolitografía para el electrodo superior y el paso de la calle de corte, los chips se pueden fabricar con relaciones de longitud a ancho de 1:1 a 4:1. El valor de capacitancia se establece de forma independiente por el área del electrodo superior dentro de la huella del chip disponible. Por ejemplo, un chip de 0.30 mm * 0.60 mm (relación de aspecto 2:1) puede acomodar la misma capacitancia de 150 pF que el chip cuadrado estándar de 0.50 mm, encajando en una tira de unión de troquel estrecha entre líneas de transmisión paralelas.
  • Opción de electrodo con borde (margen): En ensamblajes que utilizan epoxi conductor relleno de plata para la unión de troquel, existe el riesgo de que el epoxi exprimido desde debajo del chip pueda subir por la pared lateral y cortocircuitar el electrodo superior con el sustrato conductor. La variante con borde incorpora un margen de SiOTiW (100 nm) + Au (mínimo 2.5 µm) sin metalizar (típicamente de 25-50 µm de ancho) alrededor del perímetro del electrodo de oro superior. Este borde cerámico sirve como una barrera física, evitando que cualquier filete de epoxi alcance el área del electrodo activo. La contrapartida es una ligera reducción en el área del electrodo para un tamaño de chip dado, típicamente del 10-20% dependiendo del ancho del margen, que se compensa con un aumento proporcional en las dimensiones del chip para mantener la capacitancia objetivo.
  • Opción de parte posterior flotante: Los chips estándar tienen una parte posterior de oro completamente metalizada para la unión de troquel conductor a tierra. Para aplicaciones que requieren un capacitor conectado en serie (flotante), como bloques CC en serie con una ruta de señal donde ningún terminal está conectado a tierra, los chips se pueden suministrar sin metalización en la parte posterior. El sustrato de silicio actúa entonces como un soporte dieléctrico de alta resistividad en lugar de un terminal eléctrico, y ambas conexiones se realizan mediante enlaces de alambre a almohadillas de electrodo superior separadas.
  • Conjuntos de chips multivalor: Dentro de una familia de huellas de chip fijas, la capacitancia se puede ajustar escalando el área del electrodo superior. Los valores estándar en la plataforma de 0.50 mm incluyen 10 pF, 22 pF, 47 pF, 100 pF, 150 pF y 220 pF. Esto permite ensamblar una red de adaptación de RF completa o un conjunto de desacoplamiento de derivación utilizando chips con dimensiones idénticas, lo que simplifica las herramientas de ensamblaje y la receta del proceso.

2. Inmunidad a la Humedad: Por Qué el SiO₂ Supera a los Dieléctricos Cerámicos y Poliméricos en Entornos Húmedos

Los componentes electrónicos que operan en entornos no controlados enfrentan múltiples mecanismos de degradación relacionados con la humedad. El HACC151S30V101 es inherentemente resistente a todos ellos a través de su sistema de materiales:

  • Absorción de agua a granel - no aplicable: El SiOTiW (100 nm) + Au (mínimo 2.5 µm) térmico es un vidrio de silicato completamente denso sin porosidad, límites de grano o microvacíos. Las moléculas de agua (diámetro cinético ~0.27 nm) no pueden penetrar la red amorfa de SiOTiW (100 nm) + Au (mínimo 2.5 µm) a una velocidad prácticamente relevante. En comparación, los dieléctricos cerámicos porosos y las películas poliméricas (polipropileno, poliéster, PPS) absorben cantidades medibles de agua, lo que aumenta la constante dieléctrica efectiva y provoca que la capacitancia varíe hacia arriba. La serie HACC muestra un cambio de capacitancia <0.1% después de 1000 horas a 85 °C/85% HR con polarización de CC de 30 V.Fuga superficial - minimizada por la geometría:
  • En condiciones de humedad, una fina película de agua puede condensarse en las superficies dieléctricas expuestas, creando un camino conductor para la corriente de fuga superficial. En los capacitores cerámicos, el dieléctrico está expuesto en las terminaciones del chip. En la estructura HACC, el dieléctrico de SiO2TiW (100 nm) + Au (mínimo 2.5 µm)Migración electroquímica - sin plata en el sistema:
  • Los capacitores cerámicos con electrodos internos de plata-paladio son susceptibles a la migración de iones de plata bajo polarización de CC en condiciones de humedad. Los iones de plata se disuelven del electrodo del ánodo, migran a través de la humedad adsorbida y se depositan como dendritas metálicas en el cátodo, causando eventualmente un cortocircuito. El sistema de metalización HACC (TiW, Au y Pt) no contiene plata. El oro es electroquímicamente noble y no forma iones migratorios bajo ninguna condición práctica de polarización-humedad.Clasificación MSL 1:
  • Según J-STD-020, el HACC151S30V101 se clasifica como Nivel de Sensibilidad a la Humedad 1, lo que indica una vida útil ilimitada en el piso a ≤30 °C/85% HR. No se requiere almacenamiento en seco, horneado antes del reflujo ni seguimiento de la exposición a la humedad, lo que simplifica la gestión del inventario en entornos de producción.3. Resumen de Pruebas de Calificación Ambiental

Los lotes de producción se califican a través de una matriz de pruebas ambientales estandarizada. Los siguientes resultados son típicos para la serie HACC:

Prueba

Condición Duración Aceptación Vida útil a alta temperatura de operación (HTOL)
125 °C, polarización de CC de 30 V 1000 horas Cizallamiento de troquel Troquel de 1 mm², eutéctico AuSn-65 °C a +150 °C, aire a aire25 µm Au, tirón destructivo
ΔC < 2%, sin daños mecánicos Humedad con polarización 85 °C/85% HR, CC de 30 V Troquel de 1 mm², eutéctico AuSnΔC < 0.5%, fuga < 2* inicial
Almacenamiento a alta temperatura 150 °C, sin polarización 1000 horas Troquel de 1 mm², eutéctico AuSnTirón de enlace de alambre25 µm Au, tirón destructivo
Post-estrés >5 gf mínimo, modo de rotura de talón Cizallamiento de troquel Troquel de 1 mm², eutéctico AuSnPost-estrés
>2.5 kgf 4. Compatibilidad del Proceso de Ensamblaje El enlace de bola de Au termosónico (alambre de 25 µm, etapa de 120-150 °C, fuerza de 25-35 gf, ultrasonido de 80-120 mW) produce una resistencia a la tracción típica >6 gf con modo de falla de rotura de talón. El enlace de cuña de Al ultrasónico (alambre de Al-1%Si de 25 µm o 33 µm, temperatura ambiente, fuerza de 20-30 gf, ultrasonido de 100-150 mW) está disponible para procesos que no pueden tolerar etapas calentadas. Múltiples hilos de enlace en una sola almohadilla reducen la inductancia proporcionalmente a 1/N. Métodos de unión de troquel:
La soldadura eutéctica AuSn (80Au/20Sn, pico de 280-320 °C, atmósfera de gas formador) proporciona la menor resistencia térmica y la mayor resistencia mecánica. El epoxi conductor relleno de plata (como Epotek H20E, curado a 150 °C durante 1 hora) es una alternativa para sustratos sensibles a la temperatura: la capa barrera de Pt en la metalización posterior evita la formación de intermetálicos de plata-oro durante el curado del epoxi y la operación posterior a alta temperatura. Enlace de alambre: El enlace de bola de Au termosónico (alambre de 25 µm, etapa de 120-150 °C, fuerza de 25-35 gf, ultrasonido de 80-120 mW) produce una resistencia a la tracción típica >6 gf con modo de falla de rotura de talón. El enlace de cuña de Al ultrasónico (alambre de Al-1%Si de 25 µm o 33 µm, temperatura ambiente, fuerza de 20-30 gf, ultrasonido de 100-150 mW) está disponible para procesos que no pueden tolerar etapas calentadas. Múltiples hilos de enlace en una sola almohadilla reducen la inductancia proporcionalmente a 1/N. Formatos de envío:

Estándar: paquete de gofre conductor (2 pulgadas, 50 o 100 cavidades). Opcional: gel-pak para recogida automática por vacío, cinta y carrete (transportador de 8 mm) para ensamblaje de alto volumen compatible con SMT. Todos los formatos son seguros para ESD.

Almacenamiento:

  • Vida útil ilimitada en el piso a ≤30 °C/85% HR (MSL 1). Almacenamiento a largo plazo recomendado: gabinete de nitrógeno seco o bolsa de barrera de humedad sellada al vacío con desecante.Características Clave
  • Geometría de Chip Personalizable: Estándar cuadrado (0.50 mm), rectangular hasta relación de aspecto 4:1. Opción de electrodo con borde para ensamblaje con epoxi conductor. Opción de parte posterior flotante para aplicaciones conectadas en serie. Múltiples valores de capacitancia en la misma familia de huellas.
  • Excelente Resistencia a la Humedad: SiO
  • 2 térmico denso con absorción de agua a granel cero. <0.1% de cambio de capacitancia después de 1000 horas a 85 °C/85% HR. Sin riesgo de migración de plata. Vida útil ilimitada en el piso MSL 1.

Inductancia Parásita Casi Cero:

  • Confiabilidad Ambiental Probada:
  • Calificado a través de 1000 horas HTOL, 500 ciclos de ciclo térmico y 500 horas de humedad con polarización. Tirón de enlace post-estrés >5 gf y cizallamiento de troquel >2.5 kgf.Ensamblaje Multiproceso:TiW (100 nm) + Au (mínimo 2.5 µm)Especificaciones Eléctricas (T = 25 °C a menos que se indique lo contrario)Parámetro
  • ValorCondición de PruebaCapacitancia150 pF ±10%
  • 1 MHz, 1.0 VrmsTolerancias Disponibles
  • ±10% (K), ±5% (J)

Voltaje CC Nominal

30 V Continuo Rigidez Dieléctrica
>100 V CC Rampa de 1 minuto, 25 °C ESL Intrínseca del Chip
<0.05 nH Desincrustado de parámetros S Dispositivos médicos portátiles sometidos a transpiración y humedad corporal
>5 GHz Típico Factor Q @ 1 MHz
>2000 Típico Corriente de Fuga @ 25 °C
<10 nA 30 V CC Fuga @ 85 °C/85% HR, 500 h
<20 nA Medido a 25 °C post-exposición Cambio de Capacitancia (85 °C/85% HR, 1000 h)
+35 ppm/°C -55 °C a +125 °C Cambio de Capacitancia (85 °C/85% HR, 1000 h)
<0.1% Polarización de CC de 30 V durante la prueba Nivel de Sensibilidad a la Humedad
MSL 1 J-STD-020, vida útil ilimitada en el piso Dieléctrico
SiO 2 Unidades de radio remotas (RRU) de estaciones base celulares exteriores donde la condensación y el ciclo de temperatura son condiciones de operación normales
Sustrato Si de zona flotante, >1000 Ω·cm
Dimensiones del Chip (Estándar) 0.50 * 0.50 * 0.15 mm
±0.025 mm; AR personalizado disponible Metalización SuperiorTiW (100 nm) + Au (mínimo 2.5 µm) Dispositivos médicos portátiles sometidos a transpiración y humedad corporal
Metalización Posterior TiW-Pt-Au, Au mínimo 1.0 µm Dispositivos médicos portátiles sometidos a transpiración y humedad corporal
Temperatura de Operación -55 °C a +125 °C
Temperatura de Almacenamiento -65 °C a +150 °C Dispositivos médicos portátiles sometidos a transpiración y humedad corporal
RoHS Conforme EU 2015/863
Aplicaciones Típicas Unidades de radio remotas (RRU) de estaciones base celulares exteriores donde la condensación y el ciclo de temperatura son condiciones de operación normales Dispositivos médicos portátiles sometidos a transpiración y humedad corporal
Nodos de sensores IoT industriales en entornos de fábrica o agrícolas no acondicionados Electrónica de navegación y comunicación marina que opera en atmósferas costeras cargadas de sal Dispositivos médicos portátiles sometidos a transpiración y humedad corporal
Módulos de RF multichip que requieren un conjunto adaptado de valores de capacitancia en una huella de chip uniforme para ensamblaje automatizado Circuitos híbridos donde las relaciones de aspecto de chip rectangulares permiten un diseño de sustrato eficiente sin área de unión de troquel desperdiciada Configuración y Pedido Personalizado

El producto estándar se envía como chips cuadrados de 0.50 mm * 0.50 mm en paquetes de gofre conductores. Las siguientes configuraciones personalizadas están disponibles bajo pedido con cantidades mínimas de pedido que generalmente comienzan en 1,000 piezas:

  • Chips rectangulares: especifique longitud, ancho y capacitancia dentro del rango de 10 pF-220 pF
  • Electrodo con borde (margen): especifique el ancho del margen de 25 µm a 75 µm
  • Parte posterior flotante (sin metal posterior)
  • Valores de capacitancia no estándar dentro del rango de 10 pF-1000 pF en la plataforma de 0.50 mm
  • Empaquetado en gel-pak o cinta y carrete (transportador de 8 mm o 12 mm)
  • Póngase en contacto con nuestro equipo de ventas con sus especificaciones objetivo para una evaluación de viabilidad, estimación de tiempo de entrega y cotización.