| Nom De La Marque: | Hoan |
| Numéro De Modèle: | HACC101S25V500 |
| Quantité Minimale De Commande: | 10 pièces |
| Conditions De Paiement: | LC, D/A, D/P, T/T, Western Union |
Le HACC101S25V500 est un condensateur MOS monocouche de 100pF ±10% nominal à 25V DC, fabriqué sur du silicium conducteur float-zone (>1000Ω·cm) avec une SiO de 300nm formée thermiquement2 diélectrique. Les dimensions de la puce sont de 0,50 mm × 0,50 mm × 0,15 mm avec métallisation supérieure TiW-Au (2,5 µm d'or minimum) et backside TiW-Pt-Au (1,0 µm d'or minimum). Cet appareil est conçu pour les applications exigeant la fréquence auto-résonante la plus élevée possible et l'inductance de masse la plus faible grâce à une mise à la terre directe du substrat conducteur. Entièrement personnalisable : capacité de 10pF à 220pF, tensions nominales de 6,3V à 50V, géométries de puce personnalisées et options de métallisation backside alternatives disponibles avec un délai de prototypage de 3 à 4 semaines.
La fréquence auto-résonante (SRF) d'un condensateur — la fréquence à laquelle l'inductance série parasite résonne avec la capacité, au-dessus de laquelle le composant se comporte de manière inductive — détermine la fréquence utilisable maximale pour les applications de découplage et de couplage. Le HACC101S25V500 atteint une SRF exceptionnellement élevée grâce à son architecture monocouche et à sa géométrie d'électrode optimisée :
Les condensateurs de puce traditionnels nécessitent un fil de liaison de masse ou un via séparé pour établir la connexion de masse, ajoutant une inductance parasite qui dégrade les performances à haute fréquence. Le HACC101S25V500 exploite la nature intrinsèquement conductrice de son substrat de silicium float-zone pour permettre une mise à la terre directe par le backside :
Atteindre une SRF au niveau de la puce supérieure à 10GHz nécessite une attention à chaque contributeur à l'inductance parasite :
| Paramètre | Valeur | Condition |
| Capacité | 100pF ±10% | 1MHz, 1,0Vrms |
| Tolérances disponibles | ±10% (K), ±5% (J) | — |
| Tension DC nominale | 25V | Continue |
| Tension de tenue diélectrique | >75V DC (250% nominal) | 1 min, 25°C, test de production à 100% |
| ESL de puce intrinsèque | <0,03nH | Dé-embedded à partir des paramètres S |
| SRF au niveau de la puce | >10GHz | Sans fil de liaison |
| SRF du système (fil de liaison de 0,5 mm) | >1,5GHz | Fil d'or unique de 25 µm |
| SRF du système (2 fils parallèles) | >2,5GHz | Deux fils d'or de 25 µm |
| Facteur Q @ 1MHz | >2000 | Typique |
| Facteur Q @ 1GHz | >300 | Typique |
| ESR @ 1GHz | <0,08Ω | Typique |
| Facteur de dissipation | ≤0,15% | 1kHz, 1,0Vrms |
| Courant de fuite @ 25°C | <10nA | 25V DC |
| Courant de fuite @ 125°C | <100nA | 25V DC |
| TCC | +35ppm/°C | -55°C à +125°C |
| Résistance d'isolement | ≥104 MΩ | Tension nominale DC, 25°C |
| Absorption diélectrique | <0,1% | 1kHz |
| Diélectrique | SiO thermique2, 300nm | — |
| Substrat | Si float-zone, >1000Ω·cm | Conducteur |
| Dimensions de la puce | 0,50 × 0,50 × 0,15mm | ±0,025mm |
| Métallisation supérieure | TiW-Au, ≥2,5 µm Au | — |
| Métallisation backside | TiW-Pt-Au, ≥1,0 µm Au | Barrière de diffusion Pt |
| Architecture de conception | Bordée double face (marge) | — |
| Force de traction du fil de liaison | >6gf pour fil d'or de 25 µm | MIL-STD-883 Méthode 2011.7 |
| Température de fonctionnement | -55°C à +125°C | Paramétrique complet |
| Température de stockage | -65°C à +150°C | — |
| Sensibilité à l'humidité | MSL 1 | J-STD-020, durée de vie illimitée |
| RoHS | Conforme | EU 2015/863 |
Le produit standard est livré sous forme de puces carrées de 0,50 mm × 0,50 mm dans des emballages waffle conducteurs. Les configurations personnalisées suivantes sont disponibles sur demande avec des quantités minimales de commande commençant généralement à 10 pièces :
Contactez-nous avec vos spécifications cibles pour une évaluation de faisabilité, une estimation du délai et un devis. Les échantillons d'évaluation standard de 100pF sont expédiés sous 1 à 2 semaines. Les configurations personnalisées avec un délai de prototypage de 3 à 4 semaines.