| Merknaam: | Hoan |
| Modelnummer: | HACC471S100V701 |
| MOQ: | 10 stuks |
| Betalingsvoorwaarden: | L/C, D/A, D/P, T/T |
Definitie van product:De HACC471S100V701 is een eenlaagse metaal-oxide-halfgeleider (MOS) condensator gebouwd op een hoogweerstandsfloat-zone siliciumsubstraat met een thermisch gekweekte siliciumdioxide (SiO)2Het levert 470 pF (± 10%) bij een gelijkstroomwerkspanning van 100 V in een 0,50 mm × 0,50 mm × 0,15 mm draadbindende chip.Dezelfde toestelfamilie wordt ook beschreven als een single-layer condensator (SLC) chip, een RF-chipcapacitor, een draadbindende condensator of een MOS-chipcapacitor.
De twee kenmerken die het kenmerken zijn:symmetrische dubbelpolariteiteneen hoge dV/dt transiente immuniteit. Together they make the part a good fit for bipolar and AC-coupled RF circuits in which the capacitor must behave identically for positive and negative signal excursions and must tolerate fast voltage ramps.
In een conventionele MOS-capacitor is de gemeten capaciteit afhankelijk van de toegepaste biaspolariteit:de ene polariteit drijft het silicium naar accumulatie (C ≈ Cox) terwijl de tegenovergestelde polariteit het naar uitputting drijftDe HACC471S100V701 maakt gebruik van een symmetrisch metaal-oxide-halfgeleiderplatform met een gedegenereerde,zwaar gedopeerde float-zone silicium elektrode zodat de halfgeleidercapaciteit blijft ver boven de oxidecapaciteit in beide richtingenHet resultaat is een vrijwel identieke C-V-kenmerken voor positieve en negatieve bias± 1% over ±100 VDit maakt het apparaat geschikt voor AC-gekoppelde en bipolaire signaalpaden waarbij de condensator zich identiek moet gedragen, ongeacht de signaalpolariteit, waardoor asymmetrie en vervorming van de golfvorm worden verminderd.
Een condensator die aan een snelle spanningsramp wordt onderworpen, trekt een verplaatsingsstroom i = C · dV/dt. De enkellagige constructie verwijdert de interne elektrodenstapel van een meerlagige keramische condensator,het houden van de gelijkwaardige serie-induktansie (ESL) onder00,05 nHin combinatie met de ≥ 2,5 μm goudmetallisatie, die een robuust stroompad en thermische massa met een lage weerstand biedt,de HACC471S100V701 is bestand tegen snelle dV/dt-gebeurtenissen zoals schakelpieken en pulsed-RF-enveloppenVoor een 470 pF-apparaat produceert een 1000 V/μs-rampa ongeveer 0,47 A verplaatsingsstroom, die het onderdeel zonder capacitieve afbraak of metaalbeschadiging verwerkt.De 100 V-klasse met een 250% dielectrische weerstandsspanning biedt extra ruimte.
De SiO2Dielektrische verwarming met een temperatuurcapaciteitscoëfficiënt (TCC) van ongeveer+35 ppm/°C, bijna lineair van -55 °C tot +125 °C en een lage gelijkstroomvervorming (< 10 ppm/V).2000 bij 1 MHzen blijft boven200 bij 1 GHz, terwijl de dielectrische absorptie doorgaans lager is dan 0,05% ∙ belangrijk voor de stappen van de sample-and-hold en de precisie-integrator.
| Parameter | Waarde | Testconditie |
|---|---|---|
| Capaciteit | 470 pF ±10% | 1 MHz, 1,0 Vrms |
| Nominale gelijkstroomspanning | 100 V | Continu |
| Dielektrische weerstandsspanning | > 250 V gelijkstroom | 1 minuut, 25°C, 100% getest |
| Dual-polariteit symmetrie | ± 1% (C+ vs. C-) | ± 100 V vertekening |
| TCC | +35 ppm/°C | -55°C tot +125°C |
| DC-biascoëfficiënt | < 10 ppm/V | 0 V naar nominale spanning |
| Q-factor | > 2000 @ 1 MHz | Typisch |
| Dissipatiefactor | ≤ 0,15% | 1 kHz, 1 Vrms |
| ESL | < 0,05 nH | De-ingebed |
| SRF | > 4 GHz | Chipniveau, typisch |
| Leckage-stroom | < 10 nA | 100 V gelijkstroom, 25°C |
| Chip afmetingen | 0.50 × 0,50 × 0,15 mm | ± 25 μm |
| Werktemperatuur | -55°C tot +125°C | — |
| RoHS | Voldoende | EU 2015/863 |
| Test | Voorwaarde | Resultaten |
|---|---|---|
| Draadbinding trekken | 25 μm Au-draad, destructief | > 6 gf |
| Vochtgevoeligheid | J-STD-020 | MSL 1 |
| TDDB (tijdafhankelijke dielektrische afbraak) | 125°C, nominale spanning | > 10 jaar levensduur |
| Temperatuurbereik | -55°C tot +125°C | Volledige conformiteit met de parameters |
![]()