| Merknaam: | Hoan |
| Modelnummer: | HACC472S50V500 |
| MOQ: | 10 stuks |
| Betalingsvoorwaarden: | T/T,L/C,PayPal,Western Union |
De HACC472S50V500 is een enkellaagse MOS-condensator die specifiek is gekarakteriseerd voor toepassingen waar elektrische isolatie, minimale lekstroom en signaalgetrouwheid de dominante prestatievereisten zijn. Nominale capaciteit is 4700pF (4,7nF) bij een nominale werkspanning van 50V DC. Het apparaat gebruikt dezelfde thermisch gegroeide SiO2 diëlektricum en goudmetallisatieproces als de HACC-serie, met de nadruk op het maximaliseren van de isolatieweerstand en het minimaliseren van DC-lekkage over het volledige bedrijfstemperatuurbereik.
MOS-condensator isolatie wordt voornamelijk bepaald door de kwaliteit van de thermische SiO2 diëlektricumlaag en de weerstand van het onderliggende siliciumsubstraat. De HACC472S50V500 bereikt hoge isolatie door drie ontwerpfactoren:
Gemeten isolatieweerstand overschrijdt 10GΩ bij 25°C en 50V DC bias, met een lekstroom typisch onder 5nA bij kamertemperatuur en onder 50nA bij 125°C.
Die Attach: Eutectische goud-tin (AuSn) soldeer biedt het laagste thermische weerstandspad. Gebruik een piek reflow profiel van 320°C met beschermgas (N2/H2) om oxidatie te voorkomen. Zilvergevulde geleidende epoxy is een alternatief voor temperatuurgevoelige substraten; volg het uithardingsschema van de epoxyfabrikant en zorg voor volledige bevochtiging van het gouden oppervlak aan de achterkant.
Draadbonding Best Practices:
ESD Voorzorgsmaatregelen: Klasse 0 HBM gevoeligheid volgens JESD22-A114. Houd geaarde werkplekken, polsbandjes en ioniserende luchtstroom aan tijdens alle assemblage stappen. Bewaar chips in geleidende containers voor gebruik.
| Parameter | Waarde | Testconditie |
| Capaciteit | 4700pF ±10% | 1MHz, 1.0Vrms |
| Capaciteit Tolerantie Opties | ±10% (K), ±5% (J) | — |
| Nominale DC Spanning | 50V | Continue werking |
| Diëlektrische Sterkte | >150V DC | 1 minuut, 25°C |
| Isolatieweerstand | >10GΩ | 50V DC, 25°C |
| Isolatieweerstand @ 125°C | >1GΩ | 50V DC |
| Lekstroom | <5nA | 50V DC, 25°C |
| Lekstroom @ 125°C | <50nA | 50V DC |
| Capaciteitsdichtheid | 400nF/mm² | Typisch |
| TCC (Temperatuurcoëfficiënt) | +35ppm/°C | -55°C tot +125°C |
| Q Factor @ 1MHz | >1500 | Typisch |
| Diëlektricum Type | Thermische SiO2 | — |
| Substraat Weerstand | >1000Ω·cm | Float-zone silicium |
| Chip Afmetingen (L*B*D) | 0.50 * 0.50 * 0.15mm | ±0.025mm tolerantie |
| Top Metallisatie | Au, 2.5µm minimum | — |
| Achterkant Metallisatie | Au, 1.0µm minimum | Die attach compatibel |
| Bedrijfstemperatuur Bereik | -55°C tot +125°C | — |
| Opslagtemperatuur Bereik | -65°C tot +150°C | — |
| RoHS Conformiteit | Ja | EU 2015/863 |
Apparaten worden onderworpen aan 100% DC-probe testen op waferniveau vóór het zagen. Betrouwbaarheidstesten op basis van steekproeven omvatten: high-temperature operating life (HTOL) bij 125°C en 50V bias gedurende 1000 uur, temperatuurcycli (-65°C tot +150°C, 500 cycli per MIL-STD-883 Methode 1010), en 85°C/85%RH gebiased vochtigheidstesten gedurende 500 uur. Neem contact met ons op voor het volledige kwalificatie rapport en lot-specifieke testgegevens.
Om samples aan te vragen, aangepaste capaciteitswaarden te bespreken, of een gedetailleerde toepassingsnotitie over draadbonding optimalisatie te ontvangen, neem contact op met ons verkoopteam voor een offerte.