제품 세부 정보

Created with Pixso. 집 Created with Pixso. 제품 Created with Pixso.
MOS 콘덴시터
Created with Pixso.

초소형 0.40mm 베어 다이 방사선 경화 47pF 50V MOS 커패시터 제로 압전 노이즈 SLC

초소형 0.40mm 베어 다이 방사선 경화 47pF 50V MOS 커패시터 제로 압전 노이즈 SLC

브랜드 이름: Hoan
모델 번호: HACC470S50V160
MOQ: 10개
지불 조건: L/C,D/A,D/P,T/T,웨스턴 유니온
상세 정보
원래 장소:
중국 산시성
인증:
ISO 9001:2015
정전 용량:
47pF ±10%(±5% 사용 가능)
정격전압:
50V DC
유전체 내전압:
>125V(250% 정격)
TID 경도:
ESCC 22900당 >100krad(Si)
칩 크기:
0.40 × 0.40 × 0.15mm(16밀 × 16밀 × 6밀)
최고 금속화:
TiW-Au, ≥2.5μm Au
후면 금속화:
TiW-Pt-Au, ≥1.0μm Au(Pt 확산 장벽)
유전체 유형:
열 SiO2, 300nm(무정형, MIL-STD-202 방법 204에 따라 무압전 검증됨)
Q 인자 @ 1MHz:
>2000
ESR @ 1GHz:
<0.1옴
내장 칩 ESL:
<0.05nH
TCC:
0 ±30ppm/°C(-55°C ~ +125°C)
누설 전류 @ 25°C:
50V DC에서 <10nA
작동 온도:
-55°C ~ +125°C
장착 유형:
와이어 본딩 가능/AuSn 공융 또는 전도성 에폭시 다이 부착
습기 민감성:
MSL 1(J-STD-020에 따라 바닥 수명 무제한)
면역력 보기:
면역 - 래치업 경로 없음, SEU 감지 노드 없음
방사선 시험 표준:
ESCC 22900(TID), MIL-STD-883 방법 1019
방사선 시험 표준:
ESCC 22900(TID)
강조하다:

0.40mm 베어 다이 MOS 커패시터

,

방사선 경화 47pF 50V 커패시터

,

제로 압전 노이즈 SLC 커패시터

제품 설명

HACC470S50V160 초소량 방사능 경화 MOS 콘덴시터 47pF 50V 제로 피에조 전기 소음

의HACC470S50V16050V DC로 등급된 47pF ±10% 단층 MOS 콘덴시터로, 300nm 열성 성장 amorphous SiO2 다이전릭과 고 저항성 float-zone 실리콘 (>1000 Ω·cm) 으로 제조된다.초소형 발자국으로0.40 * 0.40 * 0.15mm (16mil * 16mil * 6mil)이 장치는 가장 극한의 공간에 제한된 RF 하이브리드 마이크로회로, 단계적 배열 빔 포머 타일,그리고 위성 유료 화물 모듈에서 모든 네곱 미크론의 운반자 부동산은 중요합니다.

1. 초소 0.40mm 발자국 & 저 프로필 맨 다이

0.40 * 0.40mm에서 HACC470S50V160은 표준 0.50mm MOS 콘덴서 발자국 (0.25mm2) 에 비해 운반자 면적의 0.16mm2만을 차지합니다.15mm (6mil) 초저 프로필은 표준 0402 MLCC의 높이의 절반입니다 (0.30mm 프로필) 이고 가장 튼튼한 허메틱 모듈 뚜?? 공백 안에 들어갑니다.이 극단적인 소형화는 단일 계층 MOS 플랫폼에서 고급 광 리토그래피 전극 정의를 통해 달성됩니다.콤팩트 크기에 불구하고, 2.5μm 최소 금 톱 전극은 > 6gf 당기 강도 (25μm Au 와이어, 열음 공 결합) 를 가진 신뢰할 수있는 와이어 결합 패드를 제공합니다.그리고 상단 세라믹 경계 마진은 자동화 된 와이어 붕어 비전 시스템에 대한 명확한 광적 참조를 제공합니다.전체 둘레 미 금속화 마진은 통합 된 세라믹 특징이며 적용 된 코팅이 아니며 긁히거나 용해되거나 열 분해 될 수 없습니다.

2제로 피에조 전기적 소음 amorphous SiO2 다이전릭

콘덴서에서의 피에조 전기적 소음은 진동에 노출된 전자제품의 잘 문서화 된 장애 메커니즘입니다.기계적 스트레스는 직접적인 피에조 전기적 효과 (스트레인 → 양극화) 를 통해 전압을 유발합니다., 용량을 조절하고 민감한 RF 경로에 가짜 신호를 도입합니다. HACC470S50V160은 amorphous SiO2 다이 일렉트릭을 통해 재료 수준에서이 메커니즘을 제거합니다.

  • 피에조 전기적 성질이 없습니다.피에조전력은 비중심 대칭성 결정 구조를 필요로 합니다.무형 SiO2는 장거리 결정학적 순서가 완전히 부족합니다. 무형 실리카의 무작위 원자 네트워크는 피에조 전기 반응에 필요한 대칭 조건을 만족시킬 수 없습니다..
  • 제로 페로 전기 영역:X7R/X5R MLCC의 바륨 티타나트 (BaTiO3) 와 달리, SiO2는 철전기 구성 요소가 없습니다. 도메인 벽 움직임이 없다는 것은 기계-전기 결합이 없다는 것을 의미합니다.그리고 마이크 잡음 피커는 0입니다.
  • 진동 테스트 확인:IEC 60749 진동 테스트 방법에 따라 HACC470S50V160은 10g 최고 가속, 20Hz ∼ 2kHz 스파이프에서 기기 소음 바닥 이상 측정 가능한 출력을 생성하지 않습니다.이것은 직접 측정 결과입니다.이론적인 예측이 아닙니다.
  • 전기 경축 비교:열 SiO2의 전압 경축 계수는 10−22 m2/V2 이하이며, BaTiO3 기반의 다이렉트릭보다 약 100만 배 더 작다 (≈10−16 m2/V2).

3방사능 경화 ′′> 100 krad ((Si) TID ESCC 22900 당

총 이온화 복용량 (TID) 방사선은 인터페이스 함정 생성 및 고정 산화물 전하 축적을 통해 표준 MOS 구조를 파괴하여 임계 전압을 전환하고 용량 이동을 유발합니다.HACC470S50V160는 방사능 강화 nitrided SiO2 게이트 옥산 포뮬레이션을 사용하여 이러한 영향을 최소화하도록 특별히 설계:

  • TID 경도는 > 100 krad ((Si):우주 용량의 수동 부품에 대한 ESCC 22900 기본 사양에 따라 검증되었습니다. 방사선 후 용량 변동은 최대 TID에서 5% 미만 유지됩니다.
  • 방사선 후 굽기 안정성:< 1% 추가 용량 변화 168 시간 후 100°C 굽기, 안정적인 산화물 함정 비활성화를 확인합니다.
  • 단일 이벤트 효과 (SEE):두 개의 단말기를 가진 수동 장치로서, MOS 콘덴시터는 잠금 경로가 없으며, SEU 민감한 저장 노드도 없으며, 단일 이벤트 게이트 파열 (SEGR) 은 300nm 다이 일렉트릭 두께로 인해 방지됩니다.SEE 면역은 설계에 의해 검증됩니다. 표본 검사를 통해 검증되지 않습니다. 전체 롯에 대한 보장된 면역을 제공합니다..
  • 방사성 안정적 용량:COG/NPO 패라 일렉트릭 디엘렉트릭은 TCC가 0 ±30 ppm/°C로 내재적으로 방사능 안정적입니다. 방사선 아래 용량 변동을 일으키는 철 전기 영역 파괴 메커니즘이 존재하지 않습니다.

4전기적 사양 (T = 25°C 표시되지 않는 한)

매개 변수 가치 조건
용량 47pF ±10% 1MHz, 1.0Vrms
사용 가능한 허용량 ±10% (K), ±5% (J) ∙
정류압 등급 50V 연속
다이 일렉트릭 저항 전압 > 125V (>2.5* 등급) 5초 지속, 100% 테스트
TID 단단함 >100 krad ((Si) ESCC 22900
Q 요인 1MHz / 1GHz >2000 / >200 전형적
ESR @ 1GHz <0.1 Ω 배열되지 않은 것
내부 칩 ESL <0.05nH S-패라미터에서 제거
누출점 @ 25°C / @ 125°C <10nA / <100nA 50V DC
TCC 0 ±30ppm/°C -55°C ~ +125°C
피에조 전기 출력 소음 바닥 이하 10g, 20Hz~2kHz 스파이
다이렉트릭 열성 SiO2, 300nm 아모르프, 피에조 전기 0
기판 떠있는 구역 Si, > 1000 Ω·cm ∙
칩 크기 00.40 * 0.40 * 0.15mm ±15μm 용도
최고 금속화 TiW-Au, 2.5μm min Au ∙
뒷면 금속화 TiW-Pt-Au, 1.0μm min Au Ag 에포시 (Ag epoxy) 를 위한 Pt 장벽
작동 / 저장 온도 -55~+125°C / -65~+150°C ∙
RoHS 준수 (EU 2015/863) IEC 61249-2-21에 따라 하로겐이 없는

5. 조립 빠른 참조

  • 다이 애착:AuSn 유테크틱 용매 (300~320°C, N2/H2) 또는 전도성 Ag 에포시 (Epotek H20E, 120°C/30min). Pt 뒷면 장벽은 보편적 호환성을 보장합니다.
  • 와이어 결합:18μm 또는 25μm Au 열음 공 결합 (120~150°C 단계, 15~35gf 힘, 전형적인 당기 힘>6gf). 세라믹 마진은 시각 정렬 참조를 제공합니다.
  • 보관:와플 팩 또는 젤 팩, 질소 캐비닛 20~25°C, 40~60% RH. MSL 1 무제한 바닥 수명.

6전형적인 응용 프로그램

  • LEO/MEO/GEO 위성 운용량 DC 차단 및 RF 우회
  • TID > 100 krad ((Si) 를 요구하고 기계적 소음 감수성이 0인 깊은 우주 탐사 RF 서브 시스템
  • 방사선 환경 하이브리드 마이크로 회로 0.40mm 발자국이 가까운 거리에 있는 GaAs/GaN MMIC 간의 통합을 가능하게 하는 경우
  • 동시 진동과 방사선 노출 아래에서 작동하는 높은 신뢰성 항공기 RF 프론트엔드
  • 과학 기기 0 피에조 전력 출력과 방사능 안정적 용량을 필요로 하는 전하에 민감한 사전 증폭기

연락해 주세요전체 S-파라미터 데이터 (120GHz) 를 가진 평가 샘플의 경우, ESCC 22900에 따른 TID 방사선 테스트 보고, IEC 60749에 따른 진동 테스트 데이터 또는 0에 대한 사용자 정의 용량 값40mm 초소형 플랫폼.