รายละเอียดสินค้า

Created with Pixso. บ้าน Created with Pixso. สินค้า Created with Pixso.
เครื่องปรับความแรง MOS
Created with Pixso.

เครื่องปรับความหนาแน่นสูงขนาดเล็ก 220pF 30V MOS เครื่องปรับความหนาแน่นความหนาแน่นสูง SLC

เครื่องปรับความหนาแน่นสูงขนาดเล็ก 220pF 30V MOS เครื่องปรับความหนาแน่นความหนาแน่นสูง SLC

ชื่อแบรนด์: Hoan
หมายเลขรุ่น: HACC221S30V120
ขั้นต่ำ: 10 ชิ้น
เงื่อนไขการชำระเงิน: L/C,D/A,D/P,T/T
ข้อมูลรายละเอียด
สถานที่กำเนิด:
มณฑลส่านซีประเทศจีน
ได้รับการรับรอง:
ISO 9001:2015, RoHS, REACH
ความจุ:
220pF ±10% (ใช้ได้ ±5%)
แรงดันไฟฟ้าที่ได้รับการจัดอันดับ:
30V DC
ขนาดชิป:
0.35 x 0.35 x 0.15 มม. (ย่อส่วนพิเศษ)
ความหนาแน่นของความจุไฟฟ้า:
1796pF/ตร.มม
SRF ระดับชิป:
>2GHz (ไม่มีสายเชื่อมต่อ, ยกเลิกการฝัง)
ระบบ SRF (ลวดบอนด์ 0.5 มม.):
>500MHz (สาย Au 25µm เส้นเดียว)
ชิปภายใน ESL:
<0.03nH
อีเอสอาร์ @ 1GHz:
<0.08 โอห์ม
เน้น:

ตัวเก็บประจุ MOS ขนาดเล็ก 220pF 30V

,

ตัวเก็บประจุ MOS ความหนาแน่นสูงระดับเวเฟอร์

,

ตัวเก็บประจุชิป SLC ความเสถียรความถี่สูง

คําอธิบายสินค้า

HACC221S30V120 เครื่องปรับ MOS ความหนาแน่นสูงขนาดเล็ก: 220pF 30V พร้อมความมั่นคงความถี่สูงอย่างพิเศษและการปรับแต่งระดับเวฟเฟอร์

HACC221S30V120 เป็นเครื่องปรับ MOS แบบชั้นเดียว 220pF ± 10% ที่มีค่า 30V DC, ผลิตจากซิลิคอนโซนลอย (> 1000Ω · cm) ด้วยสารดิบ SiO2 ที่เติบโตทางอุณหภูมิ 300nmด้วยรอยเท้าขนาดเล็กมากเพียง 0.35 x 0.35 x 0.15 มิลลิเมตรชิปขนาด 50 มม หน่วยนี้บรรลุความหนาแน่นของความจุในอุตสาหกรรมชั้นนํา 1796pF / mm2 ในขณะที่รักษาความมั่นคงความถี่สูงอย่างพิเศษกับ SRF ระดับชิปที่เกิน 2GHzการผสมโลหะด้านบนของ TiW-Au (2.5μm Au ขั้นต่ํา) และด้านหลังของ TiW-Pt-Au (1.0μm Au ขั้นต่ํา, ป้องกันการกระจาย Pt) ให้การเชื่อมต่อสายที่น่าเชื่อถือและความสอดคล้องทั่วไปสามารถปรับแต่งได้อย่างเต็มที่ ผ่านการออกแบบระดับกระดาน: ความจุ, ความแรงดันการจัดอันดับ, กณิตศาสตร์ die, เหรียญ stack, และการปรับปรุงชุด multi-capacitor ทั้งหมดถูกปรับปรุงให้กับรายละเอียดของคุณ.

1. การออกแบบความหนาแน่นสูงขนาดเล็ก 1796pF / mm2 ใน 0.35mm Footprint

การขับเคลื่อนอย่างไม่หยุดยั้งไปสู่โมดูล RF ที่เล็กๆ น้อย ๆ น้อย ๆ และผสมผสานมากขึ้น ต้องการตัวประกอบที่ให้ความจุสูงสุดในพื้นที่น้อยที่สุดHACC221S30V120 สามารถทําสิ่งนี้ได้ ผ่านการถ่ายภาพลิตโอกราฟีที่ทันสมัย และการผลิตแผ่นแผ่นด้วยความแม่นยํา:

  • 0.35 x 0.35 มิลลิเมตร (0.1225 มิลลิเมตร2)✅ ขนาดเล็ก 51% กว่าตัวประกอบความหนาของ MOS 0.50mm (0.25mm2) ที่เป็นมาตรฐานในอุตสาหกรรมทําให้ความหนาแน่นของช่องทางสูงขึ้นโดยไม่ต้องขยายพื้นที่ตัวนํา.
  • ความหนาแน่นของความจุ 1796pF/mm2220pF ใน 0.1225mm2 ส่งความจุพื้นที่ 2 เท่าของความจุ 100pF / 0.50mm MOS แบบมาตรฐาน (400pF / mm2).ประสบความสําเร็จผ่านการออกแบบช่างอิเล็กทรอดที่ปรับปรุงให้มากที่สุดพื้นที่ตัวประกอบที่ทํางานเป็นส่วนของพื้นที่ทั้งหมดของ die.
  • 0.15 มิลลิเมตร โปรไฟล์ต่ําสุด✅ ความสูงครึ่งหนึ่งของ 0402 MLCC (0.30 มม.) ใส่ในช่องว่างฝาโมดูลแบบปิดปิดและทําให้การประกอบแบบไฮบริด 3 มิติที่สะสมกันได้

2. ความมั่นคงความถี่สูงอย่างพิเศษ SRF > 2GHz สําหรับการใช้งาน mmWave

ในความถี่คลื่นมิลลิเมตร ความสอดคล้องของตัวมันเองจะกลายเป็นตัวจํากัดผลงานที่สําคัญHACC221S30V120 ประสบความมั่นคงระดับความถี่สูงอย่างพิเศษ ผ่านโครงสร้างโคอาเซียลชั้นเดียวและการระดมการผลักดันปรสิต:

  • SRF ระดับชิป: >2GHzการวัดที่ถอดลงในเครื่องยืนยันว่าความสะท้อนของตัวเองอยู่เหนือขอบเขต MLCC แบบปกติ (600-800MHz) และอยู่ในความถี่ไมโครเวฟนี้ได้รับการบรรลุผ่านเส้นทางกระแสปัจจุบันชั้นเดียวโดยไม่มีไฟฟ้าภายใน, ไม่มีช่องทาง, และไม่มีการนําทาง serpentine ปกติการกําจัดกลไก inductance ปรสิตที่จํากัด MLCC SRF ถึง 600-800MHz
  • ระบบ SRF กับสายพันธนาการ 0.5mm: > 500MHzเหมาะสําหรับการใช้งานละเว้น sub-6GHz 5G NR, วงจรดาวเทียม L / S และ Wi-Fi 6E สําหรับความถี่สูงกว่า, สายพันธนาการขนานหรือระบบผลักดันการเชื่อมโยงริบอน SRF มากกว่า 800MHz
  • ชิปภายใน ESL: <0.03nH✅ ต่ํากว่า MLCC ที่มีประสิทธิภาพเท่ากัน 15-20 เท่าในกล่อง 0402 (0.4-0.6nH)ESL ที่ต่ํามากทําให้ตัวประกอบความสามารถรักษาพฤติกรรมความจุ (ความขัดลมลดลงกับความถี่) ผ่านความถี่ที่สูงกว่า MLCC.
  • ESR < 0.08 โอมที่ 1GHz✓ ลดความสูญเสีย I2R ในเครือข่ายที่ตรงกับอุปสรรคในระบบ 5G n77 PA Output Match ให้ได้ 0.3-0.8dB ของความสูญเสียเมื่อเทียบกับ MLCC ที่เทียบเท่า

3. การปรับเปลี่ยนระดับเวฟเฟอร์และการสนับสนุน OEM ✅ การออกแบบตามรายละเอียดของคุณ

HACC221S30V120 ถูกสร้างขึ้นบนแพลตฟอร์ม MOS capacitor ระดับ wafer ที่สามารถปรับแต่งได้ ไม่เหมือนกับผู้จําหน่ายในคัดลอกเท่านั้น เราให้บริการการปรับแต่ง OEM ครบถ้วนจากการผลิต wafer ไปยังการทดสอบสุดท้าย:

  • ค่าความจุแบบจําเพาะ5pF ถึง 1000pF บนแพลตฟอร์ม 0.35 มิลลิเมตร, ด้วยความอดทน ± 5% หรือเข้มกว่า. สามารถตัดเลเซอร์ได้ถึงความละเอียด 0.1pF สําหรับการใช้งานการปรับระดับความแม่นยํา
  • กณิตศาสตร์แบบจําเพาะ:อัตราส่วนด้านสี่เหลี่ยมสูงสุด 41, รูปทรงไม่เรียบร้อย (รูป L, แหวน) สําหรับรอยเท้าวงจรไฮบริดที่ไม่มาตรฐาน และการตั้งค่าชุดหลายตัวประปา (2-8 ช่อง)
  • การทําโลหะตามสั่ง:ด้านบน: TiW-Au (มาตรฐาน), Al-metallized, หรือ AuSn การวางวางก่อน ด้านหลัง: TiW-Pt-Au (มาตรฐาน), Au-only, AuSn, AuGe, หรือ AuSi สําหรับกระบวนการประกอบการเฉพาะเจาะจง
  • ตัวเลือกการจัดส่งระดับแผ่น:โวฟเฟอร์เต็ม (ตรวจสอบ, น้ําตาล, แผนที่), โวฟเฟอร์ตัดบนกรอบ, กระจกเจล-แพคที่มีการปล่อยระยะว่าง, กระจกวาวเฟลที่มีแผนที่ KGD, หรือเทปและรีลสําหรับการประกอบอัตโนมัติ
  • การทดสอบระดับโฟร์ 100%:ทุกตัวเจาะผ่านการทดสอบพารามิทริก DC (ความจุ, การรั่วไหล, DWV) และ RF S-parameter characterization จาก 100MHz ถึง 20GHz แผนที่เวฟเฟอร์ KGD ดิจิตอลและการควบคุมกระบวนการ SPC (CpK > 1.67) จําหน่ายต่อชุด.
  • ความต่อเนื่องจากต้นแบบสู่การผลิตกระบวนการผลิตแผ่นขีดเหล็กเดียวกัน โปรแกรมการทดสอบเดียวกัน มาตรฐานคุณภาพเดียวกัน จากต้นแบบ (MOQ 10 ชิ้น) ผ่านการผลิตจํานวนมาก ไม่มีการย้ายกระบวนการ ไม่มีการปรับปรุงคุณภาพ

ลักษณะสําคัญ

  • ขนาดเล็ก ความหนาแน่นสูง:0.35mm footprint ความหนาแน่น 1796pF/mm2 โปรไฟล์ 0.15mm ✓ สามารถลดพื้นที่ได้ 51% เทียบกับตัวประกอบความหนาแน่น MOS ขนาด 0.50mm
  • ความมั่นคงระดับความถี่สูง>2GHz ชิป SRF, <0.03nH ESL, <0.08 Ohm ESR
  • การปรับเปลี่ยนระดับเวฟเฟอร์:ความจุที่กําหนดเอง ความแรงดัน, กณิตศาสตร์, การโลหะ, และการจัดตั้ง array จากต้นแบบสู่ปริมาตร
  • การสนับสนุน OEM อย่างเต็มที่การร่วมมือในการออกแบบจากรายละเอียดผ่านการรับรอง การทดสอบระดับโวฟเฟอร์ 100% ด้วยแผนที่โวฟเฟอร์ KGD และข้อมูล SPC ต่อชุด
  • SiO2 ความมั่นคงทางไฟฟ้า:ปาราไฟฟ้าที่ไม่มีการเก่าไฟฟ้าไฟฟ้า, ไม่มีการลดความจุของ DC bias และ +35ppm/°C TCC

รายละเอียดไฟฟ้า (T = 25°C เว้นแต่ระบุไว้)

ปริมาตร มูลค่า สภาพ
ความจุ 220pF ± 10% 1MHz 1.0Vrms
ความดันแบบเรียงลําดับ DC 30V ต่อเนื่อง
ความดันทนทานแบบแบบดียิเลคทริก > 75V (250% จํานวน) 5 วินาที ทดสอบ 100%
SRF ระดับชิป > 2GHz ไม่มีสายเชื่อม, ถอนลง
ชิปภายใน ESL < 0.03nH กําจัดการจําแนก
ระบบ SRF (0.5mm สาย) > 500MHz สาย Au 25μm เดี่ยว
การรั่วไหล @ 25°C < 10nA 30V DC
การรั่วไหล @ 125°C < 100nA 30V DC
ความต้านทานต่อการปิด ≥ 104 MΩ ความดันเฉพาะตัว DC
ปัจจัยการระบาย ≤0.15% 1kHz 1.0Vrms
ความแข็งแรงในการดึงของสายใย > 6gf 25μm Au (MIL-STD-883)
อุณหภูมิในการเก็บ -65°C ถึง +150°C -
ESR @ 1GHz < 0.08 โอม แบบปกติ
Q Factor @ 1MHz / @ 1 GHz >2000 / >300 แบบปกติ
ความรั่วไหล @ 25°C / @ 125°C < 10nA / < 100nA 30V DC
TCC +35ppm/°C -55°C ถึง +125°C
ความหนาแน่นของความจุ 1796pF/mm2 220pF ใน 0.1225mm2
ไดเอเลคทริก SiO2 ภาพร้อน 300nm -
ขนาดชิป 0.35 x 0.35 x 0.15 มิลลิเมตร ± 15μm
ด้านบน/ด้านหลัง การโลหะ TiW-Au 2.5μm / TiW-Pt-Au 1.0μm -
อุณหภูมิการทํางาน -55°C ถึง +125°C ปริมาตรเต็ม
ความรู้สึกต่อความชื้น MSL 1 J-STD-020
RoHS สอดคล้อง ยูโรป 2015/863

การใช้งานทั่วไป

  • 5G FR2 mmWave phased-array beamformer tile ที่ต้องการความหนาแน่นของช่องทางสูงสุดและชิป SRF > 2GHz สําหรับการเลี่ยงและเชื่อมต่อไมโครเวฟ
  • ภาระประโยชน์ในการสื่อสารทางดาวเทียมหลายช่องทาง (LEO/MEO) ที่มีพื้นที่ใช้งานน้อยลง 51% ทําให้มีจํานวนช่องทาง 2 เท่าต่อพื้นที่พนักงาน
  • วงจรไมโครไฮบริดความหนาแน่นสูงที่บูรณาการคอนเดเซนเตอร์ระหว่าง GaAs/GaN MMICs ที่ห่างกันใกล้
  • เครือข่าย MMIC bias radar สําหรับรถยนต์ที่ต้องการพฤติกรรมความจุที่เกือบสมบูรณ์แบบ มากกว่าขอบเขต MLCC
  • เครื่องรับสัญญาณแสงความเร็วสูง (100G/400G/800G) ที่มีโปรไฟล์ 0.15 มิลลิเมตรเข้ากับช่องว่าง TOSA/ROSA
  • แอปพลิเคชั่นแบบชุดหลายตัวประกอบที่กําหนดเองที่ความยืดหยุ่นในการออกแบบระดับเวฟเฟอร์ทําให้การแก้ไขชิปเดียวสามารถแทนส่วนประกอบที่แยกหลายส่วนได้

OEM การปรับแต่งและการประกอบความหมายรวดเร็ว

ตัดต่อ:AuSn เซลด eutetic (300-320 °C, N2/H2) สําหรับการดึงดูดพื้นที่ต่ําสุด.

สายเชื่อม:18μm หรือ 25μm Au การผูกพันลูกบอล thermosonic (ระยะ 120-150 ° C, ความแรงดึง > 6gf) สําหรับการปรับปรุง SRF ใช้พันธะคู่ปานกลางสองตัวหรือริบบอน Au ขนาด 25μm x 75μm

การปรับเปลี่ยนระดับเวฟเฟอร์:ติดต่อทีม OEM ของเราด้วยความจุที่เป้าหมาย ความแรงดัน กณิตศาสตร์ die การโลหะและความต้องการรูปแบบการจัดส่งรุ่นแรกส่งภายใน 3-4 สัปดาห์ พร้อมข้อมูลการทดสอบพารามิตรครบถ้วนและแผนที่โวฟเวอร์ KGD.

การเก็บรักษา:แพ็ควอฟเฟิล, แพ็คเจล, หรือระดับวอฟเฟอร์ตามรายละเอียดของลูกค้า MSL 1 อายุพื้นไม่จํากัดที่ 30 °C / 85% RH

ติดต่อเราในวันนี้เพื่อหารือความต้องการของตัวประกอบความหนาแน่นสูงขนาดเล็กของคุณ ตัวอย่างการประเมินแบบมาตรฐาน 220pF 0.35 มม จะส่งภายใน 2-3 สัปดาห์การออกแบบระดับกระดานแบบกําหนดเองที่มีการสนับสนุน OEM ครบถ้วนพร้อมเวลานําต้นแบบ 3-4 สัปดาห์.