Einzelheiten zu den Produkten

Created with Pixso. Haus Created with Pixso. Produits Created with Pixso.
MOS Kondensatoren
Created with Pixso.

Ultra-Low Leakage 150pF 100V MOS-Kondensator Hohe dielektrische Durchschlagsfestigkeit Extreme thermische Beständigkeit SLC-Chip

Ultra-Low Leakage 150pF 100V MOS-Kondensator Hohe dielektrische Durchschlagsfestigkeit Extreme thermische Beständigkeit SLC-Chip

Markenname: Hoan
Modellnummer: HACC151S100V200
Mindestbestellmenge: 10 Stück
Zahlungsbedingungen: L/C, D/A, D/P, T/T, Western Union
Detailinformationen
Herkunftsort:
Shaanxi, China
Zertifizierung:
ISO 9001:2015, RoHS, REACH
Kapazität:
150pF ±10 % (±5 % verfügbar)
Nennspannung:
100 V Gleichstrom
Dielektrische Spannungsfestigkeit:
>250 V (250 % Nennleistung), 100 % produktionsgeprüft
Leckstrom bei 25 °C:
<10 nA bei 100 V DC
Leckstrom bei 200 °C:
<500 nA bei 100 V DC
Maximale Betriebstemperatur:
200 °C kontinuierlich
Dielektrische Art:
Thermisches SiO2, 300 nm (hochtemperaturstabil)
TCC:
+35 ppm/C (-55 °C bis +200 °C)
Eigener Chip ESL:
<0,05 nH
ESR bei 1 GHz:
<0,1 Ohm
Q-Faktor bei 1 MHz / bei 1 GHz:
>2000 / >200
Chipabmessungen:
0,50 x 0,50 x 0,15 mm
Top-Metallisierung:
TiW-Au, 2,5 um Au min
Rückseitenmetallisierung:
TiW-Pt-Au, 1,0 µm Au min (Pt-Diffusionsbarriere)
Montageart:
Drahtbondbare / eutektische AuSn- oder Hochtemperatur-Epoxid-Die-Befestigung
Betriebstemperatur:
-55 °C bis +200 °C
Feuchtigkeits-Empfindlichkeit:
MSL 1 (Unbegrenzte Bodenlebensdauer gemäß J-STD-020)
ESD-Toleranz (HBM):
>2kV (Klasse 2 gemäß JESD22-A114)
Designarchitektur:
Doppelseitig umrandet (Rand)
Isolationswiderstand:
≥10⁴ MΩ bei Nennspannung DC, 25 °C
Lagertemperatur:
-65°C zu +150°C
Substratwiderstand:
>1000 Ohm·cm, Float-Zone-Silizium
Zugfestigkeit der Drahtverbindung:
>6 gf für 25 µm Au-Draht (MIL-STD-883 Methode 2011.7)
Dissipationsfaktor:
≤0,15 % bei 1 kHz, 1,0 Vrms
Hervorheben:

Ultra-Low Leakage MOS-Kondensator 150pF

,

100V MOS-Kondensator hohe dielektrische Festigkeit

,

SLC-Chip MOS-Kondensator thermische Beständigkeit

Produkt-Beschreibung

HACC151S100V200 Ultra-Low Leakage MOS-Kondensator: 150pF 100V mit hoher dielektrischer Durchschlagsfestigkeit und extremer thermischer Beständigkeit

Der HACC151S100V200 ist ein einlagiger MOS-Kondensator mit 150pF ±10% und einer Nennspannung von 100V DC, der für den Dauerbetrieb bei Temperaturen bis zu 200°C ausgelegt ist. Hergestellt auf Float-Zone-Silizium (>1000Ω·cm) mit einer 300nm thermisch gewachsenen SiO2-Dielektrikum, liefert dieses Gerät branchenführende<10nA leakage current at 25°C along with>250V dielektrische Spannungsfestigkeit. Die Chipabmessungen betragen 0,50 x 0,50 x 0,15mm mit TiW-Au-Top-Metallisierung (mindestens 2,5µm Au) und TiW-Pt-Au-Rückseite (mindestens 1,0µm Au, Pt-Diffusionsbarriere).

1. Ultra-niedriger Leckstrom - Sub-Nanoampere Leistung

Der Leckstrom in MOS-Kondensatoren wird hauptsächlich durch trap-assistierte Tunnelung durch das SiO2-Dielektrikum und Oberflächenleckage entlang der Chipkanten dominiert. Der HACC151S100V200 minimiert beide Mechanismen durch optimierte thermische Oxidation und fortschrittliche Passivierung:

  • Leckstrom bei 25°C: <10nA bei 100V DC - Außergewöhnlich niedrig im Vergleich zum branchenüblichen <10nA für MOS-Kondensatoren mit äquivalenter Kapazität. Erreicht durch extrem niedrige Grenzflächen-Trap-Dichte durch optimierte Trockenoxidation mit Stickstoffglühen.
  • Leckstrom bei 200°C: <500nA bei 100V DC - Geringer Leckstrom auch bei der extremen Betriebstemperatur von 200°C beibehalten. Das breite Bandlückendes thermischen SiO2-Dielektrikums (8,9eV) sorgt für inhärente Hochtemperatur-Leckstromunterdrückung.
  • Guard-Ring-Randpassivierung unterdrückt Oberflächenleckströme entlang der Chipseitenwände und erhält die Isolationsintegrität nach 1000 Stunden HAST (130°C/85%RH) mit weniger als 10% Leckstromverschlechterung.

2. Hohe dielektrische Durchschlagsfestigkeit - 250% Marge für missionskritische Zuverlässigkeit

Der dielektrische Durchschlag ist ein führender Ausfallmechanismus bei Hochspannungskondensatoren. Der HACC151S100V200 eliminiert dieses Risiko durch konservative Designmargen:

  • Nennspannung: 100V DC Dauerbetrieb - Geeignet für GaN-Leistungsverstärker-Drain-Bias-Netzwerke (28-50V) mit 2-3-fachem Headroom, Hochspannungs-DC-DC-Wandlerfilterung und gepulste Energiespeicherung.
  • Dielektrische Spannungsfestigkeit (DWV): >250V DC (250% Nennwert) - 100% Produktionsprüfung an jedem Die mit 5 Sekunden Haltezeit. Diese 2,5-fache Marge übertrifft die Standard-2-fache Derating-Richtlinie für hochzuverlässige Luft- und Raumfahrt- sowie Verteidigungsanwendungen.
  • Intrinsische dielektrische Festigkeit: >10MV/cm - Das 300nm thermische SiO2 sorgt für eine gleichmäßige Feldverteilung ohne die internen Elektrodenrandkonzentrationseffekte, die die Durchschlagsspannung von MLCCs begrenzen. Die TDDB-Lebensdauer übersteigt 10 Jahre bei 125°C und Nennspannung.

3. Extreme thermische Beständigkeit - Dauerbetrieb von -55°C bis +200°C

Herkömmliche MOS-Kondensatoren sind bis maximal 125°C ausgelegt. Der HACC151S100V200 erweitert dies um 75°C durch Material-Engineering:

  • 200°C Dauerbetrieb - Qualifiziert durch 1000-stündige HTOL bei 200°C mit 100V DC-Bias. Akzeptanzkriterien: weniger als 2% Kapazitätsänderung, weniger als das 2-fache des anfänglichen Leckstroms. TiW-Diffusionsbarriere verhindert Au-Si-Interdiffusion bis >250°C, verifiziert durch Auger-Tiefenprofilierung.
  • TCC: +35ppm/°C über -55°C bis +200°C - Kapazitätsvariation unter ±0,9% über den gesamten Temperaturbereich von 255°C.
  • AuSn-Eutektikum empfohlen für >175°C - Leitfähiger Silber-Epoxidharz akzeptabel bis 175°C; AuSn-Eutektikumlötung (280°C Schmelzpunkt) sorgt für zuverlässige Die-Befestigung mit null Degradation bei 200°C.

Hauptmerkmale

  • Ultra-niedriger Leckstrom: <10nA bei 25°C/100V, <500nA bei 200°C/100V - ideal für Präzisions-Bias-Netzwerke und ladungsempfindliche Schaltungen
  • Isolationswiderstand: ≥10¹⁴ MΩ bei Nennspannung — gewährleistet zuverlässige DC-Blockierung in Hochimpedanzschaltungen
  • Lagertemperatur: -65°C bis +150°C — breiter Nichtbetriebstemperaturbereich unterstützt Logistik und Lagerung in unkontrollierten Umgebungen
  • Hohe Durchschlagsfestigkeit: >250V DWV (250% Nennwert) mit gleichmäßiger Feldverteilung - eliminiert MLCC-Randkonzentrations-Fehlermodi
  • Extreme thermische Beständigkeit: 200°C Dauerbetrieb, 1000-stündige HTOL-Qualifizierung mit weniger als 2% parametrischer Verschiebung
  • SiO2-Dielektrikum-Stabilität: Paraelektrisch mit null ferroelektrischer Alterung, nahezu null dielektrischer Absorption (<0,1%) und linearen C-V-Charakteristiken
  • Qualifiziert für raue Umgebungen: 100% Wafer-Level-Test für Kapazität, Leckstrom und Durchschlag; MSL 1 unbegrenzte Bodenlebensdauer

Elektrische Spezifikationen (T = 25°C, sofern nicht anders angegeben)

Parameter Wert Bedingung
Kapazität 150pF ±10% 1MHz, 1,0Vrms
Nenn-DC-Spannung 100V Dauerbetrieb
Dielektrische Spannungsfestigkeit >250V DC 5 Sek. Haltezeit, 100% Test
Leckstrom @ 25°C <10nA 100V DC
Leckstrom @ 200°C <500nA 100V DC
TCC +35ppm/°C -55°C bis +200°C
Gütefaktor @ 1MHz / @ 1GHz >2000 / >200 Typisch
ESR @ 1GHz <0,1 Ohm De-embedded
Intrinsische Chip-ESL <0,05nH De-embedded
Dielektrische Absorption <0,1% 1kHz
ESD HBM >2kV JESD22-A114, Klasse 2
Dielektrikum Thermisch gewachsenes SiO2, 300nm -
Chip-Abmessungen 0,50 x 0,50 x 0,15mm ±25µm
Betriebstemperatur -55°C bis +200°C Volle parametrische
RoHS Konform EU 2015/863

Typische Anwendungen

  • Bohrloch- und Logging-Werkzeuge (150-200°C Umgebungstemperatur), die DC-Blockierung und Bypass mit stabiler parametrischer Leistung bei Formationstemperaturen erfordern
  • Luft- und Raumfahrt-Triebwerksüberwachungselektronik, die in ungekühlten Triebwerksräumen betrieben wird
  • GaN-on-SiC-Leistungsverstärker-Hochspannungs-Drain-Bias-Entkopplung (28-50V) mit erheblichem Spannungs-Headroom
  • Hochspannungs-DC-DC-Wandler-Ausgangsfilterung, bei der der Leckstrom die Umwandlungseffizienz direkt beeinflusst
  • Industrielle Ofen- und Prozesssteuerungs-Sensorelektronik, die kontinuierlich bei 175-200°C betrieben wird
  • Wissenschaftliche Instrumentierung für Hochtemperatur-Physikexperimente, die Sub-nA-Leckstrom und stabile Kapazität erfordern

Schnellreferenz für die Montage

Die-Befestigung: AuSn-Eutektikumlötung (300-320°C, N2/H2 Schutzgas) für Betrieb >175°C. Leitfähiger Silber-Epoxidharz (Epotek H20E, 120°C/30min) akzeptabel bis 175°C. AuGe- oder AuSi-Vorformen für Anwendungen bei höchsten Temperaturen.

Drahtbonden: 25µm Au thermosonisches Kugelbonden (120-150°C Stufe, 15-35gf Kraft, >6gf Zugfestigkeit). Al-Keilbonden nicht empfohlen für kontinuierlichen Betrieb bei 200°C.

Lagerung: Waffelpackung oder Gel-Pack, vakuumversiegelt mit Stickstoffspülung. MSL 1 unbegrenzte Bodenlebensdauer bei 30°C/85% RH.

Kontaktieren Sie uns noch heute mit Ihren Anforderungen an Spannung, Kapazität und Umgebung. Standard-Evaluierungsmuster mit 150pF 100V werden innerhalb von 2-3 Wochen versandt. Kundenspezifische Werte von 10pF bis 1000pF, Spannungsnennwerte bis 200V und erweiterte Temperaturqualifizierung bis 225°C sind mit einer Prototypen-Vorlaufzeit von 4-6 Wochen erhältlich.