Einzelheiten zu den Produkten

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MOS Kondensatoren
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Kundenspezifischer High-Q-Ultra-Low-ESL-470-pF-MOS-Kondensator-Drahtbond-Einzelschichtchip für HF-Mikrowellenschaltungen

Kundenspezifischer High-Q-Ultra-Low-ESL-470-pF-MOS-Kondensator-Drahtbond-Einzelschichtchip für HF-Mikrowellenschaltungen

Markenname: Hoan
Modellnummer: HACC471S20V500
Mindestbestellmenge: 10 Stück
Zahlungsbedingungen: L/C, D/A, D/P, T/T, Western Union
Detailinformationen
Herkunftsort:
Shaanxi, China
Zertifizierung:
ISO 9001:2015
Kapazität:
470 pF ±10 % (kundenspezifisch ±5 % verfügbar)
Nennspannung:
20 V Gleichstrom
Spannungsfestigkeit (DWV):
>50 V (250 % Nennwert), 100 % produktionsgeprüft
Isolationswiderstand:
≥10⁴ MΩ bei Nennspannung DC, 25 °C
Q-Faktor bei 1 MHz:
>2000
ESR bei 1 GHz:
<0,1 Ohm
Eigener Chip ESL:
<0,05 nH (ausgebettet)
Eigenresonanzfrequenz (SRF):
>2 GHz auf Chipebene, >800 MHz mit 0,5 mm Au-Bonddraht
Dissipationsfaktor:
≤0,15 % bei 1 kHz, 1,0 Vrms
TCC (Temperaturkoeffizient):
0 ±30 ppm/°C (-55 °C bis +125 °C, COG/NPO Klasse I)
Dielektrische Absorption:
<0,1 % bei 1 kHz
Leckstrom:
<10 nA bei 25 °C, <100 nA bei 125 °C (20 V DC)
Substratwiderstand:
>1000 Ohm·cm, Float-Zone-Silizium
Chipabmessungen:
0,50 × 0,50 × 0,15 mm (±25 µm Toleranz)
Top-Metallisierung:
TaN/TiW/Ni/Au, ≥2,5 µm Au
Rückseitenmetallisierung:
TiW-Pt-Au, ≥1,0 ​​µm Au (Pt-Diffusionsbarriere)
Designarchitektur:
Doppelseitig umrandet (Rand)
Zugfestigkeit der Drahtverbindung:
>6 gf für 25 µm Au-Draht (MIL-STD-883 Methode 2011.7)
Montageart:
Drahtbondierbares/leitfähiges Epoxid- oder AuSn-eutektisches Die-Attach
Esd-Bewertung:
Klasse 0 (HBM) gemäß JESD22-A114
Betriebstemperatur:
-55°C bis +125°C
Feuchtigkeits-Empfindlichkeit:
MSL 1 (Unbegrenzte Bodenlebensdauer gemäß J-STD-020)
Hervorheben:

Zusammengestellter hoher Q-MOS-Kondensator

,

ultra-niedriger ESL-HF-Kondensator

,

drahtgebundener Einlagenchip

Produkt-Beschreibung

HACC471S20V500 Custom High Q Ultra-Low ESL MOS Kondensator 470pF 20V Drahtverbindbarer Einzelschichtchip

DieHACC471S20V500ist ein leistungsfähiger, vollständig anpassbarer EinlagemOS-Kondensator, hergestellt auf einem hochresistiven Float-Zone-Silizium-Substrat (> 1000 Ohm·cm) mit 300 nm thermisch gewachsenem SiO2Dies ist eine dielektrische Vorrichtung, die bei 470 pF ± 10% bei 20 V Gleichspannung mit Dauerbetriebsspannung ausgestattet ist.Hoher Q-Faktor,Ultra-niedrige ESL/ESR,Außergewöhnliche Kapazitätstabilität, undWire-Bondable Top-Kontaktin einer kompakten 0,50*0,50*0,15 mm großen Verpackung.Die doppelseitige Grenzarchitektur (Margin) verhindert leitfähige Epoxidharten während der Anbringung, während sie eine klare visuelle Referenz für die automatisierte Ausrichtung von Drahtbindern bietetErhältlich als Standardkatalogprodukt mit vollständigen Anpassungsmöglichkeiten für Kapazität, Toleranz, Spannungsbewertung, Chipgeometrie,und Rückseite Metallisierung Ihre spezifischen RF-Schaltkreis Anforderungen entsprechen.

Wichtige Leistungsvorteile

1. Hoher Q-Faktor und ultra-niedrige ESL/ESR für die HF-Leistung

Die einlagige Koaxialstromanlage eliminiert grundsätzlich die parasitären Induktivitäts- und Widerstandsmechanismen, die die Leistung von MLCC bei GHz-Frequenzen beeinträchtigen.Strom fließt vertikal von der oberen Goldelektrode durch das SiO2Die Elektrizität wird durch die dielektrische Verbindung zur hinteren Bodenfläche verringert. Eine Streckenlänge von nur 0,15 mm ohne interne Elektroden, keine Durchgänge und keine serpentinen Routen.

  • Q-Faktor> 2000 bei 1MHz, > 200 bei 1GHz
  • Intrinsische Chip-ESL:< 0,05nH 10* niedriger als die gleichwertige Kapazität 0402 MLCC
  • ESR bei 1 GHz:<0,1 Ohm 5-15* Verbesserung gegenüber vergleichbaren MLCC
  • Selbstresonanzfrequenz (SRF):> 2 GHz Chip-Level, > 800 MHz System-Level mit einem einzigen 25 μm Bindungsdraht
  • Verlustfaktor:≤ 0,15% bei 1 kHz ≥ 0,15% der in Wärme umgewandelten HF-Energie

Bei Gigahertz-Frequenzen wird der Kondensator Q zum dominierenden Verlustmechanismus in Impedanz-Matching-Netzwerken.2GHz) Leistungsverstärker-Ausgabe übereinstimmt, erhält der Kondensator im Vergleich zu einem MLCC mit gleichwertiger Kapazität 0,3-0,8 dB Durchschnittsverlust pro passendem Element zurück, was ein entscheidender Vorteil für die Erreichung der Effizienzziele des Senders ist.

2Außergewöhnliche Kapazitätsstabilität bei Temperatur und Spannung

Der paraelektrische keramische Dielektrikum der Klasse I COG/NPO (C0G/NP0) gewährleistet eine gleichbleibende Stabilität unter allen Betriebsbedingungen:

  • Temperaturkoeffizient (TCC):0 ± 30 ppm/°C über -55°C bis +125°C
  • Gleichspannungskoeffizient (VCC):< 10 ppm/V COG/NPO unterhält eine gleichbleibende Bypassimpedanz unter allen Verzerrungsbedingungen
  • Null Alterungseffekt:Keine ferroelektrischen Bereiche
  • Niedrige dielektrische Absorption:< 0,1% Vernachlässigbarer Speichereffekt in Proben- und Halte- und Präzisionsintegrator-Schaltungen

Für bias tee, VCO-Tank und aktive Bias-Netzwerk-Designs beseitigt diese Stabilität die Notwendigkeit für komplexe Temperaturkompensations-Varactor-Tuning und bias-abhängige Kapazitätsabschätzungstabellen.

3. Wire-Bondable Top Kontakt für Chip-Scale-Verpackungen

Die oberste Elektrode verfügt über einen fortschrittlichen mehrschichtigen Sputter-Dünnschichtmetallisierungstapel TaN/TiW/Ni/Aumit einer Golddicke von mindestens 2,5 μm speziell für zuverlässige, hochleistungsfähige thermosonische Drahtverbindungen konstruiert:

  • Au-Bond-Oberfläche von 2,5 μm Dicke:Die zart goldene Schicht absorbiert 40-100mW Ultraschallbindungsenergie.Verteilung auf die gesamte Pad-Fläche ohne Übertragung schädlicher Spannungen auf das keramische Substrat
  • Weites Prozessfenster:Kompatibel mit 25 μm Au-Thermosonische Kugelbindung (Stufe 120-150 °C, 15-35gf Kraft, 40-80mW Ultraschall) und 25 μm Al-Ultraschall-Keilbindung
  • Anziehkraft der Bindung:> 6gf typisch für 25μm Au-Draht übersteigt die Anforderungen der MIL-STD-883 Methode 2011.7 für die Qualifizierung einer Waferpartie
  • TaN-Adhäsionsschicht:Ultraschwere chemische Bindung an Keramikdielektrika verhindert die Elektrodendelamination bei schnellen thermischen Kreisläufen (-55 °C bis +125 °C, ΔT=180 °C)
  • Ni-Schranke:Verhindert die Auslaugung von Gold in bleifreie Lötungen während des eutiktischen Rückflusses

Die doppelseitige Grenzarchitektur platziert einen unmetallisierten Keramikrand um die oberen und unteren Elektroden.die Epoxidbindung während der Druckdichtung und eine klare optische Bezugsrahmen für die automatisierte Bindung ermöglicht .

Anpassungsplattform

Der HACC471S20V500 basiert auf einer konfigurierbaren MOS-Kondensatorplattform.

Parameter Standardwert Benutzerdefinierte Reichweite
Kapazität 470pF ± 10% 10 pF 1000 pF; ±5% Toleranz verfügbar
Nennspannung 20 V Gleichstrom 6.3V 100V Gleichstrom
Dielektrische Art COG/NPO (Klasse I) X7R (Klasse II) oder High-K
Chipgrößen 00,50*0,50*0,15 mm 0.25*0,25mm bis 5,0*5,0mm; rechteckig bis 4:1 AR
Oberste Metallisierung TaN/TiW/Ni/Au, 2,5 μm Au Bis zu 5,0 μm Au für die Verbindung schwerer Drähte
Rückseite der Metallisierung TiW-Pt-Au, 1,0 μm Au Au-only, AuSn-Vorablagerung (3-5μm) oder Al
Design-Architektur Zwei-seitige Grenzen Einseitig Grenzfeste oder grenzenlos
Vorlaufzeit für Prototypen 3-4 Wochen Beschleunigte Ein- bis Zwei-Wochen-Bereitstellung

Technische Spezifikation

Parameter Wert Prüfungszustand
Nennkapazität 470pF ± 10% 1MHz, 1,0Vrms, 25°C
Nennspannung Gleichspannung 20 V Kontinuierlich, von -55°C bis +125°C
Dielektrische Spannung > 50 V (250% Nennvolt) 5 Sekunden Aufenthalt, 100%ige Produktionsprüfung
Q-Faktor @ 1MHz > 2000 Typisch
Q-Faktor @ 1 GHz > 200 Typisch
ESR @ 1 GHz < 0,1 Ohm Nicht eingebettet
Eingeborene Chip-ESL < 0,05nH Aus dem S-Parameter entfernt
Verlustfaktor ≤ 0,15% 1 kHz, 1,0 Vrms
Leckstrom @ 25°C < 10nA 20 V Gleichstrom
TCC 0 ± 30 ppm/°C -55°C bis +125°C, COG/NPO
Chipgrößen 0.50 * 0,50 * 0,15 mm Toleranz von ± 25 μm
Betriebstemperatur -55°C bis +125°C Vollständige Übereinstimmung mit den Parametern
Feuchtigkeitsempfindlichkeit MSL 1 Unbegrenzte Lebensdauer des Bodens pro J-STD-020

Typische Anwendungen

  • 5G NR FR1/FR2 Leistungsverstärker Gleichspannungsblockade und Impedanzmatching
  • GaN-on-SiC HEMT Bias Netzwerk Entkopplung (28-50V Abflussversorgung)
  • Modul T/R mit Phasen-Array-Kopplung und Umgehung zwischen den Stufen
  • Optische Transceiver DC-Blöcke (100G/400G/800G QSFP-DD, OSFP)
  • VCO-Tankkreisläufe und Präzisionsresonatornetze
  • Fahrzeugradar und V2X-HF-Front-Ends (76-81 GHz)
  • Satellitenkommunikation im L-Band über Nutzlasten im Ka-Band

Schnelle Referenz zur Montage

  • Die Anlage:Leitfähiges Silber-Epoxid (Epotek H20E, 120°C/30min Härtung) oder AuSn-Eutektisch (300-320°C, N2/H2).
  • Wirbeverbindung:25 μm Au-Thermosonische Kugelbindung (Stufe 120-150 °C, Kraft 15-35 gf, Ultraschall 40-80 mW) oder 25 μm Al-Keilbindung bei Raumtemperatur
  • Schuldverschreibung:Bindungslandung ≥ 25 μm von der Elektrodenkante entfernt
  • AufbewahrungWaffelpack oder Gelpack in Stickstoffschrank bei 20-25°C, 40-60% RH. MSL 1: unbegrenzte Lebensdauer

Kontaktieren Sie uns noch heuteStandard 470pF Auswertungsproben versenden innerhalb von 1-2 Wochen.und Metallisierungsoptionen mit einer Vorlaufzeit von 3-4 WochenDie vollständige RoHS-, REACH- und halogenfreie Konformitätsdokumentation für jede Produktionssparte.