Подробная информация о продукции

Created with Pixso. Дом Created with Pixso. Продукты Created with Pixso.
Конденсаторы MOS
Created with Pixso.

Контроль рассеяния фононов МОП-конденсаторы 220пФ 50В однослойные чиповые для высокомощных РЧ

Контроль рассеяния фононов МОП-конденсаторы 220пФ 50В однослойные чиповые для высокомощных РЧ

Название бренда: Hoan
Номер модели: ХАСС221С50В300
минимальный заказ: 10 шт.
Условия оплаты: Т/Т,Л/К,Д/А,Д/П
Детальная информация
Место происхождения:
Шэньси, Китай
Сертификация:
ISO 9001:2015, RoHS
Размеры чипа:
0,50 х 0,50 х 0,15 мм
Топ Металлизация:
TiW + Au, 2,5 мкм мин.
Тип монтажа:
Крепление проволочной/эвтектической матрицы
Рабочая температура:
от -55°С до +125°С
РоХС:
Соответствует (ЕС 2015/863)
Кастомизация:
Емкость 10пФ-1000пФ, геометрия до 4:1, окантовочный электрод, плавающая задняя сторона
Выделить:

MOS конденсатор 220pF высокомощный RF

,

Однослойный чип МОП-конденсатор

,

Конденсатор MOS 50В с гарантией

Характер продукции

HACC221S50V300 Конденсатор MOS с управлением рассеянием фононов — 220 пФ, 50 В, однослойный ВЧ-чип


Обзор продукта: HACC221S50V300 представляет собой однослойный металлооксидный полупроводниковый (MOS) конденсатор с номинальной емкостью 220 пФ ±10% и рабочим напряжением постоянного тока 50 В. Он изготовлен на основе кремниевой подложки с высокой проводимостью, выращенной методом зонной плавки, с диэлектриком из термического диоксида кремния (SiO2) толщиной 300 нм и металлизационным стеком TiW-Au. Его отличительной особенностью является управление рассеянием фононов — диэлектрик, подложка и металлические интерфейсы спроектированы таким образом, чтобы тепло, генерируемое ВЧ-потерями, эффективно отводилось, а не накапливалось в горячей точке. Это подходит для ВЧ-каскадов высокой мощности, где тепловая стабильность ограничивает производительность.


Что такое управление рассеянием фононов?


В твердом теле тепло переносится фононами, которые являются квантованными колебаниями решетки. Любая особенность, прерывающая движение фонона — границы зерен, кристаллические дефекты, шероховатые или химически смешанные интерфейсы — рассеивает его и снижает теплопроводность, поэтому тепло остается там, где оно было сгенерировано. Управление рассеянием фононов означает проектирование диэлектрических, подложечных и металлизационных интерфейсов для обеспечения эффективной транспортировки фононов: монокристаллический кремний, выращенный методом зонной плавки, имеет длинный средний свободный пробег фононов (среднее расстояние, которое фонон проходит до рассеяния), диэлектрик представляет собой плотный термический оксид с минимальной плотностью дефектов, а толстая золотая металлизация обеспечивает низкоомный тепловой путь к монтажной поверхности.


Инженерные примечания: Как построен тепловой путь


  • Подложка: монокристаллический кремний, выращенный методом зонной плавки, с непрерывной решеткой и высокой теплопроводностью, поэтому тепло рассеивается от диэлектрика по большому объему.
  • Диэлектрик: плотный термический SiO2, выращенный при высокой температуре, с низкой плотностью дефектов и пустот и, следовательно, с небольшим количеством внутренних центров рассеяния.
  • Интерфейсы: тонкие, полностью связанные адгезионные слои TiW избегают шероховатого, частично связанного интерфейса, который рассеивает фононы и препятствует потоку тепла.
  • Металлизация: толстый верхний электрод из Au и полноразмерный нижний электрод из Au образуют широкий, низкоомный тепловой путь от диэлектрика к монтажной поверхности.
  • Низкий ESR: уменьшает количество мощности сигнала, преобразуемой в тепло в первую очередь.


Ключевые характеристики (T = 25°C, если не указано иное)


Параметр Значение Условие
Емкость 220 пФ ±10% 1 МГц, 1,0 В среднеквадр.
Номинальное напряжение постоянного тока 50 В Непрерывное
Диэлектрическая прочность >125 В постоянного тока 1 минута, 25°C
ESR на частоте 1 ГГц <0,08 Ω Типичное
Коэффициент добротности на частоте 1 МГц >2000 Типичное
Собственная индуктивность чипа ESL <0,05 нГн Де-эмбеддинг из S-параметров
Подложка Кремний, выращенный методом зонной плавки, >1000 Ω·см Монокристаллический, высокая теплопроводность
Диэлектрик Термический SiO2, 300 нм Низкая плотность дефектов
ТКК +35 ppm/°C -55°C до +125°C
Ток утечки <10 нА 50 В постоянного тока, 25°C
Размеры чипа 0,50 × 0,50 × 0,15 мм ±0,025 мм
Верхняя металлизация TiW + Au, мин. 2,5 мкм Подходит для проволочных выводов, теплопроводящая
Нижняя металлизация TiW-Pt-Au, мин. 1,0 мкм Au Полноразмерный тепловой путь
Рабочая температура -55°C до +125°C —
RoHS Соответствует EU 2015/863


Типичные области применения


  • Согласование и развязка выходов ВЧ-усилителей высокой мощности
  • ВЧ-модули питания, требующие стабильных параметров под нагрузкой
  • Источники ВЧ-нагрева и плазменного возбуждения с твердотельным исполнением
  • Фильтры, сумматоры и согласующие цепи высокой мощности
  • Промышленные ВЧ-источники питания


Контроль рассеяния фононов МОП-конденсаторы 220пФ 50В однослойные чиповые для высокомощных РЧ