Einzelheiten zu den Produkten

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MOS Kondensatoren
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Feuchtigkeitsbeständige MOS-Kondensatoren Profil 30V 150 pF Kondensator Einfachschiff für drahtlose Außeneinrichtungen

Feuchtigkeitsbeständige MOS-Kondensatoren Profil 30V 150 pF Kondensator Einfachschiff für drahtlose Außeneinrichtungen

Markenname: Hoan
Modellnummer: HACC151S30V101
Mindestbestellmenge: 10 Stück
Zahlungsbedingungen: L/C, D/A, D/P, T/T, Western Union
Detailinformationen
Herkunftsort:
Shannxi, China
Zertifizierung:
ISO 9001:2015, RoHS
Kapazität:
150pF ±10 %
Nennspannung:
30 V DC
Eigener Chip ESL:
<0,05 nH
SRF:
>5GHz (mit 0,5mm Bonddraht)
Montageart:
Drahtbondbare/eutektische Die-Befestigung
Hervorheben:

Feuchtigkeitsfest MOS-Kondensatoren

,

150 pF Kondensator nach Maßgabe

,

Feuchtigkeitsbeständiger 150 pF Kondensator

Produkt-Beschreibung

Profil-MOS-Kondensator HACC151S30V101 150pF 30V Feuchtigkeitsbeständiges Einzelschicht-Chip für drahtlose Außenfunkdienste


HACC151S30V101 Umweltschutzfähiger MOS-Kondensator: angepasste Geometrie und Feuchtigkeitsdichtheit 150 pF

Der HACC151S30V101 ist ein 150pF ± 10% einlagiger MOS-Kondensator mit einer Leistung von 30 V Gleichstrom, der das gleiche Float-Zone-Silizium-Substrat, thermisches SiO2Die Chip-Dimensionen sind 0,50 mm * 0,50 mm * 0,15 mm in der Standardkonfiguration, mit benutzerdefinierten rechteckigen Seitenverhältnissen bis zu 4:1Das Gerät ist für den Einsatz in Umgebungen geeignet, in denen Feuchtigkeitsbelastung, Wärmezyklus und Flexibilität des Montageprozesses vorrangige Konstruktionsbedürfnisse sind.

1. Custom Chip Geometries: Abstimmung des Kondensators mit dem Layout des Substrats

In hybriden Mikrokreisen und Multi-Chip-Modulen ist die Platzierung von Chip-Komponenten häufig durch den verfügbaren Anschlussbereich zwischen aktiven Geräten, Übertragungsleitungen und Substratfunktionen eingeschränkt.Standard quadratische Kondensatorchips passen möglicherweise nicht optimal in diese RäumeDie HACC-Plattform greift dies durch konfigurierbare Geometrie an:

  • Rechteckige Formfaktoren:Durch die Anpassung der Fotolithographie-Maske für die obere Elektrode und die Würfelstraße können Chips mit einem Länge-Breite-Verhältnis von 1:1 bis 4 hergestellt werden:1Die Kapazität wird unabhängig vom oberen Elektrodenbereich innerhalb des verfügbaren Chip-Fußabdrucks festgelegt.1 Seitenverhältnis) kann die gleiche 150-pF-Kapazität wie die Standard-.50mm Quadratchip, in einen engen Verstärkungsstreifen zwischen parallelen Übertragungsleitungen.
  • Option für eine Grenzelektrode:mit einer Breite von mehr als 20 mm,Es besteht die Gefahr, dass Epoxy aus dem unteren Chip gepresst, die Seitenwand hochkriechen und die obere Elektrode zum leitfähigen Substrat verkürzen kann.Die Grenzvariante enthält ein unmetallisiertes SiO2Diese keramische Grenze dient als physikalischer Damm und verhindert, dass ein Epoxyd-Filett den aktiven Elektrodenbereich erreicht. The trade-off is a slight reduction in electrode area for a given chip size—typically 10-20% depending on margin width—which is compensated by a proportional increase in chip dimension to maintain the target capacitance.
  • Schwebende Rückseite:Standard-Chips haben eine vollmetallisierte Goldrückseite für leitfähige Matrize, die an der Erde befestigt werden. For applications requiring a series-connected (floating) capacitor—such as DC blocks in series with a signal path where neither terminal is grounded—chips can be supplied without backside metallizationDas Siliziumsubstrat fungiert dann eher als dielektrische Unterstützung mit hoher Widerstandsfähigkeit als als elektrisches Endgerät, wobei beide Verbindungen über Drahtbindungen hergestellt werden, um die Oberelektroden zu trennen.
  • Mehrwertige Chipsätze:Innerhalb einer festen Chip-Footprint-Familie kann die Kapazität durch Skalieren der oberen Elektrodenfläche angepasst werden.Dies ermöglicht es, ein komplettes HF-Matching-Netzwerk oder ein Bypass-Entkopplungsset mit Chips mit identischen Abmessungen zu montieren, vereinfacht das Montagewerkzeug und die Prozessrezeptur.

2. Feuchtigkeitsimmunität: Warum SiO2 Keramik- und Polymerdilektrika in feuchten Umgebungen übertrifft

Elektronische Bauteile, die in unkontrollierten Umgebungen arbeiten, sind mit mehreren Feuchtigkeits-abbauenden Mechanismen konfrontiert.Der HACC151S30V101 ist durch sein Materialsystem gegen alle von ihnen resistent.:

  • Absorption von Wasser in buller Form: nicht anwendbar:Wärme SiO2Wassermoleküle (kinetischer Durchmesser ~ 0,27 nm) können das amorphe SiO nicht durchdringen2Im Vergleich dazu absorbieren poröse keramische Dielektrika und Polymerfolien (Polypropylen, Polyester, PPS) messbare Wassermengen.die die effektive dielektrische Konstante erhöht und die Kapazität nach oben treibtDie HACC-Reihe zeigt nach 1000 Stunden bei 85 °C/85% RH bei 30 V Gleichspannungsverzerrung eine Kapazitätsschicht von < 0,1%.
  • Oberflächenleckage durch Geometrie minimiert:In feuchten Bedingungen kann sich eine dünne Wasserfolie auf freiliegenden dielektrischen Oberflächen kondensieren und einen leitfähigen Pfad für den Oberflächenleckstrom schaffen.Die Elektrizität ist an den Chip-Endungen ausgesetzt.In der HACC-Struktur wird das SiO2Die Elektrizität ist vollständig zwischen der oberen Goldelektrode und dem Siliziumsubstrat eingeklemmt, wobei nur der dünne (150 μm) Chiprand einen dielektrischen Querschnitt zeigt.Der Leckstromanstieg nach 500 Stunden bei 85°C/85% RH mit Verzerrung liegt typischerweise unter 2* der trockenen Ausgangslinie und bleibt bei 30V unter 20nA.
  • Elektrochemische Migration: kein Silber im System:Keramische Kondensatoren mit Silber-Palladium-Internen Elektroden sind anfällig für Silber-Ionen-Migration unter Gleichstrom-Verschiebung unter feuchten Bedingungen.durch adsorbierte Feuchtigkeit wandernDas HACC-Metallisierungssystem enthält kein TiW, Au und Pt.Gold ist elektrochemisch edel und bildet unter keinen praktischen Bedingungen von Schwankungs-Feuchtigkeit keine Wanderungen..
  • Befähigung für MSL 1:Gemäß J-STD-020 ist der HACC151S30V101 als Feuchtigkeitsempfindlichkeit Stufe 1 eingestuft, was eine unbegrenzte Lebensdauer bei ≤ 30 °C/85% RH anzeigt.und keine Überwachung der Feuchtigkeitsbelastung erforderlich ist.

3. Zusammenfassung der Umweltqualifikationsprüfung

Die Qualität der Produktionspartien wird durch eine standardisierte Umweltprüfmatrix ermittelt.

Prüfung Die Situation Dauer Annahme
Betriebsdauer bei hohen Temperaturen (HTOL) 125°C, 30V Gleichspannungsverzerrung 1000 Stunden ΔC < 1%, Leckage < 2* anfänglich
Temperaturzyklus -65 °C bis +150 °C, Luft-Luft 500 Zyklen ΔC < 2%, keine mechanischen Beschädigungen
Biased Feuchtigkeit 85 °C/85% RH, 30 V Gleichstrom 500 Stunden ΔC < 0,5%, Leckage < 2* Anfang
Hochtemperaturlagerung 150°C, unvoreingenommen 1000 Stunden ΔC < 1%
Wire Bond Pull 25 μm Au, zerstörerische Anziehung Post-Stress > 5gf mindestens, Fersenbremsmodus
Die Schere 1 mm2 die, AuSn eutectic Post-Stress > 2,5 kgf

4. Kompatibilität des Montageprozesses

Der HACC151S30V101 unterstützt mehrere Montageprozessströme ohne Umschulung:

  • Die Befestigungsmethoden:Eutexische AuSn-Lötungen (80Au/20Sn, 280-320°C Spitze, Gasatmosphäre bilden) bieten die geringste Wärmebeständigkeit und höchste mechanische Festigkeit. cure at 150°C for 1 hour) is an alternative for temperature-sensitive substrates—the Pt barrier layer in the backside metallization prevents silver-gold intermetallic formation during epoxy cure and subsequent high-temperature operation.
  • mit einer Breite von mehr als 20 mm,Die thermosonische Au-Kugelbindung (25μm Draht, 120-150°C-Stufe, 25-35gf Kraft, 80-120mW Ultraschall) liefert eine typische Zugkraft von > 6gf bei Heel-Break-Ausfallmodus.Ultraschall-Al-Keilbindung (25 μm oder 33 μm Al-1% Si-Draht), Raumtemperatur, 20-30gf Kraft, 100-150mW Ultraschall) für Prozesse, die nicht erhitzte Stufen tolerieren können.
  • Versandformate:Standard: leitfähige Waffelpackung (2-Zoll-, 50- oder 100-Hohlräume).Alle Formate sind ESD-sicher.
  • AufbewahrungUnbegrenzte Lebensdauer bei ≤ 30 °C/85% RH (MSL 1) Langzeitlagerung empfohlen: Trockenkörper oder Vakuumdichtungsbelag mit Trocknungsmittel.

Wesentliche Merkmale

  • Geometrie der anpassbaren Chips:Quadratische (0,50 mm) Standard, rechteckige bis zu 4: 1 Seitenverhältnis. Grenze Elektrode Option für leitfähige Epoxideinrichtung. Schwebende Rückseite Option für seriell verbundene Anwendungen.Mehrfache Kapazitätswerte in derselben Fußabdruckfamilie.
  • Ausgezeichnete Feuchtigkeitsbeständigkeit:Dichte thermische SiO2Bei einer Absorption von Wasser bei Null. < 0,1% Kapazitätsschub nach 1000 Stunden bei 85°C/85% RH. Kein Risiko für Silbermigration. MSL 1 unbegrenzte Bodenlebensdauer.
  • Nahezu Null-Parasit-Induktivität:Ein-Schicht-Architektur mit intrinsischer ESL <0,05nH. SRF >5GHz für 150pF-Wert mit 0,5 mm Bindungsdraht. Benutzer-stützbar über Bindungsdrahtgeometrie.
  • Nachgewiesene Umweltverträglichkeit:Qualifiziert durch 1000hr HTOL, 500 Zyklen Temperaturzyklus und 500hr verzerrter Luftfeuchtigkeit.
  • Mehrprozessmontage:Kompatibel mit eutektischen AuSn- und leitfähigen Ag-Epoxidhämmungen. Unterstützt Au-Kugel- und Al-Keildrahtverbindungen. Erhältlich in Waffle-Pack, Gel-Pack oder Klebeband.

Elektrische Spezifikationen (T = 25°C, sofern nicht angegeben)

Parameter Wert Prüfungszustand
Kapazität 150pF ± 10% 1MHz, 1,0Vrms
Verfügbare Toleranzen ±10% (K), ±5% (J) - Ich weiß.
Nennspannung Gleichspannung 30 V Kontinuierlich
Dielektrische Festigkeit > 100 V Gleichstrom Einminütige Rampe, 25°C
Eingeborene Chip-ESL < 0,05nH Aus dem S-Parameter entfernt
SRF (mit 0,5 mm Bindungsdraht) > 5 GHz Typisch
Q-Faktor @ 1MHz > 2000 Typisch
Leckstrom @ 25°C < 10nA 30 V Gleichstrom
Leckage @ 85°C/85% RH, 500 Stunden < 20nA Messung bei 25°C nach der Exposition
TCC +35 ppm/°C -55°C bis +125°C
Kapazitätsschicht (85 °C/85% RH, 1000 Stunden) < 0,1% 30 V Gleichstromverzerrung während der Prüfung
Feuchtigkeitsempfindlichkeit MSL 1 J-STD-020, unbegrenzte Lebensdauer
Dielektrische Wärme SiO2 - Ich weiß.
Substrat Schwimmbereich Si, > 1000Ω·cm - Ich weiß.
Chipgrößen (Standard) 0.50 * 0,50 * 0,15 mm ± 0,025 mm; benutzerdefinierte AR verfügbar
Oberste Metallisierung TiW (100 nm) + Au (2,5 μm min) - Ich weiß.
Rückseite der Metallisierung TiW-Pt-Au, Au 1,0 μm min Pt-Schranke für Ag-Epoxid
Betriebstemperatur -55°C bis +125°C - Ich weiß.
Speichertemperatur -65°C bis +150°C - Ich weiß.
RoHS Konformität EU 2015/863

Typische Anwendungen

  • Fernfunkgeräte (RRU) der Außenzellnetzbasisstationen, bei denen Kondensations- und Temperaturzyklen normale Betriebsbedingungen sind
  • Elektronische Steuergeräte (ECU) für Fahrzeuge, die einem thermischen Zyklus unter der Motorhaube, Straßensalzsprüh und Kondensfeuchtigkeit ausgesetzt sind
  • Industrielle IoT-Sensorknoten in unkonditionierten Fabrik- oder landwirtschaftlichen Umgebungen
  • Schifffahrts- und Kommunikationselektronik, die in salzreichen Küstenatmosphären arbeitet
  • Medizinische tragbare Geräte, die Schweiß und Körperfeuchtigkeit ausgesetzt sind
  • Mehrchip-HF-Module, für die ein gleichmäßiger Chip-Fußabdruck für die automatisierte Montage einen abgestimmten Satz von Kapazitätswerten erfordert
  • Hybride Schaltkreise, bei denen rechteckige Chip-Aspektverhältnisse eine effiziente Substrat-Layout ohne Verschwendung der Verstärkungsfläche ermöglichen

Bestellung und individuelle Konfiguration

Standard-Produktlieferungen als 0,50mm * 0,50mm Quadrat-Chips in leitfähigen Waffle-Packs.000 Stück:

  • Rechteckchips: Längen, Breiten und Kapazitäten im Bereich von 10 pF bis 220 pF angeben
  • Grenzelektrode: Grenzbreite von 25 μm bis 75 μm angeben
  • Schwebende Rückseite (ohne Rückseite aus Metall)
  • Nichtstandardwerte für die Kapazität innerhalb des Bereichs 10pF-1000pF auf der 0,50mm-Plattform
  • Verpackungen aus Gel- oder Klebeband (8 mm oder 12 mm Träger)

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