耐湿性MOSコンデンサ カスタムプロファイル 30V 150pF 屋外無線用単層チップ

カスタムプロファイルMOSコンデンサ HACC151S30V101 150pF 30V 耐湿性 単層チップ 屋外無線用

HACC151S30V101 環境ロバストMOSコンデンサ：カスタム形状と耐湿性 150pF

HACC151S30V101は、150pF ±10%の単層MOSコンデンサで、定格DC電圧は30Vです。HACCシリーズと同じフロートゾーンシリコン基板、熱酸化膜SiO_—誘電体、TiW-Au金属化プラットフォームを共有しています。標準構成のチップ寸法は0.50mm * 0.50mm * 0.15mmですが、最大4:1のアスペクト比のカスタム長方形も可能です。このデバイスは、湿度暴露、熱サイクル、および組み立てプロセスの柔軟性が主要な設計上の考慮事項となる環境での使用が特徴です。

1. カスタムチップ形状：コンデンサと基板レイアウトのマッチング

ハイブリッドマイクロ回路およびマルチチップモジュールでは、チップコンポーネントの配置は、アクティブデバイス、伝送線路、および基板フィーチャー間の利用可能なダイアタッチエリアによって制約されることがよくあります。標準的な正方形のコンデンサチップは、これらのスペースに最適に収まらない場合があり、レイアウトの妥協を余儀なくされます。HACCプラットフォームは、設定可能な形状により、この問題に対処します。

• 長方形フォームファクタ：トップ電極のフォトリソグラフィマスクとダイシングストリートピッチを調整することにより、チップは1:1から4:1の長辺対短辺比で製造できます。静電容量値は、利用可能なチップフットプリント内のトップ電極面積によって独立して設定されます。たとえば、0.30mm * 0.60mmのチップ（アスペクト比2:1）は、標準の0.50mm正方形チップと同じ150pFの静電容量を収容でき、平行伝送線路間の狭いダイアタッチストリップに収まります。
• 縁取り（マージン）電極オプション：銀充填導電性エポキシをダイアタッチに使用するアセンブリでは、チップの下から押し出されたエポキシが側壁を這い上がり、トップ電極と導電性基板を短絡させるリスクがあります。縁取りバリアントは、トップ金電極の周囲に金属化されていないSiO_—マージン（通常25-50μm幅）を組み込んでいます。このセラミックボーダーは物理的なダムとして機能し、エポキシフィレットがアクティブ電極領域に到達するのを防ぎます。トレードオフは、所定のチップサイズでの電極面積のわずかな減少（マージン幅に応じて通常10-20%）ですが、これはターゲット静電容量を維持するためにチップ寸法の比例増加によって補償されます。
• フローティングバックサイドオプション：標準チップは、導電性ダイアタッチ用の完全に金属化された金バックサイドを備えています。シリーズ接続された（フローティング）コンデンサを必要とするアプリケーションでは、信号経路と直列のDCブロックなど、どちらの端子も接地されていない場合、チップはバックサイド金属化なしで供給できます。シリコン基板は、電気端子ではなく高抵抗誘電体サポートとして機能し、両方の接続は別々のトップ電極パッドへのワイヤボンディングによって行われます。
• マルチバリューチップセット：固定チップフットプリントファミリー内で、静電容量はトップ電極面積のスケーリングによって調整できます。0.50mmプラットフォームの標準値には、10pF、22pF、47pF、100pF、150pF、220pFが含まれます。これにより、同一寸法のチップを使用して完全なRFマッチングネットワークまたはバイパスデカップリングセットを組み立てることができ、アセンブリツールとプロセスレシピが簡素化されます。

2. 耐湿性：湿度環境でSiO₂がセラミックおよびポリマー誘電体よりも優れている理由

制御されていない環境で動作する電子部品は、複数の湿気関連の劣化メカニズムに直面します。HACC151S30V101は、その材料システムにより、それらすべてに対して本質的に耐性があります。

• バルク水の吸収—適用外：熱酸化膜SiO_—は、多孔質、粒界、またはマイクロボイドのない完全に高密度のケイ酸ガラスです。水分子（運動直径約0.27nm）は、実用的な関連速度では非晶質SiO_—ネットワークに浸透できません。これに対し、多孔質のセラミック誘電体およびポリマーフィルム（ポリプロピレン、ポリエステル、PPS）は測定可能な量の水を吸収し、実効誘電定数を増加させ、静電容量のドリフトを増加させます。HACCシリーズは、30V DCバイアス下で85℃/85%RHで1000時間後、静電容量シフトが<0.1%を示します。表面リーク—形状による最小化：
• 湿潤条件下では、薄い水の膜が露出した誘電体表面に凝縮し、表面リーク電流の導電経路を形成する可能性があります。セラミックコンデンサでは、誘電体はチップ終端で露出しています。HACC構造では、SiO2_—電気化学的マイグレーション—システムに銀なし：
• 銀パラジウム内部電極を持つセラミックコンデンサは、湿潤条件下でのDCバイアス下での銀イオンマイグレーションの影響を受けやすいです。銀イオンはアノード電極から溶解し、吸着した水分を介して移動し、最終的に短絡を引き起こすカソードに金属デンドライトとして堆積します。HACC金属化システム—TiW、Au、Pt—には銀が含まれていません。金は電気化学的に貴であり、実用的なバイアス湿度条件では移動イオンを形成しません。MSL 1定格：
• J-STD-020によれば、HACC151S30V101は湿気感受性レベル1に分類され、≤30℃/85%RHで無制限のフロアライフを示します。ドライパック保管、リフロー前のベーキング、湿気暴露追跡は不要で、生産環境での在庫管理が簡素化されます。3. 環境認定試験概要

生産ロットは、標準化された環境試験マトリックスを通じて認定されます。以下の結果は、HACCシリーズの典型的なものです。

試験

標準：導電性ウェハパック（2インチ、50または100キャビティ）。オプション：自動真空ピックアップ用ジェルパック、高容量SMT互換アセンブリ用テープ＆リール（8mmキャリア）。すべてのフォーマットはESD安全です。

保管：

• ≤30℃/85%RHで無制限のフロアライフ（MSL 1）。推奨長期保管：乾燥窒素キャビネットまたは乾燥剤付き真空シーリングされた防湿バッグ。主な特徴
• カスタマイズ可能なチップ形状：標準は正方形（0.50mm）、長方形は最大4:1のアスペクト比。導電性エポキシアセンブリ用の縁取り電極オプション。シリーズ接続アプリケーション用のフローティングバックサイドオプション。同じフットプリントファミリー内の複数の静電容量値。
• 優れた耐湿性：バルク水の吸収がない高密度熱酸化膜SiO
• 2。85℃/85%RHで1000時間後、静電容量シフトは<0.1%。銀マイグレーションのリスクなし。MSL 1無制限フロアライフ。

ほぼゼロの寄生インダクタンス：

• 実証済みの環境信頼性：
• 1000時間HTOL、500サイクル温度サイクル、500時間バイアス湿度で認定済み。ストレス後のボンディングプル >5gf、ダイシア >2.5kgf。マルチプロセスアセンブリ：_—電気仕様（T = 25℃、特に記載がない場合）パラメータ
• 値テスト条件静電容量150pF ±10%
• 1MHz、1.0Vrms利用可能な許容差
• ±10% (K)、±5% (J)—

定格DC電圧

長方形チップ：10pF～220pFの範囲内で長さ、幅、静電容量を指定

• 縁取り（マージン）電極：25μmから75μmのマージン幅を指定
• フローティングバックサイド（バックサイド金属なし）
• 0.50mmプラットフォームでの非標準静電容量値（10pF～1000pFの範囲内）
• ジェルパックまたはテープ＆リール（8mmまたは12mmキャリア）パッケージ
• 実現可能性評価、リードタイム見積もり、および見積もりについては、ターゲット仕様とともに営業チームにお問い合わせください。