| Nombre De La Marca: | Hoan |
| Número De Modelo: | HACC471S20V500 |
| Cantidad Mínima De Pedido: | 10 piezas |
| Condiciones De Pago: | LC, D/A, D/P, T/T, Unión Occidental |
ElHACC471S20V500es un condensador MOS de capa única totalmente personalizable y de alto rendimiento fabricado sobre un sustrato de silicio de zona flotante de alta resistividad (>1000 ohmios·cm) con SiO de crecimiento térmico de 300 nm.2dieléctrico. Clasificado a 470pF ±10% con voltaje de funcionamiento continuo de 20 V CC, este dispositivo combinafactor Q alto,ESL/ESR ultrabajo,Estabilidad de capacitancia excepcional, yContacto superior unible por cableen un paquete compacto a escala de chip de 0,50*0,50*0,15 mm. La arquitectura de borde (margen) de doble cara evita cortocircuitos conductores de epoxi durante la fijación del troquel y, al mismo tiempo, proporciona una referencia visual clara para la alineación automatizada de la unión de cables. Disponible como producto de catálogo estándar con opciones de personalización completas para valor de capacitancia, tolerancia, clasificación de voltaje, geometría del chip y metalización posterior para satisfacer sus requisitos específicos de circuito de RF.
La arquitectura de ruta de corriente coaxial de una sola capa elimina fundamentalmente los mecanismos parásitos de inductancia y resistencia que degradan el rendimiento de MLCC en frecuencias de GHz. La corriente fluye verticalmente desde el electrodo de oro superior a través del SiO.2dieléctrico al plano de tierra posterior: una longitud de recorrido de solo 0,15 mm sin electrodos internos, sin vías y sin enrutamiento serpenteante.
En frecuencias de gigahercios, el condensador Q se convierte en el mecanismo de pérdida dominante en las redes de adaptación de impedancia. La ESR ultrabaja del HACC471S20V500 garantiza que en una combinación de salida de amplificador de potencia 5G n77 (3,3-4,2 GHz), el condensador recupere entre 0,3 y 0,8 dB de pérdida por elemento coincidente en comparación con un MLCC de capacitancia equivalente, una ventaja fundamental para cumplir los objetivos de eficiencia del transmisor.
El dieléctrico cerámico paraeléctrico COG/NPO (C0G/NP0) de Clase I proporciona estabilidad constante en todas las condiciones de funcionamiento:
Para diseños de te de polarización, tanque VCO y red de polarización activa, esta estabilidad elimina la necesidad de un complejo ajuste del varactor de compensación de temperatura y tablas de reducción de capacitancia dependientes de la polarización.
El electrodo superior presenta una avanzada pila de metalización de película delgada pulverizada multicapa:Tan/TiW/Ni/Aucon un espesor mínimo de oro de 2,5 µm, diseñado específicamente para una unión de cables termosónicos confiable y de alto rendimiento:
La arquitectura con borde de doble cara coloca un margen cerámico no metalizado alrededor de los electrodos superior e inferior, lo que proporciona contención epóxica durante la fijación del troquel y una referencia óptica clara para la unión automatizada, lo que elimina los requisitos de orientación durante la recogida y colocación.
El HACC471S20V500 está construido sobre una plataforma de condensadores MOS configurable. Ofrecemos personalización completa de los siguientes parámetros con una rápida producción de prototipos:
| Parámetro | Valor estándar | Rango personalizado |
|---|---|---|
| Capacidad | 470pF ±10% | 10 pF – 1000 pF; ±5% de tolerancia disponible |
| Tensión nominal | 20 VCC | 6,3 V – 100 V CC |
| Tipo dieléctrico | COG/NPO (Clase I) | X7R (Clase II) o alto K personalizado |
| Dimensiones de los chips | 0,50*0,50*0,15mm | 0,25*0,25 mm a 5,0*5,0 mm; rectangular hasta 4:1 AR |
| Metalización superior | TaN/TiW/Ni/Au, 2,5 µm Au | Hasta 5,0 µm de Au para unión de cables pesados |
| Metalización trasera | TiW-Pt-Au, 1,0 µm Au | Solo Au, predeposición de AuSn (3-5 µm) o Al |
| Arquitectura de diseño | Bordeado a doble cara | Una cara Con o sin bordes |
| Plazo de entrega del prototipo | 3-4 semanas | Acelerado 1-2 semanas disponibles |
| Parámetro | Valor | Condición de prueba |
|---|---|---|
| Capacitancia nominal | 470pF ±10% | 1 MHz, 1,0 Vrms, 25 °C |
| Tensión CC nominal | 20V | Continuo, -55°C a +125°C |
| Tensión de resistencia dieléctrica | >50 V (250 % nominal) | Permanencia de 5 segundos, prueba de producción al 100% |
| Factor Q a 1MHz | >2000 | Típico |
| Factor Q a 1GHz | >200 | Típico |
| ESR a 1GHz | <0,1 ohmios | Desincrustado |
| ESL con chip intrínseco | <0,05 nH | Desintegrado del parámetro S |
| Factor de disipación | ≤0,15% | 1 kHz, 1,0 Vrms |
| Corriente de fuga a 25°C | <10nA | 20 VCC |
| TCC | 0 ±30 ppm/°C | -55°C a +125°C, COG/NPO |
| Dimensiones de los chips | 0,50*0,50*0,15mm | Tolerancia de ±25 µm |
| Temperatura de funcionamiento | -55°C a +125°C | Cumplimiento paramétrico total |
| Sensibilidad a la humedad | MSL 1 | Vida útil ilimitada del piso según J-STD-020 |
Contáctenos hoycon sus especificaciones de destino. Las muestras de evaluación estándar de 470 pF se envían en un plazo de 1 a 2 semanas. Valores de capacitancia personalizados, clasificaciones de voltaje, geometrías de chip y opciones de metalización disponibles con un plazo de entrega de prototipos de 3 a 4 semanas. Se proporciona documentación completa de cumplimiento de RoHS, REACH y libre de halógenos por lote de producción.