| Markenname: | Hoan |
| Modellnummer: | HACC101S25V500 |
| Mindestbestellmenge: | 10 Stück |
| Zahlungsbedingungen: | L/C, D/A, D/P, T/T, Western Union |
Der HACC101S25V500 ist ein einlagiger MOS-Kondensator mit 100pF ±10% und einer Nennspannung von 25V DC, gefertigt auf leitfähigem Float-Zone-Silizium (>1000Ω·cm) mit einer 300nm thermisch gewachsenen SiO2 Dielektrikum. Die Chipabmessungen betragen 0,50 mm × 0,50 mm × 0,15 mm mit TiW-Au-Top-Metallisierung (mindestens 2,5 µm Au) und TiW-Pt-Au-Rückseite (mindestens 1,0 µm Au). Dieses Bauteil ist für Anwendungen konzipiert, die die höchstmögliche Selbstresonanzfrequenz und die geringste Masseinduktivität durch direkte leitfähige Substratmasse erfordern. Vollständig anpassbar: Kapazität von 10pF bis 220pF, Spannungsfestigkeit von 6,3V bis 50V, kundenspezifische Chipgeometrien und alternative Rückseitenmetallierungsoptionen mit einer Prototypen-Vorlaufzeit von 3-4 Wochen.
Die Selbstresonanzfrequenz (SRF) eines Kondensators – die Frequenz, bei der sich die parasitäre Serieninduktivität mit der Kapazität abstimmt und oberhalb derer sich das Bauteil induktiv verhält – bestimmt die maximal nutzbare Frequenz für Bypass- und Kopplungsanwendungen. Der HACC101S25V500 erreicht eine außergewöhnlich hohe SRF durch seine einlagige Architektur und optimierte Elektrodengeometrie:
Herkömmliche Chip-Kondensatoren erfordern einen separaten Masse-Bonddraht oder eine Durchkontaktierung, um die Masse zu verbinden, was parasitäre Induktivität hinzufügt, die die Hochfrequenzleistung beeinträchtigt. Der HACC101S25V500 nutzt die inhärent leitfähige Natur seines Float-Zone-Siliziumsubstrats, um eine direkte Masseanbindung über die Rückseite zu ermöglichen:
Um eine Chip-Level-SRF von über 10GHz zu erreichen, muss jeder Beitrag zur parasitären Induktivität berücksichtigt werden:
| Parameter | Wert | Bedingung |
| Kapazität | 100pF ±10% | 1MHz, 1,0Vrms |
| Verfügbare Toleranzen | ±10% (K), ±5% (J) | — |
| Nenn-DC-Spannung | 25V | Kontinuierlich |
| Dielektrische Spannungsfestigkeit | >75V DC (250% Nennwert) | 1 min, 25°C, 100% Produktionstest |
| Intrinsische Chip-ESL | <0,03nH | De-embedded aus S-Parameter |
| Chip-Level SRF | >10GHz | Kein Bonddraht |
| System SRF (0,5mm Bonddraht) | >1,5GHz | Einzelner 25µm Au-Draht |
| System SRF (2x parallele Drähte) | >2,5GHz | Zwei 25µm Au-Drähte |
| Q-Faktor @ 1MHz | >2000 | Typisch |
| Q-Faktor @ 1GHz | >300 | Typisch |
| ESR @ 1GHz | <0,08Ω | Typisch |
| Verlustfaktor | ≤0,15% | 1kHz, 1,0Vrms |
| Leckstrom @ 25°C | <10nA | 25V DC |
| Leckstrom @ 125°C | <100nA | 25V DC |
| TCC | +35ppm/°C | -55°C bis +125°C |
| Isolationswiderstand | ≥104 MΩ | Nennspannung DC, 25°C |
| Dielektrische Absorption | <0,1% | 1kHz |
| Dielektrikum | Thermische SiO2, 300nm | — |
| Substrat | Float-Zone-Si, >1000Ω·cm | Leitfähig |
| Chip-Abmessungen | 0,50 × 0,50 × 0,15mm | ±0,025mm |
| Top-Metallisierung | TiW-Au, ≥2,5µm Au | — |
| Rückseiten-Metallisierung | TiW-Pt-Au, ≥1,0µm Au | Pt-Diffusionsbarriere |
| Design-Architektur | Doppelseitig gerahmt (Rand) | — |
| Drahtbond-Zugfestigkeit | >6gf für 25µm Au-Draht | MIL-STD-883 Methode 2011.7 |
| Betriebstemperatur | -55°C bis +125°C | Vollständig parametrisch |
| Lagertemperatur | -65°C bis +150°C | — |
| Feuchtigkeitsempfindlichkeit | MSL 1 | J-STD-020, unbegrenzte Lagerfähigkeit |
| RoHS | Konform | EU 2015/863 |
Standardprodukt wird als 0,50 mm × 0,50 mm quadratische Chips in leitfähigen Waffelpackungen geliefert. Die folgenden kundenspezifischen Konfigurationen sind auf Anfrage mit Mindestbestellmengen ab 10 Stück erhältlich:
Kontaktieren Sie uns mit Ihren Zielspezifikationen für eine Machbarkeitsbewertung, eine Schätzung der Vorlaufzeit und ein Angebot. Standard-100pF-Evaluierungsmuster werden innerhalb von 1–2 Wochen geliefert. Kundenspezifische Konfigurationen mit einer Prototypen-Vorlaufzeit von 3–4 Wochen.