| Marchio: | Hoan |
| Numero di modello: | HALT40005 |
| MOQ: | 10 pezzi |
| Termini di pagamento: | L/C,D/A,D/P,T/T,Western Union |
| Capacità di fornitura: | 50000 pezzi al mese |
In una specifica di bias tee commerciale, la perdita di inserzione è tipicamente quotata come un singolo numero—<1 dB, <2 dB, e così via. Ciò che questo numero nasconde è la struttura nel dominio della frequenza della perdita. Un choke che introduce una perdita piatta di 0,5 dB su una banda da 50 MHz a 40 GHz è elettricamente benigno: l'equalizzatore del sistema può compensare con un semplice aggiustamento del guadagno. Un choke che introduce una perdita variabile tra 0,1 dB e 0,6 dB con ripple dipendente dalla frequenza—tale struttura non può essere equalizzata. Diventa una distorsione di ampiezza deterministica che chiude il diagramma a occhio.
Il HALT40005 è progettato per minimizzare questa struttura dipendente dalla frequenza. Nell'intervallo nominale da 10 MHz a 20 GHz, il contributo S21 misurato dal choke non è semplicemente al di sotto di una soglia—è piatto, senza caratteristiche risonanti al di sopra del rumore di fondo di misurazione dell'impostazione VNA calibrata TRL. Questa piattezza è una conseguenza dell'avvolgimento conico rastremato: poiché la capacità parassita è distribuita lungo la rastremazione meccanica anziché concentrata in nodi discreti tra spire, non esiste una frequenza in cui la risonanza LC del choke stesso carichi bruscamente la linea di trasmissione.
Oltre i 20 GHz e fino al limite strumentale completo di 40,0 GHz, la piattezza S21 è mantenuta; il fattore limitante diventa la parassiticità del fixture di test—capacità del pad, discontinuità di lancio, conversione di modo del connettore—piuttosto che qualsiasi comportamento intrinseco dell'avvolgimento del choke stesso. Il file Touchstone .s2p fornito con ogni HALT40005 cattura il comportamento completo a due porte in modo che i progettisti di sistema possano verificare questa piattezza nel loro specifico ambiente di simulazione del circuito.
Avvolgere un induttore da 550 nH con un diametro di filo di 0,05 mm è un'operazione di ingegneria di precisione. La tensione del filo durante l'avvolgimento deve essere controllata con una precisione di millinewton: una tensione troppo bassa produce una bobina allentata e meccanicamente instabile; una tensione troppo alta allunga il rame oltre il suo limite elastico, aumentando permanentemente il DCR e alterando la geometria rastremata. Il posizionamento delle spire deve essere ripetibile entro tolleranze di micron singoli per preservare il profilo di capacità distribuita progettato. E i fili volanti devono uscire dall'avvolgimento sull'asse per un allineamento coerente con la saldatura a cuneo automatizzata.
Hoan raggiunge queste tolleranze attraverso stazioni di avvolgimento guidate otticamente e a circuito chiuso con ispezione ottica automatizzata al 100%:
I dati di controllo statistico del processo a livello di lotto sono archiviati, con CpK superiore a 1,67 per tutti i parametri geometrici critici. Test VNA su campioni per lotto su un fixture microstrip caratterizzato fornisce una verifica continua della conformità SRF, perdita di inserzione e isolamento.
| Modalità di stress | Protocollo di test | Risultato |
|---|---|---|
| Cicli termici | -55°C a +125°C, 1000 transizioni, 15 min di permanenza | Induttanza entro ±5% dell'iniziale; nessuna frattura (nucleo d'aria = nessuna interfaccia con disadattamento CTE) |
| HTOL (con polarizzazione) | +125°C ambiente, 200 mA continui, 1000 h | Variazione DCR <2%; resistenza dielettrica del poliimmide preservata |
| Vibrazione casuale | MIL-STD-202 Metodo 204, Condizione D | Nessuna banda laterale di rumore di fase indotta meccanicamente; punto epossidico verificato efficace |
| Shock meccanico | MIL-STD-202 Metodo 213, picco 1500 g, 0,5 ms | Geometria dell'avvolgimento intatta; attacco del conduttore verificato post-impatto |
| Calore umido + polarizzazione | 85°C / 85% UR, 200 mA DC, 1000 h | Finitura oro/stagno dei conduttori priva di corrosione; nessuna degradazione del DCR |
| Finestra di frequenza | Perdita di inserzione passante | Reiezione porta DC-RF | Note |
|---|---|---|---|
| 10–500 MHz | Inferiore a 0,15 dB | Blocco reattivo molto elevato | Banda di transizione; reattanza del choke in rapida crescita |
| 10 MHz–20 GHz | Piatto; nessun calo discreto S21 | Superiore a 1,5 kΩ | Banda nominale per bias tee a banda larga; qualificato per transceiver per telecomunicazioni |
| 10 MHz–40 GHz | Piatto; il rumore di fondo dello strumento domina sopra i 25 GHz | Schermatura mantenuta fino alla massima estensione | Capacità mmWave verificata; il layout del PCB è il fattore limitante sopra i 30 GHz |
| Attributo | Valore | Contesto |
|---|---|---|
| Codice modello | HALT40005 | — |
| Stile di avvolgimento | Conico a nucleo d'aria; doppi conduttori volanti dritti | — |
| Induttanza nominale | 550 nH ±20% | 10 MHz, 0,1 Vrms, 25°C |
| Frequenza di auto-risonanza | Oltre 40,0 GHz | Impedenza piatta; nessun picco LC discreto osservato |
| Intervallo di frequenza nominale | 0,05–40,0 GHz | Specificato per duty di bias-tee e decoupling |
| Intervallo testato su fixture | 0,01–40,0 GHz | Misurazione microstrip calibrata TRL |
| Capacità di polarizzazione DC | 200 mA | ΔT limitato a ≤15°C |
| Calibro alternativo | 0,08 mm (personalizzato) | Resistenza inferiore; larghezza di banda superiore ridotta |
| Specifiche del filo | 50 µm OFC, smalto poliimmide | Terminazioni placcate oro su stagno |
| Lunghezza fisica | 3,0 mm | Lungo l'asse di avvolgimento |
| Temperatura operativa | -55°C a +125°C | Classificazione per ambienti industriali e strategici |
| Condizioni di stoccaggio | 20–25°C, 40–60% UR | Waffle pack; camera bianca; 12 mesi di shelf life |
| Metodo di montaggio | Conduttori volanti saldati + punto epossidico | Compatibile SAC305 / AuSn / PbSn; ≤2 s @ 280–320°C |
| Supporto modello EM | .s2p Touchstone, 10 MHz–40 GHz | 201 punti; de-embedded TRL all'interfaccia del conduttore |
D: In che modo l'HALT40005 si differenzia dalle altre varianti da 550 nH?
R: Tutti gli induttori conici da 550 nH della serie HALT40005 condividono lo stesso progetto elettrico e sono prodotti secondo le stesse specifiche. La variante HALT40005 documenta specificamente la piattezza della perdita di inserzione, l'elevata perdita di ritorno e i dati SPC a livello di lotto che supportano la qualifica per telecomunicazioni e aerospaziale ad alta affidabilità. Se il tuo programma richiede dati di controllo statistico del processo, rapporti di qualifica ambientale e caratterizzazione dettagliata dei parametri S, il pacchetto di documentazione HALT40005 è la scelta appropriata.
D: Il nostro progetto opera a una temperatura ambiente massima di +85°C all'interno del modulo. Dobbiamo ridurre la corrente nominale di 200 mA?
R: A 200 mA e +85°C ambiente, la temperatura dell'avvolgimento è di circa 100°C—ben all'interno della classificazione continua di 200°C dell'isolamento in poliimmide. Non è richiesta alcuna riduzione della corrente a questo punto operativo. I 200 mA completi sono disponibili nell'intero intervallo di temperatura ambiente specificato da -55°C a +125°C.
D: Quale formato di parametri S viene fornito e come viene de-embedded?
R: I dati vengono forniti come file Touchstone v1 standard a due porte .s2p con 201 punti di frequenza equispaziati linearmente da 10 MHz a 40 GHz. Il piano di riferimento viene de-embedded all'interfaccia di saldatura conduttore-pad del componente utilizzando standard di calibrazione thru-reflect-line (TRL) fabbricati sullo stesso substrato microstrip. Questo cattura il comportamento intrinseco del componente, escludendo il contributo del fixture di test. Il file viene importato direttamente in Keysight ADS, Ansys HFSS e Cadence AWR Microwave Office come blocco dati di parametri S a due porte.